[發明專利]一種基于查表補償技術的近載頻相位噪聲修正裝置

有效

• 申請號: 201310449775.2
• 申請日: 2013-09-27
• 公開（公告）號: CN103472319A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 閻棟梁;柳丹;韓紅;夏振華
• 申請（專利權）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: G01R29/26
• 分類號: G01R29/26
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 張文祎

技術領域

本發明涉及一種基于查表補償技術的近載頻相位噪聲修正裝置，適用于各種頻率源的相位噪聲測量。

背景技術

目前市場上有很多相位噪聲測量裝置，例如HP3047A、HP3048A、E5500系列及PN9000等。這些裝置的組成主要包括參考源、檢相器、鎖相環路、低噪聲放大器、數據采集器和計算機。

由于在測量頻率源的相位噪聲時，這些裝置均采用相位檢波器法，采用鎖相環路保持參考源和待測源在相位上正交鎖定，而鎖相環路對近載頻的相位噪聲具有一定的抑制作用，要精確的測量近載頻的相位噪聲特性，就必須在測量結果中對環路的抑制特性進行修正補償。以上這些裝置通常采用的方法是將白噪聲源注入到鎖相環路中，然后通過實測環路的抑制特性曲線來對結果進行補償，這種方法的缺點有兩個方面，其一是由于在測量近載頻相位噪聲時，要求采樣的分辨力較高，所以采樣頻率較低，采樣數據量較大，平均次數較多，測量過程緩慢，而實測環路的抑制特性曲線需要的平均次數更多，使得整個的補償過程相當冗長。其二是在實際測量過程中，相位噪聲測量裝置根據不同的參考源的壓控特性，需要選擇不同的適應環路，在環路特性不理想的情況下，需要對環路進行調整，每一次的調整過程都需要重復測量環路的抑制特性曲線，這使得在測量壓控特性不佳的待測源時，測量過程非常緩慢。所以這種方法不利于快速測量，尤其是在頻率源的研制調試過程中，這種方法的使用就顯得尤為繁瑣。

由于近載頻相位噪聲特性是各種低噪聲頻率源的關鍵指標，所以需要精確的修正補償由鎖相環路帶來的抑制作用，使之能夠滿足快速測量需求。

發明內容

針對以上現有技術的不足，本發明提供一種基于查表補償技術的近載頻相位噪聲修正裝置，以解決各種頻率源的近載頻相位噪聲的快速測量問題：1、目前的近載頻相位噪聲的修正補償技術的速度相當緩慢，不利于快速測量；2、環路調整過程中的環路特性的測量過程緩慢，使得整個測量過程冗長。

本發明的目的通過以下技術方案來實現：

一種基于查表補償技術的近載頻相位噪聲修正裝置，該修正裝置包括待測源，檢相器，參考源,白噪聲源，所述參考源與待測源經過檢相器混頻后，輸出低頻差拍信號至環路放大器進行放大，放大后的信號輸入至環路增益選擇開關進行選擇，選擇后的信號輸入至環路濾波器進行積分，積分后的信號輸入至環路濾波選擇開關得到選擇的環路輸出信號，該環路輸出信號經加法器與偏置電壓源合成輸出信號至參考源的壓控電壓輸入端；所述白噪聲源的信號經加法器，參考源，檢相器至低噪聲放大器進行放大，放大后的噪聲信號經數據采集器采集分析得到環路補償數據，該補償數據通過環路特性存儲表單進行存儲。

所述修正裝置還包括與所述環路特性存儲表單串口連接的計算機。

本發明基于查表補償技術的近載頻相位噪聲修正裝置克服了目前近載頻修正技術的不足，能大幅縮減了近載頻修正的時間，使相位噪聲的測量過程更加快捷。同時對不同環路的調整過程，不會額外增加近載頻修正時間。

附圖說明

圖1：本發明工作原理結構圖。

具體實施方式

如圖1所示為本發明工作原理結構圖，一種基于查表補償技術的近載頻相位噪聲修正裝置包括：參考源1、待測源2、檢相器3、低噪聲放大器4、數據采集器5、計算機7、環路放大器8、環路增益選擇開關9、環路濾波器10、環路濾波器選擇開關11、加法器12、偏置電壓源13、白噪聲源14，還包括：環路特性存儲表單6。

參考源1輸出端與檢相器3本振端射頻電纜連接，待測源2與檢相器3射頻端射頻電纜連接，檢相器3中頻輸出端與低噪聲放大器4輸入端射頻電纜連接，低噪聲放大器4輸出端與數據采集器5輸入端射頻電纜連接，數據采集器5輸出端與環路特性存儲表單6輸入端串口總線連接，環路特性存儲表單6的輸出端與計算機7串口總線連接。檢相器3的中頻端與環路放大器8的輸入端射頻電纜連接，環路放大器8的輸出端與環路增益選擇開關9的輸入端射頻電纜連接，環路增益選擇開關9輸出端與環路濾波器10的輸入端射頻電纜連接，環路濾波器10的輸出端與環路濾波器選擇開關11的輸入端射頻電纜連接，環路濾波器選擇開關11的輸出端與加法器12的環路端射頻電纜連接，偏置電壓源13的輸出端與加法器12的偏置端射頻電纜連接，白噪聲源14的輸出端與加法器12的噪聲端射頻電纜連接，加法器12的輸出端與參考源1的壓控端射頻電纜連接。