[發明專利]用于測試電子元件抗彎曲和耐應力能力的測試裝置

在審

• 申請號: 201310426004.1
• 申請日: 2013-09-17
• 公開（公告）號: CN104458437A
• 公開（公告）日: 2015-03-25
• 發明（設計）人: 方玉胡;葛藍;崔斌;陳逵;蘇升衛;楊善明
• 申請（專利權）人: 珠海格力電器股份有限公司;格力電器（合肥）有限公司
• 主分類號: G01N3/20
• 分類號: G01N3/20;G01N3/08
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 魏曉波

技術領域

本發明涉及電子技術領域,更具體的涉及一種用于測試電子元件抗彎曲和耐應力能力的測試裝置。

背景技術

目前在電子行業,微小元器件和易破碎元器件因形變應力損傷失效是一個重點問題項目,對元件耐應力測試和抗彎曲能力測試是評估元件質量的重要手段。

目前,電子行業中測試電子元件抗彎曲和耐應力能力的測試手段并不統一，部分電子元件的測試無法提供確定的測試數據。比如，貼片電容，貼片電阻等電子元件的測試項目，通常是采用手動測試的方法。采用手動按壓電子元件的測試方法，無法提供電子元件的精確形變量數據，而且施加于電子元件的壓力及施壓時間不夠精確，因此，在測試上述電子元件時，無法提供具體的、可靠的數據，試驗數據起不到參考意義。

因此，如何解決現有技術中電子元件測試無法提供具體可靠地試驗數據的問題，成為本領域技術人員所要解決的重要技術問題。

發明內容

本發明提供了一種用于測試電子元件抗彎曲和耐應力能力的測試裝置,其能夠提供精確可靠地試驗數據，進而可以精確地對電子元件抗彎曲和耐應力能力進行測試。

本發明提供的一種用于測試電子元件抗彎曲和耐應力能力的測試裝置,包括：

用于固定電子元件的夾具；

用于按壓所述電子元件的按壓部件；

驅動所述按壓部件對所述電子元件進行按壓的驅動裝置；

控制所述驅動裝置的驅動行程和對所述電子元件的按壓時間的控制裝置；

用于感應施加于所述電子元件的按壓力的壓力感應裝置。

優選地,還包括用于顯示所述電子元件的變形量、所述按壓時間和所述按壓力的顯示裝置。

優選地,還包括用于設置預設時間的時間預設模塊,當所述按壓時間等于所述預設時間時,所述控制裝置控制所述驅動裝置松開對所述電子元件的按壓。

優選地,所述驅動裝置為氣缸。

優選地,所述夾具包括底座和連接于所述底座上的兩個支座,兩個所述支座之間具有間隙,所述電子元件搭在兩個所述支座上。

優選地,所述支座包括支座本體和設置于所述支座本體的上部的兩個夾緊塊,兩個所述夾緊塊之間形成用于夾持所述電子元件的空間。

優選地,所述夾緊塊通過松緊調節螺栓連接于所述支座本體上。

優選地,所述底座上設有滑軌,兩個所述支座通過所述滑軌連接于所述底座。

本發明提供的一種用于測試電子元件抗彎曲和耐應力能力的測試裝置,包括：用于固定電子元件的夾具;用于按壓所述電子元件的按壓部件；驅動所述按壓部件對所述電子元件進行按壓的驅動裝置;控制所述驅動裝置的驅動行程和對所述電子元件的按壓時間的控制裝置；用于感應施加于所述電子元件的按壓力的壓力感應裝置。如此設置,通過本發明提供的測試裝置對電子元件進行測試時,首先將電子元件放置在夾具上,而后控制裝置控制驅動裝置啟動,驅動裝置驅動按壓部件按壓在電子元件上,由于控制裝置能夠控制驅動裝置的驅動行程，故可精確地控制電子元件的變形量,待驅動裝置驅動按壓部件運動到預定位置后,電子元件在按壓部件的按壓作用下,產生變形，此時，壓力感應裝置感應電子元件受到的壓力，待按壓到預定時間后，控制裝置控制驅動裝置驅動按壓部件收回。顯然,本發明提供的測試裝置,能夠精確地控制電子元件的變形量和按壓時間,并能通過壓力感應裝置精確地感應按壓力的大小。因此,本發明提供的用于測試電子元件抗彎曲和耐應力能力的測試裝置,其能夠提供精確可靠地試驗數據,進而可以精確地對電子元件抗彎曲和耐應力能力進行測試。

附圖說明

圖1為本發明具體實施方式中夾具的結構示意圖；

圖1中：

夾具-1、按壓部件-2、底座-3、支座-4、電子元件-5、支座本體-6、夾緊塊-7、松緊調節螺栓-8、滑軌-9。

具體實施方式

本具體實施方式提供了一種用于測試電子元件抗彎曲和耐應力能力的測試裝置,其能夠提供精確可靠地試驗數據,進而可以精確地對電子元件抗彎曲和耐應力能力進行測試。

為了使本領域技術人員更好的理解本發明技術方案，下面將結合本發明實施例中的附圖,對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例,本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發明保護的范圍。