[發(fā)明專利]發(fā)光裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310439080.6 | 申請(qǐng)日: | 2013-09-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103681994B | 公開(公告)日: | 2019-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李光七;樸仲緒;李泰林;崔云慶;金敬訓(xùn);樸海進(jìn);尹歡喜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | LG伊諾特有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L33/02 | 分類號(hào): | H01L33/02 |
| 代理公司: | 隆天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 張?jiān)≡?李玉鎖 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 透光層 源層 發(fā)光裝置 發(fā)光 圖案 | ||
1.一種發(fā)光裝置,包括:
有源層,用于發(fā)射光;以及
透光層,設(shè)置于所述有源層上,所述透光層具有面對(duì)所述有源層的下部,
其中所述透光層的側(cè)部和上部具有經(jīng)表面處理的圖案部分;
所述經(jīng)表面處理的圖案部分僅設(shè)置在全內(nèi)反射區(qū),所述全內(nèi)反射區(qū)被如下限定:
其中‘y’代表所述透光層在厚度方向上的位置,‘x’代表所述透光層在寬度方向上的位置,‘a(chǎn)’代表所述有源層的寬度,b1代表所述透光層的下表面的寬度,θTIR代表所述透光層的全內(nèi)反射角,以及h代表所述透光層的厚度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光裝置,其中所述有源層發(fā)射具有200nm至405nm的波長帶的光。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的發(fā)光裝置,其中所述圖案部分經(jīng)過表面處理,以提供隨機(jī)粗糙度。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光裝置,其中所述表面處理包括研磨、拋光、激光劃片、濕法蝕刻和干法蝕刻中的至少一種,
其中,當(dāng)所述表面處理包括研磨和拋光中的至少一種時(shí),所述隨機(jī)粗糙度的粗糙度水平與拋光顆粒尺寸成比例。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的發(fā)光裝置,其中所述圖案部分被表面處理,使得所述透光層的上表面和下表面具有彼此不同的面積。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的發(fā)光裝置,其中所述透光層包括:
下切割部分,具有與所述下表面相同形狀的水平剖面;和
上切割部分,設(shè)置于所述下切割部分上,且具有在下切割部分的上表面與所述透光層的上表面之間的多個(gè)不同的水平剖面。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的發(fā)光裝置,其中所述上切割部分的側(cè)部具有至少一個(gè)斜平面。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的發(fā)光裝置,其中所述斜平面的表面具有粗糙度,或所述斜平面具有外側(cè)的凹曲率或凸曲率。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的發(fā)光裝置,其中下面的關(guān)系存在于所述透光層的下表面的寬度和上表面的寬度之間,
b1-b2=2d tanθ1
其中b1代表所述下表面的寬度,b2代表所述上表面的寬度,‘d’代表所述上切割部分的厚度,以及θ1代表所述斜平面的傾角。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的發(fā)光裝置,其中所述透光層具有50μm至250μm的寬度,所述下切割部分具有25μm至100μm的厚度,以及所述斜平面具有30°至40°的傾角。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的發(fā)光裝置,其中所述上切割部分具有截頭的金字塔形狀,所述上切割部分具有在其邊緣處的至少一個(gè)突起,或所述上切割部分具有截頭的倒金字塔形。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光裝置,其中所述透光層的上部具有作為圖案部分的均勻凹凸。
13.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的發(fā)光裝置,進(jìn)一步包括:
襯底;
第一導(dǎo)電型半導(dǎo)體層,設(shè)置于所述襯底與所述有源層之間;以及
第二導(dǎo)電型半導(dǎo)體層,設(shè)置于所述有源層上,
其中所述透光層包括所述第二導(dǎo)電型半導(dǎo)體層。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的發(fā)光裝置,進(jìn)一步包括設(shè)置于所述第二導(dǎo)電型半導(dǎo)體層上的第二導(dǎo)電型電極層,
其中所述透光層進(jìn)一步包括所述第二導(dǎo)電型電極層。
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