[發明專利]液晶面板光學檢測系統在審
| 申請號: | 201310432317.8 | 申請日: | 2013-09-22 |
| 公開(公告)號: | CN104458207A | 公開(公告)日: | 2015-03-25 |
| 發明(設計)人: | 徐江偉;王秀麗;鄒偉金;劉永豐;王新新;王樹雨;李晨;任婕;許偉麗 | 申請(專利權)人: | 北京兆維電子(集團)有限責任公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02;G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 液晶面板 光學 檢測 系統 | ||
技術領域
本發明涉及顯示領域,尤其涉及液晶顯示器的光學檢測系統。
背景技術
液晶面板光學檢測系統,是液晶面板產業生產中對液晶面板進行光學檢測中必不可少的重要設備。但現有的液晶面板光學檢測系統,相機物距都是固定不變,單臺相機只能實現固定的有限尺寸的液晶面板檢測,然而隨著對液晶面板的尺寸、精度以及效率的提高,單臺固定不動的相機,顯然不能滿足檢測能力、檢測精度以及檢測效率的要求。
發明內容
(一)發明目的
針對上述問題,本發明提供一種圖像采集裝置可以在空間內移動,以滿足不同的檢測需求的液晶面板光學檢測系統。
(二)技術方案
為達上述目的,本發明液晶面板光學檢測系統,包括圖像采集裝置,還包括用以使所述圖像采集裝置在三維空間內移動的三維調整裝置。
優選地,三維調整裝置包括用以設置所述圖像采集裝置的安裝結構、用以使所述圖像采集裝置在X軸方向上移動的X向相機調整機構、用以使所述圖像采集裝置在Y軸方向上移動的Y向相機調整機構、用以使所述圖像采集裝置在Z軸方向上移動的Z向相機調整機構以及使所述圖像采集裝置在其所在位置進行角度以及方位的二次調整的微調裝置;
其中X軸、Y軸以及Z軸構成三維直角坐標系。
優選地,所述X向相機調整機構、Y向相機調整機構以及Z向相機調整機構均為驅動所述圖像采集裝置以及所述安裝結構在對應方向移動的線性馬達。
優選地,還包括操作臺以及背光裝置;
所述操作臺用以容納待檢測液晶面板,與所述圖像采集裝置垂直分離設置;
所述背光裝置,設置在所述操作臺內部用以為所述待檢測液晶面板提供光源。
優選地,還包括圖像采集控制裝置;
所述圖像采集控制裝置包括檢測參數設置單元、圖像處理單元、檢測監控單元以及信號控制單元;
所述檢測參數設置單元用以預先設置及存儲檢測參數;
所述圖像處理單元與所述圖像采集裝置相連,接收并處理所述圖像采集裝置所采集的圖像,提取所述圖像中的缺陷信息;
所述檢測監控單元用以監控并輸出液晶面板光學檢測系統中的各裝置的運行狀況;
所述信號控制單元用以控制所述待檢測液晶面板的檢測的開始、關閉以及檢測圖像的切換。
優選地,所述圖像采集控制裝置還包括網絡接口,所述網絡接口為無線或有線接口,用以所述圖像采集控制裝置與外界進行數據交互。
優選地,還包括用以為液晶面板光學檢測系統提供電源的不間斷電源。
優選地,所述圖像采集裝置為面陣掃描CCD相機。
優選地,所述操作臺上設有固定待檢測液晶面板的夾具。
(三)本發明的有益效果
本發明液晶面板光學檢測系統,通過三維調整裝置的設置,可以使圖像采集單元在空間范圍移動,從而可以根據檢測的精度、檢測面板的尺寸以及所需拍攝圖像的清晰度,調整圖像采集裝置的位置,從而得到所需的檢測圖像,相比現有技術,本發明中所述的圖像采集裝置能夠在允許運動的范圍內,運動到三維空間的任意一點,滿足檢測過程中的尺寸與精度要求,減少了對相機數量的需求,同時具有結構簡單、實現簡便的優點。
附圖說明
圖1為本發明實施例中所述三維調整裝置的結構示意圖;
圖2為本發明實施例所述的液晶面板光學檢測系統的結構示意圖。
具體實施方式
下面結合說明書附圖以及實施例對本發明做進一步的說明。
本實施例液晶面板光學檢測系統,包括圖像采集裝置,還包括用以使所述圖像采集裝置在三維空間內移動的三維調整裝置。所述圖像采集裝置可以采用現有設備中滿足精度需求的攝像機或相機,具體的優先采用面板陣列CCD相機。CCD——Charge-coupled?Device可以稱為CCD圖像傳感器。CCD是一種半導體器件,能夠把光學影像轉化為數字信號。
所述三維調整裝置的結構可以有多種,具體的如包括一個升降器以及使所述升降器水平移動的導軌,升降器的末端設有圖像采集裝置的安裝位;通過調整升降器可以實現圖像采集裝置在垂直面內的上下升降,通過使所述升降器在水平內的移動,實現的是圖像采集裝置在水平面內的移動。然而在本實施例中出于進一步的簡化結構、降低硬件成本,提供了以下結構:
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