[發明專利]光源頻閃測試裝置

無效

• 申請號: 201310424557.3
• 申請日: 2013-09-17
• 公開（公告）號: CN103487238A
• 公開（公告）日: 2014-01-01
• 發明（設計）人: 趙勇兵;裴艷榮;朱紹歆;田婷;郭金霞;楊華;伊曉燕;王國宏;李晉閩
• 申請（專利權）人: 中國科學院半導體研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 湯保平

1.一種光源頻閃測試裝置，包括：

一發射器，用于將電信號施加至被測試光源，生成發射角度變化的測試光信號；

一接收器，用于接收測試光信號，將光信號轉變為電信號；

其中發射器與接收器為無線連接。

2.如權利要求1所述的光源頻閃測試裝置，其中所述發射器包括電源和與之連接的光發射支架。

3.如權利要求2所述的光源頻閃測試裝置，其中所述電源為可調的交流電源，頻率為0-100Hz，電壓為0-500V，為測試光源供電。

4.如權利要求2所述的光源頻閃測試裝置，其中所述光發射支架包括一固定支架和與之連接的一可變角度支架，該可變角度支架用于夾持所述被測試光源。

5.如權利要求4所述的光源頻閃測試裝置，其中所述可變角度支架的旋轉軸的角度可調范圍為0°-180°。

6.根據權利要求1所述的光源頻閃測試裝置，其中所述接收器包括一示波器和與之連接的光電探測器。

7.根據權利要求6所述的光源頻閃測試裝置，其中所述光電探測器為PIN光電探測器或是APD光電探測器。

8.根據權利要求6所述的光源頻閃測試裝置，其中所述示波器是將電信號隨時間的變化輸出顯示。