[發明專利]微粒分析設備和微粒分析方法

在審

• 申請號: 201310415518.7
• 申請日: 2013-09-12
• 公開（公告）號: CN103674896A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 田原克俊
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G01N21/47
• 分類號: G01N21/47;G01N21/01
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

技術領域

本公開涉及微粒分析設備和微粒分析方法。具體地，涉及能夠提高從微粒產生的前向散射光的檢測精度的技術。

背景技術

在現有技術中，已經使用了一種微粒分析設備，該設備向在微芯片中形成的流動池或通路中流動的微粒輻射光且檢測從該微粒產生的散射光和從該微粒或標記在該微粒上的熒光物質產生的熒光。這種微粒分析設備通過檢測從該微粒產生的散射光和熒光等來測量作為分析對象的微粒的光性能。此外，已經使用了這樣一種設備（可以被稱為“流式細胞儀”或“細胞分類器”），所述設備采用了分類和僅恢復具有給定特征的微粒的分離系統配置。

在微粒分析設備技術領域中，為了提高從作為分析對象的微粒產生的熒光和散射光的檢測精度和分析精度，已經提出了各種不同的配置。例如，JP2012-26837A提出了一種微粒測量設備，所述微粒測量設備在將從微粒產生的光引導至光檢測器的光路上具有包括熒光的發射區和散射光的發射區的光學濾波器，以更有效地獲得背向散射光和熒光。此外，JP2012-47464A描述了一種微粒測量設備，該設備包括光聚焦單元，所述光聚焦單元在被劃分為多個區域的光接收元件中聚焦沒有散射光的直射光和由微粒散射的散射光，以使得能夠執行高精度的測量。該JP2012-47464A提出了使用具有輻射光的阻擋區域和散射光的發射區域的光學濾波器，作為在微粒測量設備中的光聚焦單元。

發明內容

如上所述，盡管在微粒測量設備（微粒分析設備）領域中已經提出了提高分析精度的各種不同的方法，但期望進一步提高關于前向散射光的檢測的分析精度。

因此，在本公開中，主要的目的在于提供一種微粒分析設備，該設備能夠提高關于從作為分析對象的微粒產生的前向散射光的檢測的分析精度。

本發明的發明人以重復的方式積極地進行研究，以提高關于前向散射光的檢測的提高分析精度（檢測精度）。在其研究過程中，首先，本發明的發明人確定了由于在微粒分析設備的結構上的機械振動而不幸地引起了低頻噪聲。由于機械振動而導致的低頻噪聲是包括在發射光中而不是在從光源發出的光中由微粒發射，且該光進入檢測前向散射光的光檢測單元中。更具體地，在進入檢測前向散射光的光檢測單元的低頻噪聲中，作為分析對象的微粒的直徑小，這導致了當前向散射光的信號輸出電平較低時，SN比劣化。而且，本發明的發明人發現，當作為分析對象的微粒的直徑小且前向散射光的信號輸出電平低時，前向散射光的頻率高。隨后，他們提出一個想法，即，可以通過在那時去除低頻噪聲來防止SN比的劣化，且可以預見本技術。

根據本技術的一個實施方式，提供了一種微粒分析設備，包括：光檢測單元，被配置為檢測從作為分析對象的微粒產生的前向散射光。所述光檢測單元包括具有去除包含在進入所述光檢測單元的光中的低頻噪聲的高通濾波器電路，并根據所述的前向散射光的預定頻率切換至高通濾波器。通過這種配置，即使由于在設備的結構上的機械振動而導致的低頻噪聲進入光檢測單元，也可以在高通濾波器中去除該低頻噪聲。隨后，通過根據前向散射光的預定頻率切換至高通濾波器，當這里存在通過低頻噪聲使得由光檢測單元檢測的SN比劣化的可能性的時候，光檢測單元可以去除該低頻噪聲。在此，在本公開中，“去除低頻噪聲”不僅包括完全去除低頻噪聲還包括去除部分低頻噪聲以及減少該低頻噪聲。

優選的是，當所述預定頻率等于或高于200kHz時，所述光檢測單元切換至高通濾波器。

優選的是，所述高通濾波器去除包括在泄露光中的低頻噪聲，所述泄露光避開設置在所述微粒和光檢測單元之間的零階光去除單元，并進入所述光檢測單元。

進一步，優選的是，所述高通濾波器去除頻率低于2kHz的噪聲。

優選的是，所述電路包括從輸入側至輸出側的直接連接的通路和具有高通濾波器的通路。所述直接連接的通路和具有高通濾波器的通路并聯連接。所述電路包括開關元件，用來執行切換至所述直接連接的通路和具有高通濾波器的通路中的一個。

進一步，優選的是，所述電路包括一個放大器，被配置為放大前向散射光的檢測信號。

另外，根據本技術的一個實施方式，提供了一種微粒分析方法，包括根據從作為分析對象的微粒產生的前向散射光的預定頻率在具有高通濾波器的電路中去除包含在進入光檢測單元的光中的低頻噪聲，以分析所述微粒。