[發明專利]多波束測深精度檢定系統

有效

• 申請號: 201310413021.1
• 申請日: 2013-09-11
• 公開（公告）號: CN103453918A
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: 康會峰;黃新春;張瑾;王云;王曉光;魏彩喬;王利清;王俊華
• 申請（專利權）人: 北華航天工業學院
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種多波束測深精度檢定系統，包括支柱，支柱等間距設置于水槽中，其特征是還包括有所述的支柱上分別設置有左側導軌和右側導軌，左側導軌上設置有左側滑塊，右側導軌上設置有右側滑塊，滑臺安裝在左側滑塊和右側滑塊上，左側導軌上固定安裝有齒條，第一電機安裝在滑臺上，第一電機的動力輸出軸上設有與齒條相嚙合的齒輪，滑臺上還設有分別與左側導軌和右側導軌對應的第一電磁吸盤和第二電磁吸盤，儀器箱安裝在滑臺上，儀器箱內設置有工控系統和多波束測長儀，儀器箱下部安裝有第二電機，第二電機的動力輸出軸上設置有多波束測深儀換能器安裝支架，多波束測深儀的換能器探頭安裝在多波束測深儀換能器安裝支架上，滑臺上方還固定設置有激光干涉儀，所述的支柱上固定安裝有棱鏡支架，棱鏡通過棱鏡下方的磁力座固定在棱鏡支架上。

2.根據權利要求1所述的多波束測深精度檢定系統，其特征在于：所述的左側導軌和右側導軌固定安裝在支柱的左右兩個凸臺上。

3.根據權利要求1所述的多波束測深精度檢定系統，其特征在于：所述的第一電磁吸盤與左側導軌對應安裝在滑臺上，第二電磁吸盤與右側導軌對應安裝在滑臺上，保證在測量中滑臺處于靜止狀態。

4.根據權利要求1所述的多波束測深精度檢定系統，其特征在于：所述的棱鏡支架通過螺釘與支柱固定相連，棱鏡支架上還設置有用于安裝定位棱鏡的定位線。

5.根據權利要求1所述的多波束測深精度檢定系統，其特征在于：所述的工控系統包括MSC-51單片機和工控機，MSC-51單片機的P1.0、P1.1、P1.2引腳分別與第一電機驅動器的EA、PWM、LA端相連，MSC-51單片機的P1.3、P1.4、P1.5引腳分別與第二電機驅動器的EA、PWM、LA端相連，MSC-51單片機的P1.6、P1.7引腳分別與光電隔離模塊的con1、con2引腳對應相連，第一電機驅動器與第一電機相連，第二電機驅動器與第二電機相連，光電隔離模塊的A、B端口分別與第一電磁吸盤、第二電磁吸盤的一端對應相連，第一電磁吸盤、第二電磁吸盤的另一端接24V，光電隔離模塊的GND端接GND，工控機通過串口與MSC-51單片機的串口模塊相連，工控機的U口1、U口2與激光干涉儀和多波束測長儀對應相連。

6.根據權利要求1或5所述的多波束測深精度檢定系統，其特征在于：所述的第一電機為步進電機，第二電機為直流電機。