[發明專利]圖像形成設備有效
| 申請號: | 201310443422.1 | 申請日: | 2013-09-25 |
| 公開(公告)號: | CN103713508A | 公開(公告)日: | 2014-04-09 |
| 發明(設計)人: | 青井洋介 | 申請(專利權)人: | 兄弟工業株式會社 |
| 主分類號: | G03G21/18 | 分類號: | G03G21/18;G03G15/00 |
| 代理公司: | 上海市華誠律師事務所 31210 | 代理人: | 梅高強;崔巍 |
| 地址: | 日本愛知縣名古*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 形成 設備 | ||
1.一種圖像形成設備,所述圖像形成設備被構造成利用電子照相方式在片狀物形成圖像,其特征在于,所述圖像形成設備包括:
設備主體;
盒,所述盒被構造成可拆卸地附接到所述設備主體,所述盒包括:
電氣部件;
與所述電氣部件電連接的導電部;和
可移動元件,所述可移動元件被構造成響應于接收到來自所述設備主體的驅動力而移動;
饋電裝置,所述饋電裝置設置在所述設備主體上,并且被構造成接觸所述導電部并且向所述電氣部件施加電壓;
第一電極,所述第一電極設置在所述設備主體上,并且與所述饋電裝置電連接;
第二電極,所述第二電極設置在所述設備主體上,并且被構造成與所述第一電極接觸和分開;
位移構件,所述位移構件設置在所述盒上,并且被構造成從允許所述位移構件接收來自所述設備主體的所述驅動力的位置移動到不允許所述位移構件接收來自所述設備主體的所述驅動力的不同位置;
可移動構件,所述可移動構件設置在所述設備主體上,所述可移動構件被構造成響應于所述位移構件的移動而移動,以便在所述第一電極接觸所述第二電極的接觸位置和所述第一電極與所述第二電極分離的非接觸位置之間移動所述第一電極;和
檢測器,所述檢測器被構造成基于所述第一電極和所述第二電極之間的導電狀態來檢測關于附接到所述設備主體的所述盒的信息。
2.如權利要求1所述的圖像形成設備,其特征在于,
所述可移動構件包括:
第一部分,所述第一電極設置在所述第一部分,所述第一部分被構造成:當所述第一部分面對所述第二電極時,允許所述第一電極接觸所述第二電極;和
第二部分,所述第二部分設置于在所述可移動構件的移動方向上遠離所述第一部分的位置,所述第二部分被構造成:當所述第二部分面對所述第二電極時,允許所述第一電極與所述第二電極分離。
3.如權利要求1或2所述的圖像形成設備,其特征在于,
所述可移動構件被構造成在其接觸部分接觸所述位移構件,并且響應于通過與所述位移構件接觸的所述可移動構件的所述接觸部分接收到的力而移動;并且
其中,所述設備主體包括端子構件,所述端子構件包括:
所述饋電裝置;
所述第一電極;和
端子側彈簧,所述端子側彈簧被構造成按壓所述可移動構件抵靠所述位移構件。
4.如權利要求2所述的圖像形成設備,其特征在于,
所述第二部分設置在所述可移動構件的在所述可移動構件的移動方向上越過所述第一部分彼此相對的兩側中的每一側上。
5.如權利要求1或2所述的圖像形成設備,其特征在于,進一步包括電極按壓彈簧,所述電極按壓彈簧被構造成按壓所述第二電極抵靠所述第一電極;
其中,與所述第二電極接觸的所述第一電極的至少一部分相對于所述可移動構件的移動方向傾斜。
6.如權利要求1或2所述的圖像形成設備,其特征在于,
所述電氣部件用于圖像形成。
7.如權利要求6所述的圖像形成設備,其特征在于,
所述電氣部件為顯影輥,所述顯影輥被構造成向其上形成有靜電潛像的感光體供應顯影劑。
8.如權利要求1或2所述的圖像形成設備,其特征在于,
所述檢測器包括盒狀態檢測部分,所述盒狀態檢測部分被構造成檢測附接到所述設備主體的所述盒是否是新的。
9.如權利要求1或2所述的圖像形成設備,其特征在于,
所述檢測器包括盒存在檢測部分,所述盒存在檢測部分被構造成檢測是否存在附接到所述設備主體的盒。
10.如權利要求1或2所述的圖像形成設備,其特征在于,
所述位移構件進一步被構造成從第一位置經由第二位置移動到第三位置,
在所述第一位置,允許所述位移構件接收來自所述設備主體的所述驅動力,所述導電部接觸所述饋電裝置,并且所述第一電極處于所述接觸位置以接觸所述第二電極;
在所述第二位置,所述導電部不與所述饋電裝置接觸,并且所述第一電極通過所述可移動構件被移動到與所述第二電極分離的所述非接觸位置;
在所述第三位置,不允許所述位移構件接收來自所述設備主體的所述驅動力,所述導電部接觸所述饋電裝置,并且所述第一電極通過所述可移動構件被移動到所述接觸位置以接觸所述第二電極;并且
其中,所述檢測器進一步被構造成:
檢測所述第一電極和所述第二電極之間的所述導電狀態的變化,所述導電狀態根據所述第一電極和所述第二電極之間的接觸狀態而改變,所述接觸狀態響應于所述位移構件的移動而改變;和
基于檢測到的所述第一電極和所述第二電極之間的所述導電狀態的變化來獲取關于所述盒的所述信息。
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