[發明專利]一種葡萄糖檢測用Cu基CuO薄膜電極及其制備方法有效
| 申請號: | 201310419918.5 | 申請日: | 2013-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN103454328A | 公開(公告)日: | 2013-12-18 |
| 發明(設計)人: | 李綱;湯慧萍;張文彥;李廣忠;遲煜頔;李亞寧;康新婷;沈壘 | 申請(專利權)人: | 西北有色金屬研究院 |
| 主分類號: | G01N27/327 | 分類號: | G01N27/327 |
| 代理公司: | 西安創知專利事務所 61213 | 代理人: | 譚文琰 |
| 地址: | 710016*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 葡萄糖 檢測 cu cuo 薄膜 電極 及其 制備 方法 | ||
1.一種葡萄糖檢測用Cu基CuO薄膜電極,其特征在于,由Cu基片和附著于Cu基片表面的CuO薄膜組成,所述CuO薄膜由多個花狀結構單元組成,所述花狀結構單元由垂直于Cu基片的CuO納米片自組裝而成;所述CuO納米片的厚度為20nm~30nm,寬度為0.5μm~1.0μm,所述CuO薄膜的厚度為150nm~300nm。
2.一種制備如權利要求1所述Cu基CuO薄膜電極的方法,其特征在于,該方法包括以下步驟:
步驟一、采用具有(111)晶面高度擇優取向的Cu基片,將所述Cu基片在乙醇中超聲除油,然后置于0.5mol/L~1.5mol/L的HCl溶液中超聲刻蝕15min~30min,再用去離子水清洗后自然風干;所述具有(111)晶面高度擇優取向是指經X射線衍射檢測,(111)晶面衍射峰的強度與(200)晶面衍射峰的強度之比不小于20;
步驟二、將步驟一中自然風干后的Cu基片平放在聚四氟乙烯平臺上,然后一同置于容積為500mL~1000mL的帶四氟乙烯內襯的水熱反應釜中,向水熱反應釜和聚四氟乙烯平臺之間的空隙中添加20mL~40mL去離子水,最后將水熱反應釜密封后置于烘箱內,在溫度為160℃~180℃的條件下利用蒸汽對Cu基片進行4h~8h的蒸汽熱處理,得到Cu基CuO薄膜電極。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,步驟一中所述Cu基片的厚度為0.1mm~1mm,長度為20mm~60mm,寬度為5mm~25mm。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,步驟一中所述Cu基片的質量純度不小于99.5%。
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