[發明專利]一種基于AIG和SAT求解器的GSTE模型檢測方法在審
| 申請號: | 201310418675.3 | 申請日: | 2013-09-14 |
| 公開(公告)號: | CN103838908A | 公開(公告)日: | 2014-06-04 |
| 發明(設計)人: | 楊國武;崔曉爽;高毅;康文濤;牛偉納;張艷;徐永生;楊俊;楊緒鵬;周志慧 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 成都華典專利事務所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 徐豐;楊保剛 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 aig sat 求解 gste 模型 檢測 方法 | ||
1.一種基于AIG和SAT求解器的GSTE模型檢測方法,其特征在于包括以下步驟:
步驟1,使用ABC工具建立AIG模型;將該AIG轉化成FRAIG,同時使用邏輯綜合算法化簡該FRAIG,減小AIG規模;
步驟2,計算每條邊上的狀態集不動點Ψ*,在第一步中得到的AIG表示整個電路,也作為計算中使用的狀態遷移函數,不動點計算公式如下:
其中e表示邊,e-表示e的入邊,Ψ表示狀態集,使用FRAIG表示,ψn(e)表示當前已經計算出的存于邊上的狀態集合,ψn+1(e)表示下一步計算的狀態集合;Post()是狀態遷移函數,是給定一個狀態集和一個遷移關系,經過遷移后得到的狀態集;in(e)表示斷言圖中邊e的入邊,ant(e)表示邊上的ant狀態集,在下面出現的ψn*(e)表示狀態集不動點,cons(e)表示邊上的cons狀態集;
步驟3:將算得的每條邊上的不動點和相應邊上的cons做驗證,若則報錯,并通過反向遷移找到反例;
步驟4:判斷每條邊上的狀態集是否到達不動點,若到達不動點,完成本次驗證,否則返回步驟2,進行下一輪狀態集的計算。
2.根據權利要求1所述的一種基于AIG和SAT求解器的GSTE模型檢測方法,其特征在于:所述步驟1中,建立AIG保存用于系統遷移關系和表示性質的斷言圖,斷言圖的一條邊用一個AIG表示,這些AIG具有相同名稱的輸出端口,并保持與遷移關系AIG的輸出端口不同名;
步驟1中初始建立的遷移關系的AIG是用多個等式的形式表示遷移關系,使用下面方法改造AIG,使其使用一個等式的形式表示遷移關系:
(1.1)一個AIG中每一個輸出端口和AIG網絡中的“與”節點表示一個等式關系,根據香農展開公式,改造當前AIG,將等式變成同或式,最終用一個輸出端口表示這些同或關系式;
(1.2)使用邏輯綜合算法對(1.1)中得到網絡化簡;
(1.3)使用ABC命令或者調用其內部函數,將(1.2)中得到的網絡轉化成FRAIG,同時對該FRAIG使用邏輯綜合命令化簡。
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