[發(fā)明專利]一種物件平整面測試裝置

無效

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• 申請日: 2013-09-26
• 公開（公告）號: CN103487000A
• 公開（公告）日: 2014-01-01
• 發(fā)明（設計）人: 周桃英;王香兵;唐豪
• 申請（專利權）人: 無錫俊達測試技術服務有限公司
• 主分類號: G01B21/30
• 分類號: G01B21/30
• 代理公司: 南京經(jīng)緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 許方

技術領域

本發(fā)明涉及一種物件平整面測試裝置。

背景技術

工業(yè)生產過程中，產品需要進行各項檢測盒測試，不同的產品有著不同的測試項目和測試要求，其中有關產品表面是否平整的測試是眾多測試項目中較為常見的一項，目的在于檢測產品指定面是否平整，但是現(xiàn)有技術中，針對這一項目的測試過程趨向于兩個方向，一個方向是測試過程復雜，造成工作效率低下；另一個方向是測試又過于簡單，無法真正實現(xiàn)針對被測面是否平整的測試工作，因此，現(xiàn)有的技術中還無法找到或設計出一套針對產品被測面是否平整的簡便易行、且測試準確的裝置或方法。

發(fā)明內容??????????????????????????????????????????????????

針對上述技術問題，本發(fā)明所要解決的技術問題是提供一種結構簡單，成本低廉，能夠有效準確測試出物件被測面是否平整的物件平整面測試裝置。

本發(fā)明為了解決上述技術問題采用以下技術方案：本發(fā)明設計了一種物件平整面測試裝置，包括底盤、信息輸出模塊、底部為平面的外殼、以及設置在外殼內的控制模塊、電源、電機、測距傳感器；其中，電源、電機、測距傳感器和信息輸出模塊分別與控制模塊相連接，電源經(jīng)控制模塊為電機、測距傳感器和信息輸出模塊進行供電；信息輸出模塊設置在外殼的上表面，外殼底面中央位置設有通孔，電機的轉軸與外殼底面相垂直地穿過通孔，電機轉軸穿過通孔的端部與底盤的表面相垂直連接，且底盤與外殼底部之間保持預置間距；測距傳感器固定設置在外殼內的底面上，且測距傳感器的測距方向指向外殼的側面，外殼側面上與測距傳感器測距方向相對應的位置設有射孔。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選技術方案：所述測距傳感器的測距方向垂直指向所述外殼側面上射孔所在位置的切面，且所述測距傳感器的測距端位于所述射孔位置。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選技術方案：所述電機轉軸穿過所述通孔的端部與所述底盤表面的中央位置垂直連接。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選技術方案：還包括設置在所述外殼上表面或者側面上的開關,所述電源經(jīng)開關與所述控制模塊相連接。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選技術方案：所述信息輸出模塊為語音輸出裝置或顯示裝置。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選技術方案：所述控制模塊為單片機。

本發(fā)明所述一種物件平整面測試裝置采用以上技術方案與現(xiàn)有技術相比，具有以下技術效果：

（1）本發(fā)明設計的物件平整面測試裝置，結構簡單，成本低廉，通過電機使得整個測試裝置在物件被測面上進行旋轉的同時，利用實時工作的測距傳感器實現(xiàn)檢測物件被測面是否平整，整個過程簡便易行，且操作者能夠通過信息輸出模塊及時、準確的獲知測試結果；

（2）本發(fā)明設計的物件平整面測試裝置中，將測距傳感器的測距方向垂直指向所述外殼側面上射孔所在位置的切面，且所述測距傳感器的測距端位于所述射孔位置，能夠及時準確獲知物件被測面上凸起不平整區(qū)域相對于測試裝置邊緣的具體位置；

（3）本發(fā)明設計的物件平整面測試裝置中，所述電機轉軸穿過所述通孔的端部與所述底盤表面的中央位置垂直連接，能夠有效保證整個測試裝置通過電機、以底盤為支撐進行旋轉的穩(wěn)定性；

（4）本發(fā)明設計的物件平整面測試裝置中，設置在開關，使得測試裝置的操作更加方便、更加人性化；

（5）本發(fā)明設計的物件平整面測試裝置中，針對信息輸出模塊采用語音輸出裝置或顯示裝置，使得測試結果的獲知變得更加直觀、更加準確及時。

附圖說明

圖1是本發(fā)明設計的物件平整面測試裝置的立體結構示意圖；

圖2是本發(fā)明設計的物件平整面測試裝置具體應用示意圖。

其中，1.?外殼，2.?控制模塊，3.?電源，4.?電機，5.?測距傳感器，6.?信息輸出模塊，7.?底盤，8.?通孔，9.?射孔，10.?開關，11.物件被測面。

具體實施方式

下面結合說明書附圖對本發(fā)明的具體實施方式作進一步詳細的說明。?