[發明專利]智能裝置ICD與虛端子表的一致性校驗方法

在審

• 申請號: 201310445931.8
• 申請日: 2013-09-27
• 公開（公告）號: CN103631667A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 唐志軍;王云茂;華建衛;林國棟;鄧超平;朱維鈞
• 申請（專利權）人: 國家電網公司;國網福建省電力有限公司;國網福建省電力有限公司電力科學研究院
• 主分類號: G06F11/00
• 分類號: G06F11/00
• 代理公司: 福州元創專利商標代理有限公司 35100
• 代理人: 蔡學俊

1.一種智能裝置ICD與虛端子表的一致性校驗方法，其特征在于，包括以下步驟：

（1）按照IEC61850標準及Q/GDW?396-2009《IEC?61850工程繼電保護應用模型》規范對ICD文件中虛端子的描述方法，將ICD文件中的虛端子進行解析，形成ICD文件中的訪問點列表及虛端子列表；

（2）將Excel格式的虛端子表中的訪問點及虛端子信息導入；

（3）將從虛端子表中導入的訪問點及虛端子信息與ICD文件中的訪問點列表及虛端子列表對比，進行虛端子一致性校驗；

（4）得到校驗報告，所述檢驗報告中描述虛端子表與ICD文件中訪問點和虛端子的不一致情況。

2.根據權利要求1所述的智能裝置ICD與虛端子表的一致性校驗方法，其特征在于，步驟（3）中，進行虛端子一致性校驗，具體包括：

a)??訪問點校驗：在ICD文件的訪問點列表中找到與虛端子表中定義名稱相同的訪問點，找不到的情況定義為訪問點描述不一致；

b)??虛端子校驗：虛端子表中定義的每個虛端子都要在ICD文件的虛端子列表中找到，且要求對應的訪問點、虛端子名稱和虛端子數據屬性完全相同，找不到對應虛端子、虛端子名稱或虛端子數據屬性不一致的情況定義為虛端子描述不一致；

c)??將虛端子表中所有的虛端子都校驗一遍，記錄下校驗結果。