[發明專利]光學觸控校正方法及光學觸控面板

有效

• 申請號: 201310424336.6
• 申請日: 2013-09-17
• 公開（公告）號: CN104423725B
• 公開（公告）日: 2017-09-01
• 發明（設計）人: 呂幗閑;陳裕彥
• 申請（專利權）人: 緯創資通股份有限公司
• 主分類號: G06F3/042
• 分類號: G06F3/042
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所11105
• 代理人: 史新宏

技術領域

本發明涉及觸控面板，特別是涉及一種光學觸控面板及其控制方法。

背景技術

在光學觸控系統下，光學感測器固定于觸控區的左右上角位置，因為外力會改變觸控的平面，造成觸控面板的形變，可能影響光學感測器（optical sensor）固定在左右上角平面的位置，使光學感測器的收光角度因此改變，導致接收的光訊號強度不足，進而產生雜訊或觸控失準（如觸控感測時發生觸控訊號跳點等現象）。

目前市面上所有的光學觸控模塊大多采用使用平面型光學感測器（area optical sensor）來克服上述面板形變問題。由于，平面型光學感測器的可視角度為多角度，當觸控平面發生形變時，平面型光學感測器可重新選擇其他最佳的可視角度。然而，平面型光學感測器在制造工藝上較為復雜、成本較高、占用體積也較大且消耗功率較高。再者，由于平面型光學感測器需要選擇最佳可視角度（例如挑選對應不同角度的訊號線）的額外步驟，在運算上也需要較多時間取像。

發明內容

有鑒于此，本發明提供一種光學觸控校正方法及光學觸控面板，其光學觸控面板中設置線性光感測器（line optical sensor），藉由線性光感測器得到相對于線性座標的反射強度曲線，當光學觸控面板上發生形變時，計算反射強度曲線與基準強度曲線的強度差異，調整光源的強度來校正光學觸控面板的形變誤差，以解決上述問題。

依據本發明的一實施態樣，其揭示一種光學觸控校正方法，用于光學觸控面板其包含投射光源以及線性光感測器，光學觸控校正方法包含：以投射光源產生投射光線，投射光線經反射至線性光感測器；利用線性光感測器量測反射后的投射光線，以得到相對于線性座標的反射強度曲線；計算量測到的反射強度曲線與基準強度曲線的強度差異；以及，若強度差異高于第一閾值，調整投射光源的發射功率以進行校正。

依據本發明的另一實施態樣，其揭示一種光學觸控面板，包含邊框、投射光源、反射單元、線性光感測器以及控制單元。投射光源設置于邊框上，并用以產生投射光線。反射單元設置于邊框上，并用以反射投射光線。線性光感測器設置于邊框的第一側邊上，用以接收經反射的投射光線，并量測反射后的投射光線，以得到相對于線性座標的反射強度曲線。控制單元與投射光源以及線性光感測器耦接，用以計算量測到的反射強度曲線與基準強度曲線的強度差異，若強度差異高于第一閾值，調整投射光源的發射功率以進行校正。

附圖說明

為使本發明能更明顯易懂，本發明附圖說明如下：

圖1示出了根據本發明中一種光學觸控校正方法的方法流程圖；

圖2A示出了根據本發明中一種光學觸控面板的上視示意圖；

圖2B示出了圖2A中光學觸控面板的功能方塊圖；

圖3A示出了當光學觸控面板的面板區域未發生板彎形變時的側視示意圖；

圖3B示出了當光學觸控面板的面板區域發生板彎形變時的側視示意圖；

圖4A至圖4D示出了各種不同情況下線性光感測器感測的反射強度曲線的示意圖；以及

圖4E示出了圖4C中的反射強度曲線經校正后的反射強度曲線的示意圖。

附圖符號說明

為讓本發明內容能更明顯易懂，附圖符號的說明如下：

100：光學觸控校正方法

S100～S112：步驟

200：光學觸控面板

201：面板區域

210：邊框

211、212、213：側邊

220：投射光源

230：反射單元

240：線性光感測器

250：控制單元

260：觸控單元

DIF：強度差異

RF1：第一閾值

RF2：第二閾值

具體實施方式

以下將以附圖及詳細敘述清楚說明本發明內容的精神，本領域技術人員在了解本發明內容的較佳實施例后，可由本發明內容所教示的技術，加以改變及修飾，其并不脫離本發明內容的精神與范圍。

請參閱圖1，其示出了根據本發明中一種光學觸控校正方法100的方法流程圖。于本實施例中，光學觸控校正方法100適用于光學觸控面板上，其至少包含投射光源以及線性光感測器。請一并參閱圖2A與圖2B，圖2A示出了根據本發明中一種光學觸控面板200的上視示意圖，圖2B示出了圖2A中光學觸控面板200的功能方塊圖。于此實施例中，光學觸控校正方法100可配合光學觸控面板200使用。