[發明專利]為了非易失性存儲器中的耗損均衡測量單元損傷

有效

• 申請號: 201310418813.8
• 申請日: 2013-09-13
• 公開（公告）號: CN103678146B
• 公開（公告）日: 2018-09-28
• 發明（設計）人: 李艷;亞歷山大·胡布里斯;鐘浩
• 申請（專利權）人: 希捷科技有限公司
• 主分類號: G06F12/02
• 分類號: G06F12/02;G06F11/07
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 王田

1.一種用于耗損均衡的方法，包括：

在包括一個或多個部分的非易失性存儲器(NVM)中，從所述一個或多個部分的一個特定部分的至少一個或多個單元中檢測初始錯誤，所述一個或多個部分的每一者包括一個或多個單元；

確定所述初始錯誤是否為特定錯誤狀態；

響應于確定所述初始錯誤為特定錯誤狀態，重新編程至少所述特定部分的子部分并且回讀所述單元中的所述至少一個，并且所述子部分包括所述單元的所述至少一個；

檢測經重新編程和經回讀的所述單元中的所述至少一個是否包括后續錯誤；以及

響應于檢測所述單元中的所述至少一個是否包括后續錯誤，將所述特定錯誤狀態記錄為第一類型錯誤狀態。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述第一類型錯誤狀態為編程故障和擦除故障中的一個或多個。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述確定包括將正向糾錯解碼應用于所述特定部分的子部分，所述子部分包括所述單元中的所述至少一個。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，所述檢測所述后續錯誤包括重新編程和/或擦除至少所述特定部分的子部分并且回讀所述單元中的所述至少一個，并且所述子部分包括所述單元中的所述至少一個。

5.一種用于耗損均衡的裝置，包括：

非易失性存儲器(NVM)，包括一個或多個部分；所述一個或多個部分的每一者包括一個或多個單元；

測量硬件邏輯電路，能夠檢測所述單元中的一個或多個的初始錯誤，以及確定來自所述一個或多個部分的一個特定部分的所述一個或多個單元的至少一個中的所述初始錯誤是否為特定錯誤狀態；

重試硬件邏輯電路，能夠響應于所述測量硬件邏輯電路確定所述初始錯誤是否為特定錯誤狀態，重新編程至少所述特定部分的子部分并且回讀所述單元中的所述至少一個，并且所述子部分包括所述單元的所述至少一個；以及

故障檢測硬件邏輯電路，能夠檢測經重新編程和經回讀的所述單元中的所述至少一個是否包括后續錯誤，以及響應于檢測所述單元中的所述至少一個是否包括后續錯誤，將所述特定錯誤狀態記錄為第一類型錯誤狀態。

6.根據權利要求5所述的裝置，其中，所述第一類型錯誤狀態為編程故障和擦除故障中的一個或多個。

7.根據權利要求5所述的裝置，其中，所述測量硬件邏輯電路包括：

確定硬件邏輯電路，能夠確定從所述部分中的一個特定部分的所述單元中的至少一個讀取的錯誤是單元損傷和單元泄漏中的一個或多個導致的；以及

損傷檢測硬件邏輯電路，能夠檢測所述錯誤是損傷單元導致的。

8.根據權利要求7所述的裝置，其中，所述確定硬件邏輯電路包括解碼硬件邏輯電路，所述解碼硬件邏輯電路將正向糾錯解碼應用于所述特定部分的子部分，所述子部分包括所述單元中的所述至少一個。