[發明專利]試樣分析裝置

有效

• 申請號: 201310423716.8
• 申請日: 2013-09-17
• 公開（公告）號: CN103675310A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 豐島弘人;增谷晃一
• 申請（專利權）人: 希森美康株式會社
• 主分類號: G01N35/02
• 分類號: G01N35/02
• 代理公司: 北京市安倫律師事務所 11339
• 代理人: 劉良勇;楊永波

技術領域

本發明涉及一種用耗材進行分析的試樣分析裝置。

背景技術

人們已經知道有一種分析裝置將無規則地收納的多個移液管吸頭和反應杯等耗材排成一列并將其逐一供應到一定位置，然后用這些耗材進行分析。

日本公開專利申請（Japanese?Laid-Open?Patent?Application）No.2003-83999號和日本公開專利申請（Japanese?Laid-Open?Patent?Application）No.2007-240466中公開了一種具有移液管吸頭供應單元和反應杯供應單元的自動分析裝置。日本公開專利申請（Japanese?Laid-Open?Patent?Application）No.2007-240466中記述了一種反應杯區分構件部分，它將一定量的反應杯逐一區分，并將區分后的反應杯移送到一定位置。上述移液管吸頭和反應杯從不同的放入口補充到分析裝置中。

發明內容

本發明的范圍只由后附權利要求所規定，在任何程度上都不受這一節發明內容的陳述所限。

因此，本發明提供：

（1）一種試樣分析裝置，該試樣分析裝置具有：用第一耗材和形狀不同于第一耗材的第二耗材測定試樣的測定構件部分、用于放入第一耗材的第一放入口、將從所述第一放入口放入的第一耗材供應給所述測定構件部分的供應部件、區分從所述第一放入口放入的第一耗材和從所述第一放入口放入的第二耗材的區分部件、用于收納所述區分部件區分的第二耗材的收納部件。

（2）根據（1）所述的試樣分析裝置，還具有：將所述區分部件區分的第二耗材引導至所述收納部件的引導部件。

（3）根據（2）所述的試樣分析裝置，其中：所述引導部件使所述區分部件區分的第二耗材滑落并將其引導至所述收納部件中。

（4）根據（1）所述的試樣分析裝置，其中：所述測定構件部分具有分裝液體的液體分裝構件和測定試樣的檢測部件。

（5）根據（1）所述的試樣分析裝置，還具有：用于放入所述第二耗材的第二放入口。

（6）根據（5）所述的試樣分析裝置，其中：所述第一放入口和所述第二放入口相鄰配置。

（7）根據（1）所述的試樣分析裝置，其中：所述區分部件在所述供應部件供應第一耗材的供應路徑上區分第一耗材和第二耗材。

（8）根據（7）所述的試樣分析裝置，其中：所述區分部件具有讓所述第二耗材通過但不讓所述第一耗材通過的間隙。

（9）根據（8）所述的試樣分析裝置，其中：所述供應部件有與第一耗材嚙合并逐一移送第一耗材的一對移送軌，所述間隙為所述一對移送軌之間的空間。

（10）根據（9）所述的試樣分析裝置，其中：所述一對移送軌之間設有小于第一耗材的最大直徑且大于第二耗材的最大直徑的間隙。

（11）根據（2）所述的試樣分析裝置，其中：所述區分部件移送所述第一耗材并且使小于所述第一耗材的第二耗材下落，所述引導部件將從所述區分部件下落的第二耗材引導至所述收納部件。

（12）根據（1）所述的試樣分析裝置，還具有：用于檢測出所述區分部件區分的所述第二耗材的檢出部件。

（13）根據（12）所述的試樣分析裝置，還具有：用于通知所述檢出部件的檢出結果的通知部件。

（14）根據（12）所述的試樣分析裝置，還具有：在所述檢出部件檢測出所述第二耗材時接受用于停止所述供應部件的供應作業的指示輸入的接受部件。

（15）根據（12）所述的試樣分析裝置，還具有：在所述檢出部件檢測出所述第二耗材時，使所述供應部件的供應作業自動停止的控制部件。

（16）根據（15）所述的試樣分析裝置，其中：所述供應部件在停止供應作業時將已經移送到一定位置的第一耗材供應給所述測定構件部分。

（17）根據（1）所述的試樣分析裝置，其中：所述收納部件設置在裝置內部，且所述收納部件能夠取出至裝置外部。

（18）根據（1）所述的試樣分析裝置，其中：第一耗材是用于制備測定試樣的反應杯，第二耗材是安裝在吸嘴前端的移液管吸頭。

（19）根據（1）所述的試樣分析裝置，其中：所述供應部件還具有儲存從所述第一放入口放入的第一耗材的儲存部件。

（20）根據（19）所述的試樣分析裝置，其中：所述區分部件在所述儲存部件下游的第一耗材的供應路徑上區分第一耗材和第二耗材。