[發明專利]紫外光電管在高溫環境下的建模補償分析系統和方法

在審

• 申請號: 201310407965.8
• 申請日: 2013-09-09
• 公開（公告）號: CN103488879A
• 公開（公告）日: 2014-01-01
• 發明（設計）人: 楊毅;宋啟盛;李波;譚誠
• 申請（專利權）人: 上海電控研究所
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236
• 代理人: 郭國中

1.一種紫外光電管在高溫環境下的建模補償分析系統，其特征在于，包括相連接的數據采集處理裝置和數字化建模補償裝置；

數據采集處理裝置包括如下裝置：

信號采集裝置(101)，用于通過紫外光電管采集紫外線信號，然后對紫外線信號進行信號調理后生成脈沖方波序列并傳輸給計算機前端處理裝置(102)；

計算機前端處理裝置(102)，用于對脈沖方波序列進行采樣、計數，以獲取當前環境中的紫外線數據；

數字化建模補償裝置包括如下裝置：

數據點擬合及分析裝置(103)，用于分析紫外線數據得到紫外光電管特性曲線；

紫外高溫特性數學模型裝置(104)，用于根據紫外光電管特性曲線建立補償模型。

2.根據權利要求1所述的紫外光電管在高溫環境下的建模補償分析系統，其特征在于，信號采集裝置(101)包括如下裝置：

紫外光電管，用于接收火焰紫外光照射；

濾波整形裝置，用于對紫外光電管產生的不規則高壓脈沖波形進行濾波整形，以形成規則的5V脈沖方波序列；

穩壓限流裝置，用于對5V脈沖方波序列進行穩壓和限流后輸出給計算機前端處理裝置(102)。

3.根據權利要求1所述的紫外光電管在高溫環境下的建模補償分析系統，其特征在于，信號采集裝置(101)利用不同紫外光電管在距標準火盆25cm處，分別在50攝氏度、55攝氏度、60攝氏度、65攝氏度、85攝氏度時進行采集，每次采集取得紫外光電管5s內的導通次數；

數據點擬合及分析裝置(103)對每根紫外光電管在同一溫度下和距離條件下的40次采樣值求取平均值，將平均值用指數函數進行擬合得到紫外光電管的特性曲線；

紫外高溫特性數學模型裝置(104)根據如下公式對紫外光電管進行補償：

Y=a*exp(-0.021x)

其中，Y為高溫區紫外光電管的計數值，a為每根紫外光電管的特性數據，exp()為以自然對數e為底的指數函數，x為溫度值。

4.一種紫外光電管在高溫環境下的建模補償分析方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟1：通過紫外光電管采集紫外線信號，然后對紫外線信號進行信號調理后生成脈沖方波序列并傳輸給計算機前端處理裝置(102)；

步驟2：對脈沖方波序列進行采樣、計數，以獲取當前環境中的紫外線數據；

步驟3：分析紫外線數據得到紫外光電管特性曲線；

步驟4：紫外高溫特性數學模型裝置(104)，用于根據紫外光電管特性曲線建立補償模型。

5.根據權利要求4所述的紫外光電管在高溫環境下的建模補償分析方法，其特征在于，步驟1包括如下步驟：

步驟1.1：接收火焰紫外光照射；

步驟1.2：對紫外光電管經火焰紫外光照射后產生的不規則高壓脈沖波形進行濾波整形，以形成規則的5V脈沖方波序列；

步驟1.3：對5V脈沖方波序列進行穩壓和限流后輸出給計算機前端處理裝置(102)。

6.根據權利要求4所述的紫外光電管在高溫環境下的建模補償分析方法，其特征在于：

步驟1具體為：用不同紫外光電管在距標準火盆25cm處，分別在50攝氏度、55攝氏度、60攝氏度、65攝氏度、85攝氏度時進行采集，每次采集取得紫外管5s內的導通次數；

步驟3具體為：對每根紫外光電管在同一溫度下和距離條件下的40次采樣值求取平均值，將平均值用指數函數進行擬合得到紫外光電管的特性曲線；

步驟4具體為：根據如下公式對紫外光電管進行補償：

Y=a*exp(-0.021x)

其中，Y為高溫區紫外光電管的計數值，a為每根紫外光電管的特性數據，exp()為以自然對數e為底的指數函數，x為溫度值。