[發明專利]基于磁共振彌散加權圖像確定腦缺血特征的方法和裝置

有效

• 申請號: 201310446792.0
• 申請日: 2013-09-26
• 公開（公告）號: CN104510469B
• 公開（公告）日: 2017-09-26
• 發明（設計）人: 胡慶茂
• 申請（專利權）人: 深圳先進技術研究院
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所44237
• 代理人: 張全文

1.一種基于磁共振彌散加權成像確定腦缺血特征的方法，其特征在于，所述方法包括：

通過待測病人的磁共振彌散加權成像確定所述待測病人的腦缺血區域，所述腦缺血區域包括核心區域和過渡區域；

根據所述核心區域和過渡區域內的彌散加權圖像DWI值，確定所述磁共振彌散加權成像中高DWI值的區域內彌散表觀系數ADC特征參數ADC_r；

根據所述ADC特征參數ADC_r，判定所述高DWI值的區域內的ADC值與所述高DWI值的區域是否失配；

所述根據所述核心區域和過渡區域內的彌散加權圖像DWI值，確定所述磁共振彌散加權成像中高DWI值的區域內彌散表觀系數ADC特征參數ADC_r，包括：

根據所述核心區域內的DWI值，計算所述核心區域內的DWI灰度均值DWI_avg和DWI最大值DWI_max；

將所述核心區域和過渡區域內DWI值不小于Th₁的體素組成的區域確定為所述磁共振彌散加權成像中高DWI值的區域，所述Th₁為預設值或者為[0.9×(DWI_avg+DWI_max)/2，1.1×(DWI_avg+DWI_max)/2]中的任意常數；

計算所述高DWI值的區域內的ADC值，將所述高DWI值的區域內的ADC值不低于C₁×ADC_ref的體素占所述高DWI值的區域內所有體素的比例作為所述磁共振彌散加權成像中高DWI值的區域內ADC特征參數ADC_r，所述C₁為[0.6，0.7]之間的任意常數，所述ADC_ref為正常腦組織的ADC值。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過待測病人的磁共振彌散加權成像確定所述待測病人的腦缺血區域，包括：

計算所述磁共振彌散加權成像中體素的ADC值，將所述磁共振彌散加權成像中體素的ADC值小于D₁×ADC_ref的區域確定為所述核心區域，將所述磁共振彌散加權成像中體素的ADC在[D₁×ADC_ref，D₂×ADC_ref]并且與所述核心區域在空間相鄰的區域確定為所述過渡區域，所述ADC_ref為正常腦組織的ADC值，所述D₁為[0.6，0.7]內的任意常數，所述D₂為[0.8，0.9]內的任意常數。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述ADC特征參數ADC_r，判定所述高DWI值的區域內的ADC值與所述高DWI值的區域是否失配，包括：

通過獲取的N個病人是否溶栓和病人的預后好壞的統計數據，確定用于判定所述ADC值與所述高DWI值的區域是否失配的閾值Thresh_ADC，所述N為大于1的自然數；

若所述磁共振彌散加權成像中高DWI值的區域內ADC_r大于所述閾值Thresh_ADC，則判定所述待測病人的磁共振彌散加權成像中高DWI值的區域內ADC與所述高DWI值的區域失配。