[發(fā)明專利]芯片粘合工作臺有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310411172.3 | 申請日: | 2013-09-09 |
| 公開(公告)號: | CN103474385A | 公開(公告)日: | 2013-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 白向陽 | 申請(專利權(quán))人: | 江陰迪林生物電子技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/68 | 分類號: | H01L21/68;H01L21/677 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 214434 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 芯片 粘合 工作臺 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種芯片加工中的輔助定位工具,具體的說是一種用在對芯片鍵合時的定位工作臺。
背景技術(shù)
芯片技術(shù)的發(fā)展日新月異,人們對芯片加工中使用的工具設(shè)備的要求也越來越高。芯片的制備均以微米為計算單位,制作精度要求高,因此對芯片進(jìn)行精準(zhǔn)的定位,是生產(chǎn)過程一項重要的任務(wù)指標(biāo)。目前對芯片的基板和蓋片進(jìn)行鍵合或者粘合時,所使用的鍵合定位平臺都是較為簡單的定位槽結(jié)構(gòu),雖然有借助于機(jī)械手控制的生產(chǎn)線,但是機(jī)械手只是按照預(yù)定程序操作的,當(dāng)芯片的定位平臺已經(jīng)發(fā)生微小移動時,機(jī)械手也還是將芯片放置到程序輸入的預(yù)定位位置,而不會根據(jù)定位平臺的位移做出相應(yīng)的調(diào)整。而且由于定位槽的尺寸是稍大于芯片尺寸的,在鍵合操作過程中,受到鍵合作用力的影響,基板會不可避免的發(fā)生位移,這小小的位移量相對定位槽與芯片之間的尺寸間隙來說很小,但這對于微米級計量單位的芯片來說,則有可能產(chǎn)生很大的偏差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明需要解決的技術(shù)問題是提供一種能使芯片在鍵合過程中保持穩(wěn)定的、鍵合偏差小的芯片粘合工作臺。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:
芯片粘合工作臺,包括底座,所述底座頂部設(shè)置有與芯片形狀和大小對應(yīng)的定位槽,所述定位槽的底板開設(shè)若干真空吸附小孔,若干真空吸附小孔通過一個共同連通的真空腔連接抽真空裝置。
本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)在于:所述定位槽的至少一個側(cè)壁設(shè)置為向底板收縮的斜坡。
本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)在于:所述定位槽的底板各邊的尺寸比芯片對應(yīng)邊的尺寸大0.10~0.20mm,所述定位槽的側(cè)壁與底板的夾角為50°~70°。
本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)在于:所述定位槽的底板各邊的尺寸比芯片對應(yīng)邊的尺寸大0.15mm,所述定位槽的側(cè)壁與底板的夾角為60°。
本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)在于:所述底板的表面粗糙度為Ra3.2。
本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)在于:所述底座下部設(shè)置與若干真空吸附小孔連通的真空腔,真空腔的一側(cè)設(shè)置帶有控制開關(guān)的抽真空裝置。
本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)在于:所述抽真空裝置為壓縮空氣為0.4~0.6MPa的三相交流真空泵。
由于采用了上述技術(shù)方案,本發(fā)明取得的技術(shù)進(jìn)步是:
本發(fā)明在傳統(tǒng)的定位槽的基礎(chǔ)上增加真空吸附小孔,在真空泵的作用下,將作為基板的物料吸附在底板表面,并充分利用底板的光滑表面,使基板物料的表面保持水平,避免因為表面變形引發(fā)粘合或者鍵合過程中產(chǎn)生氣泡。本發(fā)明將定位槽的側(cè)壁設(shè)置為斜面,充分利用放入的物料本身有一定重量這一特性,采用帶有一定坡度的斜坡,完成物料的自由下落并進(jìn)入定位盤內(nèi)完成精確定位。這與傳統(tǒng)的機(jī)械手定位方式不同,傳統(tǒng)的機(jī)械手是根據(jù)預(yù)定位或者預(yù)先設(shè)置的程序,選取一個條件作為基礎(chǔ),要么控制芯片的側(cè)邊與定位槽的側(cè)邊距離,或者使芯片與定位槽底板的中心重合,但是這種控制方式其實是不夠精確的,并且在定位平臺受到外力因素發(fā)生的微小位移時,不具有自身調(diào)整性。本發(fā)明利用物料自身的重力作用,讓物料自由下滑,在提供準(zhǔn)確的物料尺寸情況下,設(shè)置的傾斜角度,可以在工作臺的位置發(fā)生移動時,仍然不受工作臺本身位置的影響。實驗結(jié)果表明,使用本發(fā)明技術(shù)方案,可以將精度偏差控制在0.01mm以內(nèi)。
綜上,本發(fā)明具有定位精確、鍵合過程中物料不變形、鍵合過程不發(fā)生物料位移、具有自我調(diào)整功能的優(yōu)點。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是圖1中D部分的局部放大圖。
其中,1、底座,2、底板,3、真空吸附小孔,4、側(cè)板。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)說明:
芯片粘合工作臺,如圖1和圖2所示,包括整體為一個長方體腔體結(jié)構(gòu)的底座1,底座1的頂部設(shè)置有與芯片形狀和大小對應(yīng)的方形的定位槽。定位槽的底板2的表面粗糙度為Ra3.2。所述定位槽的底板2各邊的尺寸比芯片對應(yīng)邊的尺寸大0.10~0.20mm。底板2上開設(shè)若干真空吸附小孔3,底座下部的腔體為密封結(jié)構(gòu)的真空腔。該真空腔與若干真空吸附小孔3連通,真空腔的一側(cè)設(shè)置帶有控制開關(guān)的抽真空裝置。所述抽真空裝置為真空泵,真空泵的動力條件為:三相交流電380V±10%,頻率50HZ±2%,壓縮空氣:0.4MPa~0.6MPa,環(huán)境條件:相對濕度≤90%,溫度-6℃~45℃。所述定位槽相鄰的兩個側(cè)壁4設(shè)置成向底板收縮的斜坡,也就是該兩個側(cè)壁4是從底板向外敞口的結(jié)構(gòu)。兩個側(cè)壁與底板的夾角控制在50°~70°。
本發(fā)明的優(yōu)選方案為:所述定位槽的底板2各邊的尺寸比芯片對應(yīng)邊的尺寸大0.15mm,所述定位槽的四個側(cè)壁4設(shè)置為斜坡結(jié)構(gòu),四個側(cè)壁4與底板2的夾角均控制為60°。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





