[發明專利]一種LED發光芯片插偏缺陷的檢測算法

有效

• 申請號: 201310432371.2
• 申請日: 2013-09-18
• 公開（公告）號: CN103473778A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 李偉;孫建萍
• 申請（專利權）人: 陜西中萊節能有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 西安恒泰知識產權代理事務所 61216
• 代理人: 林兵

1.一種LED發光芯片插偏缺陷的檢測算法，其特征在于，具體包括如下步驟：

步驟1：采集待測LED發光芯片的彩色圖像I；計算機讀取待測LED發光芯片的彩色圖像I；圖像的采集方向滿足彩色圖像I中發光二極管的兩管腳均為豎直方向且兩管腳重疊；

步驟2：對彩色圖像I進行灰度化處理和去噪處理，得到圖像I1；

步驟3：對圖像I1進行二值化處理，得到二值化處理后的圖像I2；

步驟4：對二值化后的圖像I2進行細化處理，得到細化處理后的圖像I3；

步驟5：對細化處理后的圖像I3進行直線擬合，得到擬合直線；

步驟6：計算擬合直線與y軸的夾角θ；

步驟7：根據擬合直線的斜率求得該擬合直線的傾斜角Φ；

步驟8：計算發光芯片的插入角度β，根據插入角度β與設定的角度閾值范圍比較，判斷是否落入角度閾值范圍內，是則認為LED燈的發光芯片沒有插偏缺陷，返回步驟1，對下一個待檢測的發光芯片進行檢測；否則，認為LED燈的發光芯片有插偏缺陷，執行步驟9；：

當Φ∈[0,1.57]時，β=Φ+θ；

當Φ∈(1.57,3.14]時，β=Φ-θ；

步驟9：計算機顯示當前發光芯片存在插偏缺陷并顯示β的值；返回步驟1。

2.如1權利要求1所述的LED發光芯片插偏缺陷的檢測算法，其特征在于，所述步驟2中對彩色圖像I進行灰度化可以采用分量法、最大值法、平均值法或加權平均法。

3.如權利要求1所述的LED發光芯片插偏缺陷的檢測算法，其特征在于，所述步驟3中對圖像I1進行二值化處理具體包括如下步驟：

1）設定初始分割閾值T1=（fmax+fmin）/2，其中，fmax和fmin分別表示圖像I1的最大灰度值與最小灰度值；

2）用初始分割閾值T1對圖像I1進行區域分割，得到灰度值大于初始分割閾值的圖像區域G1和灰度值不大于分割閾值的圖像區域G2；

3）計算圖像區域G1包含的像素的灰度均值u1和圖像區域G2和包含的像素的灰度均值u2；

4）計算新的分割閾值Tm=（u1+u2）/2；判斷是否|Tm-T(m-1)|≥1，其中，m為分割均值的序號，對于初始分割均值，m=0；是則返回步驟2）用新的分割閾值Tm代替初始分割閾值T1對圖像I1進行區域分割；否則，將該新的分割閾值Tm作為最終的分割閾值；

5）用步驟4）得到的分割閾值Tm對圖像I1進行二值化處理；然后掃描二值化處理后的圖像I1，如果圖像I1中第i行第j列元素I1（i，j）≥Tm，則給該元素賦值為255；否則給該像素點賦值0；得到二值化處理后的圖像I2。

4.如權利要求1所述的LED發光芯片插偏缺陷的檢測算法，其特征在于，所述步驟5中對細化處理后的圖像I3進行直線擬合具體包括如下步驟：

首先，掃描細化處理后的圖像I3，對于每個灰度值為255的像素點，將其橫坐標和縱坐標分別保存在一維矩陣A和一維矩陣B中；其次，以一維矩陣A為橫坐標、一維矩陣B為縱坐標進行直線擬合，得到擬合直線，該擬合直線的坐標系以圖像I3的左上角為坐標原點，以坐標原點向右作為x軸正向，向下作為y軸正向。

5.如權利要求1所述的LED發光芯片插偏缺陷的檢測算法，其特征在于，所述步驟8中的角度閾值范圍為[1.553,1.587]。