[發(fā)明專利]一種陶瓷基片表面的微帶線電路線寬制造誤差檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310432828.X
• 申請(qǐng)日: 2013-09-22
• 公開（公告）號(hào): CN103512501A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉霖;陳偉;唐雪松;張峰;羅穎;宋昀岑;劉娟秀;楊先明;陳鎮(zhèn)龍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 電子科技大學(xué)
• 主分類號(hào): G01B11/02
• 分類號(hào): G01B11/02
• 代理公司: 成都睿道專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51217
• 代理人: 潘育敏

1.一種陶瓷基片表面的微帶線電路線寬制造誤差檢測(cè)方法，其特征在于：

首先，將待檢測(cè)陶瓷基片電路板設(shè)計(jì)圖制成檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)CAD圖檔，再把被檢測(cè)陶瓷基片電路板拍照，提取照片圖像中的電路輪廓，將檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)CAD圖檔映射到圖像輪廓中得到匹配向量Ｘ，再把檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)CAD圖檔中標(biāo)準(zhǔn)線寬映射到圖像輪廓中，最后，通過擬合圖像中電路線寬兩邊緣得到邊緣直線，得到的兩直線距離與檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)CAD圖檔中相對(duì)應(yīng)兩直線距離差為電路線寬制造誤差；

具體步驟為：

S1：把待檢測(cè)陶瓷基片電路板設(shè)計(jì)圖制成檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)CAD圖檔，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)CAD圖檔中包括陶瓷基片電路板邊界輪廓，以兩條直線表示一段待檢測(cè)電路；

S2：把被檢測(cè)陶瓷基片電路板按與檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)文檔相對(duì)應(yīng)方向拍照，采用Otsu算法對(duì)圖像進(jìn)行二值化，然后采用邊界跟蹤算法得到陶瓷基片電路板圖像邊界輪廓離散點(diǎn)序列和圖像邊界輪廓內(nèi)的電路線寬邊緣輪廓離散點(diǎn)序列，通過計(jì)算封閉輪廓的區(qū)域面積，選出面積最大值封閉輪廓；

S3：采用曲線數(shù)據(jù)壓縮算法對(duì)陶瓷基片電路板圖像邊界輪廓離散點(diǎn)序列進(jìn)行近似，近似結(jié)果為多邊形，多邊形頂點(diǎn)為邊界輪廓上的點(diǎn)；

S4：計(jì)算多邊形頂點(diǎn)數(shù)量，如果數(shù)量大于4則有倒角邊，計(jì)算相鄰兩頂點(diǎn)之間的距離，如果相鄰兩頂點(diǎn)間距離遠(yuǎn)小于前后相鄰點(diǎn)的距離，則判斷此兩點(diǎn)連線為倒角邊，把此倒角邊相鄰兩線求交點(diǎn)，用此交點(diǎn)替換倒角邊兩端點(diǎn)，最終得到四個(gè)頂點(diǎn)；以左上頂點(diǎn)為起始點(diǎn)，順時(shí)針方向排序，所得點(diǎn)坐標(biāo)為P21：（x₂₁,y₂₁）,P22：（x₂₂,y₂₂）,P23：（x₂₃,y₂₃）,P24：（x₂₄,y₂₄）

所得點(diǎn)坐標(biāo)組成矩陣：B=x21y21x22y22x23y23x24y24]]>

S5：讀取檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)CAD圖檔，選取檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)CAD圖檔中的最外圍4條邊界，相鄰兩邊計(jì)算交點(diǎn)得到四個(gè)頂點(diǎn)；將4個(gè)頂點(diǎn)以左上頂點(diǎn)為起始點(diǎn)，順時(shí)針方向排序；所得點(diǎn)坐標(biāo)為P11：（x₁₁,y₁₁）,P12：（x₁₂,y₁₂）,P13：（x₁₃,y₁₃）,P14：（x₁₄,y₁₄）

所得點(diǎn)坐標(biāo)組成矩陣：A=x11y11x12y12x13y13x14y14]]>

S6：建立方程Ａ×Ｘ＝B，用最小二乘法求解得到匹配向量X；

S7：選擇檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)CAD圖檔中所有的待檢測(cè)的線寬，以兩條直線表示一段待檢測(cè)電路，按照待檢測(cè)的線寬順序以樹形結(jié)構(gòu)存儲(chǔ)，表示一段待檢測(cè)電路的兩條直線存放于同一節(jié)點(diǎn)，得到待檢列表；

S8:在待檢列表中讀取第一對(duì)表示一段待檢電路線寬的兩條直線，L1和L2，

L1兩端點(diǎn)坐標(biāo)向量分別與X之積得到T1，以Ｔ1為中心，Ｔ1的長(zhǎng)度為長(zhǎng)，60像素為寬建立矩形區(qū)域，矩形區(qū)域包括電路線寬邊緣輪廓離散點(diǎn)序列，擬合電路線寬邊緣輪廓離散點(diǎn)序列得到LT1；

L2兩端點(diǎn)坐標(biāo)向量分別與X之積得到T2，以T2為中心，T2的長(zhǎng)度為長(zhǎng)，60像素為寬建立矩形區(qū)域，矩形區(qū)域包括電路線寬邊緣輪廓離散點(diǎn)序列，擬合電路線寬邊緣輪廓離散點(diǎn)序列得到LT2；

計(jì)算LT1和LT2的距離，該距離與L1和L2直線距離之差為線寬制造誤差；

S9：按待檢列表順序在待檢列表中讀取表示一段待檢測(cè)電路的兩條直線，按S8步驟得到所有線寬制造誤差。