[發明專利]兩齒螺旋立銑刀刀齒半徑不對稱誤差檢測系統及其方法無效
| 申請號: | 201310422595.5 | 申請日: | 2013-09-16 |
| 公開(公告)號: | CN103481121A | 公開(公告)日: | 2014-01-01 |
| 發明(設計)人: | 張為民;董新峰;李鵬忠 | 申請(專利權)人: | 同濟大學 |
| 主分類號: | B23Q17/09 | 分類號: | B23Q17/09 |
| 代理公司: | 上海天協和誠知識產權代理事務所 31216 | 代理人: | 葉鳳 |
| 地址: | 200092 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 螺旋 銑刀 半徑 不對稱 誤差 檢測 系統 及其 方法 | ||
1.一種兩齒螺旋立銑刀刀齒半徑不對稱誤差檢測系統,其特征在于,整個檢測系統主要涉及銑削力測試系統設計和薄壁結構設計兩部分,其中銑削力測試系統主要由兩刃螺旋平底立銑刀1、薄壁工件2、Kistler三向銑削力測力儀3、高阻抗數據傳輸線4、電荷放大器5、數據采集卡6和計算機7組成,
所述計算機7為對信號進行存儲、預處理與數據分析;
銑刀1對薄壁工件2進行側面立式銑削,Kistler測力儀3將刀具與工件間的作用力轉變成電荷信號,信號經高阻抗數據傳輸線4送達電荷放大器5,電荷放大器5將電荷信號轉換為電壓信號,數據采集卡6對電壓信號進行采集,并將數據保存到計算機7中;
所述Kistler測力儀3為通過壓電效應將銑削時產生的銑削力轉換為電荷信號;
所述高阻抗數據傳輸線4為將電荷信號進行傳輸,測力儀3獲得的電荷量較小,且容易泄露,高阻抗數據傳輸線能將小電荷量電荷進行安全傳輸;
所述電荷放大器5為對電荷進行放大并轉換成電壓信號,測力儀輸出的電荷信號較微弱,為便于采集,需要電荷放大器5對電荷進行放大并轉換為電壓信號;
所述數據采集卡6為將放大的電信號進行采集量化;
所述計算機包括存儲模塊、信號預處理模塊和數據分析模塊;數據采集卡6采集的信號分別通過計算機的信號預處理模塊、數據分析模塊對信號進行處理和分析,從而輸出獲得銑刀半徑不對稱誤差值;
薄壁工件2主要有定位孔9、安裝底座10以及懸臂結構11構成;所述定位孔9為將工件定位在Kistler測力儀3上表面,確定薄壁件的正確位置;所述定安裝底座10為將工件固定在工作臺上,并對其進行夾緊;所述薄壁懸臂結構11為銑削加工部位,銑削此部位獲得銑削力。
2.一種兩齒螺旋立銑刀刀齒半徑不對稱誤差檢測方法,其特征在于,包括步驟:
步驟1,實驗平臺的構建
搭建好銑削力測試系統和設計好薄壁結構;
步驟2,銑削力信號的去噪處理
采用異常值剔除及小波包分解去噪方法對銑削力信號進行預處理,
步驟2.1采用Chauvenet和Gubbs公式對異常數據進行剔除,其表達式為:
|xi-μX|>cσ??(1)
其中xi為第i次的采集值,μX為樣本的平均值,σ為樣本的方差,c為調整參數。
步驟2.2采用Sqtwolog規則確定濾波閾值,數據處理過程如下:
(1)信號的小波包分解:選擇小波基對銑削力信號進行N層小波包分解;
(2)小波包分解高頻系數的閾值量化:對各個分解尺度下的高頻系數確定閾值并進行閾值化處理;
(3)小波包重構:根據第N層小波包分解低頻系數和量化處理系數進行小波重構;
(4)靜態零點漂移剔除:整個測量系統存在靜態零漂,對小波包閾值去噪后的信號進行零漂剔除處理;
步驟3,名義銑削力的構建
銑刀刀齒半徑不對稱誤差造成長、短齒銑削力信號不同,為獲得精確的解析銑削力系數,需要構建名義銑削力,即單個齒的銑削力構造銑削力;
步驟4,銑刀刀齒半徑不對稱公式構建
根據名義銑削力可獲得對應的名義銑削力系數,計算公式如式(2)-(5)所示。
其中參數pl,ps分別為銑削刃長、短齒與切削時刀具轉過的角度,表示為:
cl,cs為長、短齒的每齒進給量,
分別為X,Y方向長、短齒名義銑削力的平均值,
根據切向、徑向銑削力系數與刀具旋轉半徑無關的假設,得到:
以式(7)為例計算刀具長、短齒旋轉半徑,記刀具長、短齒半徑通過式(9)獲得:
其中,
根據式(9)得到若干組實驗對應的刀具旋轉半徑rl、rs,在銑削實驗中,獲得置信水平為a時,長、短齒旋轉半徑均值及方差的置信區間,如式(10)-(11)所示:
獲得均值和方差的置信區間,取rl均值、rs均值區間的均值作為長、短齒旋轉半徑,最終獲得刀齒半徑差。
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