[發明專利]礦山井下導水構造帶的探測定位方法有效
| 申請號： | 201310429644.8 | 申請日： | 2013-09-18 |
| 公開（公告）號： | CN103472499A | 公開（公告）日： | 2013-12-25 |
| 發明（設計）人： | 何磊;張連恒;馬銀 | 申請（專利權）人： | 中國華冶科工集團有限公司 |
| 主分類號： | G01V11/00 | 分類號： | G01V11/00 |
| 代理公司： | 北京鴻元知識產權代理有限公司 11327 | 代理人： | 陳英俊 |
| 地址： | 100085 北京市大興*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 礦山 井下 構造 探測 定位 方法 | ||
1.一種礦山井下導水構造帶的探測定位方法，包括：
采用地震波反射法在巷道工作面對巷道預設距離內的導水構造帶進行超前探測，并對巷道預設距離內的導水構造帶的發育程度進行分級、標記；所述巷道預設距離包括第一探層預設距離和第二探層預設距離，在所述第一探層預設距離內對所述第二探層預設距離進行超前探測；第二探層預設距離第一探層預設距離
采用瞬變電磁法在所述巷道工作面對第一探層預設距離內的導水構造帶進行超前探測，并對第一探層預設距離內的導水構造帶進行富水性分級、標記；
使用地質雷達和紅外探水儀在所述巷道工作面對所述第二探層預設距離進行超前探測，同時預報所述第二探層預設距離內的含水區域，并進行標記；
將巷道預設距離內的導水構造帶的發育程度的標記、所述第一探層預設距離內的導水構造帶的富水性分級的標記和所述第二探層預設距離內的含水區域的標記繪制成預測圖，定位導水構造帶。
2.如權利要求1所述的礦山井下導水構造帶的探測定位方法，其中，所述巷道預設距離為200米。
3.如權利要求1所述的礦山井下導水構造帶的探測定位方法，其中，所述導水構造帶的發育程度分為發育區域、一般發育區域和不發育區域三個等級。
4.如權利要求1所述的礦山井下導水構造帶的探測定位方法，其中，所述第一探層預設距離為60米。
5.如權利要求1所述的礦山井下導水構造帶的探測定位方法，其中，所述導水構造帶富水性分為高、中、低三個等級。
6.如權利要求1所述的礦山井下導水構造帶的探測定位方法，其中，所述第二探層預設距離為20米。
7.如權利要求1所述的礦山井下導水構造帶的探測定位方法，其中，通過不同的顏色區分所述巷道預設距離內的導水構造帶的發育程度的標記、所述第一探層預設距離內的導水構造帶的富水性分級的標記和所述第二探層預設距離內的含水區域的標記。
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