[發(fā)明專利]一種多電極測(cè)試方法及其裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310440410.3 | 申請(qǐng)日: | 2013-09-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103513152A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 夏斌;李亞杰;王松 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州諾爾康神經(jīng)電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/02 | 分類號(hào): | G01R31/02;G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京風(fēng)雅頌專利代理有限公司 11403 | 代理人: | 李弘;李翔 |
| 地址: | 310011 浙江省杭州*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電極 測(cè)試 方法 及其 裝置 | ||
1.一種多電極測(cè)試裝置,其特征在于,包括PCB板、多選一電子開(kāi)關(guān)、測(cè)試器、電源;所述PCB板上設(shè)有多條相互平行的測(cè)量線,這些測(cè)量線的間距不超過(guò)0.3mm;所述每個(gè)測(cè)量線連接并且只連接所述多選一電子開(kāi)關(guān)的一個(gè)通道;所述PCB板、多選一電子開(kāi)關(guān)、測(cè)試器依次串聯(lián)連接,所述測(cè)試器與電源連接;測(cè)量狀態(tài)下,每個(gè)待檢測(cè)的電極與至少一個(gè)所述測(cè)量線接觸,所述多選一電子開(kāi)關(guān)依次導(dǎo)通所述測(cè)量線使得與該測(cè)量線接觸的電極、所述導(dǎo)通的測(cè)量線、多選一電子開(kāi)關(guān)、測(cè)試器和電源構(gòu)成閉合回路。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述多選一電子開(kāi)關(guān)依次導(dǎo)通所述測(cè)量線使得與該測(cè)量線接觸的電極、所述導(dǎo)通的測(cè)量線、多選一電子開(kāi)關(guān)、測(cè)試器和電源構(gòu)成閉合回路時(shí),所述待檢測(cè)電極排列方向與所述測(cè)量線的延伸方向垂直。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置,其特征在于,相鄰所述測(cè)量線之間的間距不超過(guò)0.1mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置,其特征在于,相鄰所述測(cè)量線之間的間距不超過(guò)所述電極在垂直所述測(cè)量線方向的有效寬度的二分之一。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置,其特征在于,所述多選一電子開(kāi)關(guān)的通道數(shù)與所述測(cè)量線的數(shù)目相同。
6.一種多電極測(cè)試方法,其特征在于,采用如權(quán)利要求1-5中任意一項(xiàng)所述的多電極測(cè)試裝置,通過(guò)執(zhí)行如下步驟對(duì)人工耳蝸電極陣列進(jìn)行測(cè)試:
將人工耳蝸電極陣列與PCB板上的測(cè)量線呈45°-90°角放置,使電極陣列兩側(cè)分別與測(cè)試器和測(cè)量線接觸;
將PCB板上的第1個(gè)測(cè)量線所對(duì)應(yīng)的多選一電子開(kāi)關(guān)通道導(dǎo)通;
采用測(cè)試器對(duì)當(dāng)前電路中的電流進(jìn)行測(cè)量,從而得到相應(yīng)的電流值;
判斷電流值,若超過(guò)設(shè)定的電極導(dǎo)通電流范圍,則記錄連續(xù)超過(guò)所述導(dǎo)通電流范圍的次數(shù);若所述電流值在設(shè)定的電極導(dǎo)通電流范圍內(nèi),則判斷當(dāng)前電路所對(duì)應(yīng)的電極導(dǎo)通;
若連續(xù)未導(dǎo)通次數(shù)超過(guò)預(yù)先設(shè)定的間隔最大測(cè)量線數(shù)值,則判斷對(duì)應(yīng)的電極未導(dǎo)通;
若在判斷電流值的步驟中判斷當(dāng)前電路導(dǎo)通,則判斷在本次測(cè)量過(guò)程中是否還存在未曾連接過(guò)的測(cè)量線,若是,將PCB板上下一個(gè)測(cè)量線所對(duì)應(yīng)的多選一電子開(kāi)關(guān)通道導(dǎo)通;
在將所述PCB板上下一個(gè)測(cè)量線所對(duì)應(yīng)的多選一電子開(kāi)關(guān)通道導(dǎo)通后,返回采用測(cè)試器對(duì)當(dāng)前電路中電流進(jìn)行測(cè)量的步驟。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,當(dāng)判斷當(dāng)前電路導(dǎo)通后,采用所述測(cè)試器對(duì)電極的電學(xué)性能進(jìn)行測(cè)試。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述電極導(dǎo)通電流范圍為0.5-2mA。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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