[發(fā)明專(zhuān)利]檢查壓縮質(zhì)量的電阻測(cè)量裝置及使用該裝置的測(cè)量方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310430509.5
• 申請(qǐng)日: 2013-09-18
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104034964B
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-02-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 高潤(rùn)德;李容熙
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 三星顯示有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R27/02
• 分類(lèi)號(hào): G01R27/02
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11204
• 代理人: 余朦;王艷春

1.一種用于檢查壓縮質(zhì)量的電阻測(cè)量裝置，包括：

探測(cè)器，包括多個(gè)探針，所述探針通過(guò)與顯示裝置的壓縮電阻測(cè)量標(biāo)記接觸以測(cè)量所述顯示裝置的壓縮部分的電阻；

探測(cè)器支承部，支承所述探測(cè)器；

位移傳感器，與所述探測(cè)器支承部耦合，并且檢測(cè)所述探測(cè)器的位移以及所述探針的平滑度；以及

力矩電機(jī)，與所述探測(cè)器支承部連接，并且控制所述探測(cè)器的位置。

2.如權(quán)利要求1所述的電阻測(cè)量裝置，其中，所述多個(gè)探針與所述壓縮電阻測(cè)量標(biāo)記直接接觸。

3.如權(quán)利要求2所述的電阻測(cè)量裝置，其中，通過(guò)所述力矩電機(jī)控制所述探針的垂直位置。

4.如權(quán)利要求1所述的電阻測(cè)量裝置，進(jìn)一步包括：

平臺(tái)，所述顯示裝置安裝在所述平臺(tái)上，所述平臺(tái)控制所述顯示裝置的垂直位置。

5.一種用于檢查壓縮質(zhì)量的電阻測(cè)量方法，所述方法包括：

通過(guò)探測(cè)器支承部中的位移傳感器來(lái)檢測(cè)探測(cè)器的位移以及所述探測(cè)器的多個(gè)探針的平滑度；

根據(jù)檢測(cè)到的所述探測(cè)器的所述位移以及所述多個(gè)探針的所述平滑度，通過(guò)所述探測(cè)器支承部中的力矩電機(jī)來(lái)控制所述探測(cè)器的位置；以及

通過(guò)使所述探測(cè)器的所述多個(gè)探針接觸顯示裝置的壓縮電阻測(cè)量標(biāo)記來(lái)測(cè)量所述顯示裝置的壓縮部分的電阻。

6.如權(quán)利要求5所述的方法，其中，所述測(cè)量所述電阻的步驟包括：

將相對(duì)最小的檢查電流至相對(duì)最大的檢查電流依次施加于所述壓縮電阻測(cè)量標(biāo)記。

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中，所述測(cè)量所述電阻的步驟進(jìn)一步包括：

向所述壓縮電阻測(cè)量標(biāo)記施加第一檢查電流；以及

在根據(jù)所述第一檢查電流測(cè)量的第一測(cè)量電阻大于第一參考電阻時(shí)輸出所述第一測(cè)量電阻。

8.如權(quán)利要求7所述的方法，進(jìn)一步包括：

當(dāng)所述第一測(cè)量電阻小于所述第一參考電阻時(shí)向所述壓縮電阻測(cè)量標(biāo)記施加大于所述第一檢查電流的第二檢查電流；以及

在根據(jù)所述第二檢查電流測(cè)量的第二測(cè)量電阻大于第二參考電阻時(shí)輸出所述第二測(cè)量電阻。

9.如權(quán)利要求8所述的方法，進(jìn)一步包括：

當(dāng)所述第二測(cè)量電阻小于所述第二參考電阻時(shí)向所述壓縮電阻測(cè)量標(biāo)記施加大于所述第二檢查電流的第三檢查電流；以及

輸出根據(jù)所述第三檢查電流測(cè)量的第三測(cè)量電阻。