[發明專利]一種電容觸摸檢測方法、裝置以及移動終端

有效

• 申請號: 201310410963.4
• 申請日: 2013-09-10
• 公開（公告）號: CN104423753B
• 公開（公告）日: 2017-07-04
• 發明（設計）人: 過中梁
• 申請（專利權）人: 深圳市啟望科文技術有限公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所44237
• 代理人: 張全文

1.一種電容觸摸檢測方法，其特征在于，包括：

獲取電容式觸摸屏的觸控狀態，所述觸控狀態包括觸摸狀態和非觸摸狀態；

當所述電容式觸摸屏處于觸摸狀態時，根據預先建立的觸摸狀態模型、上一次在觸摸狀態下保存的電容基線值以及實時檢測到的電容值，實時生成在觸摸狀態下的電容基線值；

當所述電容式觸摸屏處于非觸摸狀態時，根據預先建立的非觸摸狀態模型、上一次在非觸摸狀態下保存的電容基線值以及實際檢測到的電容值，實時生成在非在觸摸狀態下的電容基線值；

當所述電容式觸摸屏處于觸摸狀態時，根據實時生成在觸摸狀態下的電容基線值，檢測用戶觸摸點的位置；

當所述電容式觸摸屏處于非觸摸狀態時，根據實時生成在非在觸摸狀態下的電容基線值，檢測用戶觸摸點的位置；

當電容式觸摸屏從觸摸狀態切換至非觸摸狀態時，丟棄上一次在觸摸狀態下的電容基線值；

當電容式觸摸屏從非觸摸狀態切換至觸摸狀態時，保留上一次在非在觸摸狀態下的電容基線值。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取電容式觸摸屏的觸控狀態，所述觸控狀態包括觸摸狀態和非觸摸狀態，包括：

獲取初始化時在非在觸摸狀態下的電容基線值；

當實時檢測到的電容值與初始化時在非觸摸狀態下的電容基線值之差的絕對值大于預設觸摸閾值時，獲取到電容式觸摸屏的觸控狀態為觸摸狀態；

當實時檢測到的電容值與初始化時在非觸摸狀態下的電容基線值之差的絕對值大于預設觸摸閾值時，獲取到電容式觸摸屏的觸控狀態為非觸摸狀態。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在當所述電容式觸摸屏處于觸摸狀態時，根據預先建立的觸摸狀態模型、上一次在觸摸狀態下保存的電容基 線值以及實時檢測到的電容值，實時生成在觸摸狀態下的電容基線值之前，包括：

建立觸摸狀態模型；

所述觸摸狀態模型為：

Ca_i＝((N-1)*Ca_i-1+C_d)/N

其中，Ca_n為在觸摸狀態下的第i個電容基線值，Ca_i-1為在觸摸狀態下的第i-1個電容基線值，i為大于等于1的整數，C_d為實時檢測到的電容值，N為預設的采樣點的數量，N為大于等于1的整數。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在當所述電容式觸摸屏處于非觸摸狀態時，根據預先建立的非觸摸狀態模型、上一次在非觸摸狀態下保存的電容基線值以及實際檢測到的電容值，實時生成在非在觸摸狀態下的電容基線值之前，包括：

建立非觸摸狀態模型；

所述非觸摸狀態模型為：

Cb_i＝((N-1)*Cb_i-1+C_d)/N

其中，Cb_i為在非在觸摸狀態下的第i個電容基線值，Cb_i-1為在非在觸摸狀態下的第i-1個電容基線值，i為大于等于1的整數，C_d為實時檢測到的電容值，N為預設的采樣點的數量，N為大于等于1的整數。

5.一種電容觸摸檢測裝置，其特征在于，包括：

獲取單元，用于獲取電容式觸摸屏的觸控狀態，所述觸控狀態包括觸摸狀態和非觸摸狀態；

第一生成單元，用于當所述電容式觸摸屏處于觸摸狀態時，根據預先建立的觸摸狀態模型、上一次在觸摸狀態下保存的電容基線值以及實時檢測到的電容值，實時生成在觸摸狀態下的電容基線值；

第二生成單元，用于當所述電容式觸摸屏處于非觸摸狀態時，根據預先建立的非觸摸狀態模型、上一次在非觸摸狀態下保存的電容基線值以及實際檢測 到的電容值，實時生成在非在觸摸狀態下的電容基線值；

第一檢測單元，用于當所述電容式觸摸屏處于觸摸狀態時，根據實時生成在觸摸狀態下的電容基線值，檢測用戶觸摸點的位置；

第二檢測單元，用于當所述電容式觸摸屏處于非觸摸狀態時，根據實時生成在非在觸摸狀態下的電容基線值，檢測用戶觸摸點的位置；

丟失單元，用于當電容式觸摸屏從觸摸狀態切換至非觸摸狀態時，丟棄上一次在觸摸狀態下的電容基線值；

保留單元，用于當電容式觸摸屏從非觸摸狀態切換至觸摸狀態時，保留上一次在非在觸摸狀態下的電容基線值。