[發明專利]地基天線溫度補償方法

有效

• 申請號: 201310429034.8
• 申請日: 2013-09-17
• 公開（公告）號: CN103473421A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 朱敏波;葉海洋;馬維超;王從思;黃進;周生懷;連培園
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 陜西電子工業專利中心 61205
• 代理人: 王品華;朱紅星

技術領域

本發明涉及天線技術領域，具體是一種地基天線溫度的補償方法，可用于地面通信天線、射電天文望遠鏡等諸多方面。

背景技術

隨著科學技術的發展，反射面天線應用到了地面通信天線、射電天文望遠鏡和星載可展開天線等諸多方面，同時也對反射面天線電性能指標提出了更高的要求，例如高增益、窄波束、高效率等，這必然會對反射面天線的電磁設計和結構設計帶來難度。反射面天線通常工作在較高的頻段，為了追求更高電性能指標，對天線結構的精度提出了更高的要求，即使天線結構設計合理，其電磁性能也會受到很多因素的影響，例如，重力、風荷、溫度等因素都會引起天線的結構變形，因此必須對影響天線性能的這些因素進行補償。但在現有的天線補償多數都是針對重力變形而實施的，針對溫度變形的研究并不常見，由于溫度場受到環境溫度、風速、天氣陰晴變化、天線工作姿態等很多因素的影響，其引起的天線結構變化會對天線的電性能產生更為嚴重的影響，目前針對溫度變形的實時補償并沒有行之有效的方法，導致天線的電性能低。

發明內容

本發明的目的在于針對上述已有技術的不足，提出一種地基天線溫度補償方法，以對天線結構的變化進行實時補償，提高天線的電性能。

實現本發明目的地技術思路是：通過預先存儲在數據庫中的地基天線溫度變形的補償信息，針對實時溫度場判斷插值條件，利用存儲的信息和特定的插值算法求出該溫度環境下的溫度補償副面調整量，其實現步驟包括如下：

（1）獲取地基反射面天線所在位置的時間參數，地理位置參數，天線面板參數和姿態參數；

（2）根據步驟（1）中的參數，計算天線的太陽直射點位置；

（3）將天線面板分成M×N塊，其中M≥1，N≥2；

（4）根據步驟（2）中天線的太陽直射點位置，確定直射點所在天線面板塊區；

（5）根據天線的環境溫度T_ch和面板的最高溫度T_cmax，計算太陽照射因子A_x：

Ax=Tcmax-TchΔTmax,]]>

式中，ΔT_max為仿真得到的最強太陽照射下面板最高溫度與仿真環境溫度之差；

（6）建立天線熱變形副面位置補償調整表：

（6a）用太陽直射到每塊面板中心時的最高環境溫度T_hmax、最大照射因子A_max、最小照射因子A_min、最低環境溫度T_hmin和適中環境溫度T_zhong這5個參數，組合成6種極端條件，利用I-DEAS軟件計算出每種極端條件下的天線溫度場，即：

在最高環境溫度T_hmax，最大照射因子A_max條件下的天線溫度場T1，

在最高環境溫度T_hmax，最小照射因子A_min條件下的天線溫度場T2，

在最低環境溫度T_hmin，最大照射因子A_max條件下的天線溫度場T3，

在最低環境溫度T_hmin，最小照射因子A_min條件下的天線溫度場T4，

在適中環境溫度T_zhong，最大照射因子A_max條件下的天線溫度場T5，

在適中環境溫度T_zhong，最小照射因子A_min條件下的天線溫度場T6；