[發明專利]用于診斷基于電子的產品的裝置和方法有效
| 申請號: | 201310413575.1 | 申請日: | 2013-09-12 |
| 公開(公告)號: | CN103676830A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發明(設計)人: | G.克雷佩特 | 申請(專利權)人: | 阿爾斯通技術有限公司 |
| 主分類號: | G05B19/418 | 分類號: | G05B19/418 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 易皎鶴;湯春龍 |
| 地址: | 瑞士*** | 國省代碼: | 瑞士;CH |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 診斷 基于 電子 產品 裝置 方法 | ||
1.一種裝置(110),用于診斷基于電子的產品(150),所述裝置(110)包括:
多個傳感器(210),與所述基于電子的產品(150)耦合,用于監測與所述基于電子的產品(150)關聯的多個參數,每個傳感器(210)配置成在監測參數時生成模擬信號和數字信號中的至少一個;
多個轉換器(215),耦合到所述多個傳感器(210),用于將從所述多個傳感器(210)生成的模擬信號轉換成數字信號;
處理模塊(220),與所述多個轉換器(215)耦合,用于至少基于所述數字信號與閾值參數值的比較來確定異常參數條件,與參數對應的每個異常參數條件基于與所述參數關聯的數字信號與對應于所述參數的閾值參數值的比較來確定;
存儲器模塊(225),與所述處理模塊(220)耦合,所述存儲器(225)配置成存儲與所述異常參數條件關聯的信息;
所述存儲器模塊(255)配置成存儲與所述異常參數條件關聯的時間戳信息;以及
通信接口(240),配置成向至少一個外部裝置(160,170)提供與所述異常參數條件關聯的信息,以用于所述基于電子的產品(150)中的一個或多個故障的診斷,
所述裝置(110)配置在所述基于電子的產品(150)的托管模塊(120)中。
2.如權利要求1所述的裝置(110),還包括處理系統(250),其包括用于控制所述多個傳感器(210)和所述多個轉換器(215)的一個或多個邏輯模塊(235)。
3.如權利要求1所述的裝置(110),其中,處理系統(250)是專用集成電路(ASIC)、芯片上系統(SOC)、微控制器、數字信號處理(DSP)、電可編程邏輯裝置(EPLC)、復雜可編程邏輯裝置(CPLD)和現場可編程門陣列(FPGA)系統中的至少一個。
4.如權利要求2所述的裝置(110),其中,所述處理模塊(220)配置在所述處理系統(250)中。
5.如權利要求1所述的裝置(110),其中,所述托管模塊(120)是所述基于電子的產品(150)的電路板、所述基于電子的產品(150)的底板、所述基于電子的產品(150)的中央處理單元(CPU)以及所述基于電子的產品的輸入/輸出(I/O)模塊中的至少一個,部分或完全由所述基于電子的產品(150)的一個或多個部分、所述基于電子的產品(150)的單板、所述基于電子的產品(150)的主板以及所述基于電子的產品(150)的子板來確保。
6.如權利要求1所述的裝置(110),其中,所述存儲器模塊(225)配置成存儲與所述異常參數條件關聯的時間戳信息。
7.如權利要求1所述的裝置(110),其中,所述多個參數包括:0伏特與地電勢之間的電壓差;其中部署了所述基于電子的產品(150)的環境溫度;與所述基于電子的產品(150)的組件關聯的加速度、沖擊和振動;其中部署了所述基于電子的產品(150)的機殼上的沖擊和振動;饋送給所述基于電子的產品(150)的電力供應;所述基于電子的產品(150)的環境中的電磁擾動;以及所述機殼的一個或多個門的開啟/閉合、所述基于電子的產品(150)的溫度;所述基于電子的產品(150)的環境中的濕度;壓力;高度;從垂直和水平的取向的角度;地理定位;光和亮度等級;噪聲等級;輻射等級;污染等級;環境中的氣體存在等級;環境中的煙和微粒存在等級;所述電力供應通/斷的轉變次數和持續時間;以及監測放置在所述基于電子的產品(150)附近的一個或多個對象的邏輯輸入。
8.如權利要求1所述的裝置(110),其中,所述外部裝置是通信裝置(170)和控制站(160)中的至少一個。
9.如權利要求1所述的裝置(110),其中,所述處理模塊(220)還配置成:
計算與至少一個參數關聯的持續時間;
對至少一個參數的出現次數計數;以及
基于與參數關聯的持續時間、所述參數的出現次數以及與所述參數關聯的歷史信息中的至少一個來計算與所述參數關聯的數學建模。
10.如權利要求9所述的裝置(110),其中,所述處理模塊(220)還配置成基于所述數字信號與所述閾值參數值的比較、與至少一個參數關聯的持續時間、至少一個參數的出現次數以及所述數學建模中的至少一個來確定所述異常參數條件。
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