[發明專利]一種提高金屬表面裂紋渦流檢測極限靈敏度的方法

有效

• 申請號: 201310417181.3
• 申請日: 2013-09-13
• 公開（公告）號: CN103454343A
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: 林俊明
• 申請（專利權）人: 愛德森（廈門）電子有限公司
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

所屬技術領域

本發明涉及一種無損檢測方法，特別是涉及一種提高金屬表面裂紋渦流檢測極限靈敏度的方法。

背景技術

渦流檢測方法是檢測金屬表面裂紋缺陷的常用檢測方法，由于電子儀器內部電路及外部電磁干擾導致的信號噪聲干擾問題，常規渦流檢測方法具有一定的極限靈敏度，只能發現一定深度的金屬表面裂紋缺陷，小于其深度的微小裂紋缺陷，由于其裂紋缺陷渦流信號極其微弱，無法與噪聲干擾信號區分，因此常規渦流檢測方法無法檢測。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術之不足，提供一種提高金屬表面裂紋渦流檢測極限靈敏度的方法，基于渦流檢測中金屬材料表面裂紋缺陷不能突變、位置恒定且按一定規律延伸、?而噪聲干擾信號隨機變化的特點，采用三維時間窗時基記憶線信號三維成像顯示?方式，通過標定信號時間窗內?的多次掃查的渦流檢測信號并予成像。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種提高金屬表面裂紋渦流檢測極限靈敏度的方法，其特征在于：基于渦流檢測中金屬材料表面裂紋缺陷不能突變、位置恒定且按一定規律延伸、?而噪聲干擾信號隨機變化的特點，所述檢測方法包括如下步驟，

a.?將渦流檢測儀的信號顯示方式設置為三維時間窗時基記憶線信號三維成像顯示?方式，即渦流檢測時基信號顯示并保留在三維時間窗內，三維時間窗的x軸為信號時間、y軸為垂直于掃查方向的探頭平移距離、z軸為信號幅度；

b.?渦流檢測探頭放置在在被檢金屬工件表面上的一端，以恒定的速度沿著掃查路徑掃查至另一端，反復掃查多次，取其平均值，將處理過的渦流檢測信號顯示并保留在三維時間窗內；?

c.?而后將渦流檢測探頭放置在步驟b中掃查路徑的開始端點垂直于掃查方向平移一個間距的位置點，平移的間距應小于渦流檢測探頭的探測面寬度，再以相同的速度平行于步驟b中掃查路徑掃查至末端，反復掃查多次，取其平均值，將處理過的渦流檢測信號顯示并保留在三維時間窗內；依次平移掃查，直至完成對被檢金屬工件表面的掃查；多次掃查的渦流檢測信號顯示并保留在三維時間窗內，組成時基記憶線信號三維成像圖；由于微小裂紋缺陷不能突變、位置恒定且按一定規律延伸，因此微小裂紋缺陷渦流信號在時基記憶線信號三維成像圖中將按照微小裂紋缺陷的位置規律分布，而噪聲干擾信號在時基記憶線信號三維成像圖中的位置、形狀、強度隨機變化，因此經過多次掃查獲得的時基記憶線信號三維成像圖中的微小裂紋缺陷渦流信號將明顯區別于噪聲干擾信號；

d.?通過目視觀測三維時間窗內的時基記憶線信號三維成像圖，即可讀取微小裂紋缺陷的信息。

本發明的有益效果是，提供一種提高金屬表面裂紋渦流檢測極限靈敏度的方法，基于渦流檢測中金屬材料表面裂紋缺陷不能突變、位置恒定且按一定規律延伸、?而噪聲干擾信號隨機變化的特點，采用三維時間窗時基記憶線信號三維成像顯示?方式，通過標定信號時間窗內?的多次掃查的渦流檢測信號并予成像，即可讀取常規渦流檢測無法檢測到的微小裂紋缺陷信息，有效提高了渦流檢測極限靈敏度，適用于檢測靈敏度與精度要求較高的金屬表面裂紋缺陷檢測工作。

以下結合實施例對本發明作進一步詳細說明，但本發明的一種提高金屬表面裂紋渦流檢測極限靈敏度的方法不局限于實施例。

附圖說明

下面結合附圖和實施例對本發明進一步說明。

圖1是本發明實施例的被檢工件的掃查方法示意圖。

圖2是本發明實施例的三維時間窗時基記憶線信號三維成像示意圖。

圖中，A．被檢金屬工件，B．渦流檢測探頭，C．微小裂紋缺陷，D．掃查路徑，?h．垂直于掃查方向的探頭平移間距，L．渦流檢測探頭的探測面寬度，x(v)．信號幅度，x(t)．信號時間，x(h)．垂直于掃查方向的探頭平移距離，Z．噪聲干擾信號。

具體實施方式

如圖1、圖2所示的實施例，一種提高金屬表面裂紋渦流檢測極限靈敏度的方法，其特征在于：基于渦流檢測中金屬材料表面裂紋缺陷不能突變、位置恒定且按一定規律延伸、?而噪聲干擾信號隨機變化的特點，所述檢測方法包括如下步驟，

a.?將渦流檢測儀的信號顯示方式設置為三維時間窗時基記憶線信號三維成像顯示?方式，即渦流檢測時基信號顯示并保留在三維時間窗內，三維時間窗的x軸為信號時間x(t)、y軸為垂直于掃查方向的探頭平移距離x(h)、z軸為信號幅度x(v)；