[發明專利]OLED材料和/或器件結構測試專用掩模板及測試方法

有效

• 申請號: 201310414906.3
• 申請日: 2013-09-12
• 公開（公告）號: CN103472190A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 田朝勇;劉常富;周剛;郎豐偉
• 申請（專利權）人: 四川虹視顯示技術有限公司
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00;G01M11/00
• 代理公司: 成都宏順專利代理事務所(普通合伙) 51227
• 代理人: 周永宏

技術領域

本發明屬于OLED顯示技術領域，設計OLED材料和/或器件結構的測試工序，具體涉及一種OLED材料和/或器件結構測試專用掩模板及測試方法。

背景技術

OLED材料體系設計和器件結構設計是OLED技術研究和產品開發的關鍵，而材料的優選測試和器件結構實驗是檢驗材料體系和器件結構設計的重要手段。傳統的材料優選測試和器件結構實驗通常是在一張基板上進行一項測試。為了操作方便或者結構的需要，通常一張基板上不止一個甚至多達20余個可用于測試的cell，而為達到測試目的所需的cell有一個或者幾個就足夠，這種采用一張基板進行一項測試的方法必然造成了大量的浪費。也有為了減少基板等耗材的浪費，將一張基板上的cell分割成單個cell進行測試，但是由于切割后的cell體積過小，在試驗操作時很不方便。

并且，由于需要測試材料種類繁多，可能的器件結構千差萬別，也就是說為達到測試的全面性，需要進行大量的測試，這將導致OLED材料和器件結構測試既費時費力，又浪費原材料和消耗較多的設備動力費。

發明內容

本發明為了解決現有的OLED材料和/或器件結構測試造成大量基板浪費且測試效率低下的不足，提出了一種專用于O?LED材料和/或器件結構測試的掩模板以及使用所述掩模板對OLED材料和/或器件結構進行測試的方法。

本發明的技術方案是：OLED材料和/或器件結構測試專用掩模板，其特征在于，包括：掩模板本體和貼布，所述掩模板本體外形與基板一致，并在與基板測試區域（cell）對應的位置設置有測試窗，掩模板本體用于在測試時保護非測試窗對應的基板區域；所述貼布在測試時與掩模板本體貼合并遮擋部分測試窗，用于保護被遮擋的測試窗對應的基板區域。

進一步的，所述掩模板本體包括按4×4矩陣排列的16個測試窗，用于包含16個按同樣方式排列的cell的基板測試。

進一步的，所述貼布為可同時貼合掩模板本體的相鄰兩個測試窗的矩形膠帶。

進一步的，所述貼布為可同時貼合掩模板本體的2×2的測試窗組成的矩陣區域的矩形膠帶。

OLED材料和/或器件結構測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

a、根據被測試基板制作上述掩模板本體，并開設測試窗；

b、根據測試需求制作所述貼布；

c、將掩模板本體貼合到被測試基板上；

d、除即將用于測試的基板cell對應的測試窗外，其余測試窗用所述貼布貼封；

e、完成對步驟d中未貼封貼布的測試窗對應的基板cell的測試；

f、將與未貼封貼布的測試窗相鄰且測試窗對應的基板cell未經過測試的測試窗貼布取下并貼封至該未貼封貼布的測試窗上；

g、循環進行步驟e和步驟f，直至所有測試窗對應的基板cell測試完畢或完成了全部的測試內容。

進一步的，上述方法中，掩模板本體包括按4×4矩陣排列的16個測試窗，用于包括16個cell并按同樣方式排列的基板測試。

進一步的，上述方法中，掩模板包括3塊貼布，所述貼布為可同時貼合2×2的測試窗組成的矩陣區域的矩形膠帶。

進一步的，上述方法中步驟g具體包括以下步驟：

g1、將包含4×4矩陣排列的16個cell的基板按彼此相鄰且無交集的2×2矩陣區域劃分為四個區域，分別為第一區域、第二區域、第三區域和第四區域，用3塊可同時貼合2×2矩陣區域的測試窗的貼布貼合第二區域、第三區域和第四區域，然后對第一區域進行測試；

g2、將第二區域的貼布取下并貼到第一區域上，對第二區域進行測試；

g3、將第三區域的貼布取下并貼到第二區域上，對第三區域進行測試；

g4、將第四區域的貼布取下并貼到第三區域上，對第四區域進行測試。

本發明的OLED材料和/或器件結構測試專用掩模板通過在掩模板本體上設置測試窗，并根據需要設置不同的貼布可以針對不同的測試需求在一張基板上進行多項測試，節約了測試用基板的浪費，提高了測試效率。一并提出的測試方法通過掩模板（OPEN?MASK）不同的遮擋方法，實現了在同一張基板上同時進行多種材料或多種器件結構測試的目的，從而解決行業內通常一張基板只能同時測試一種材料或一種器件結構的問題，大大提高測試實驗的效率。

附圖說明

圖1為本發明的掩模板本體結構示意圖；

圖2為本發明實施例的掩模板分區示意圖；

圖3為本發明另一實施例的掩模板分區示意圖；