[發(fā)明專利]Ⅲ型裂紋斷裂韌性的測試試件無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310405471.6 | 申請日： | 2013-09-06 |
| 公開（公告）號： | CN103471935A | 公開（公告）日： | 2013-12-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 胡少青;陳雄;鞠玉濤;鄭健;周長省;許進(jìn)升;王鴻麗;周清春;韋震 | 申請（專利權(quán)）人： | 南京理工大學(xué) |
| 主分類號： | G01N3/24 | 分類號： | G01N3/24 |
| 代理公司： | 南京理工大學(xué)專利中心 32203 | 代理人： | 朱顯國 |
| 地址： | 210094 江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 裂紋 斷裂韌性 測試 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種Ⅲ型裂紋斷裂韌性的測試試件，其特征在于：試件為長方形平板試件，長邊﹥寬邊﹥厚度，在平板寬邊方向上的兩側(cè)對稱設(shè)置初始裂紋，在平板厚度方向的兩邊設(shè)置對稱V型邊切槽。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種Ⅲ型裂紋斷裂韌性的測試試件，其特征在于：所述的試件的長度和寬度是厚度的八倍以上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種Ⅲ型裂紋斷裂韌性的測試試件，其特征在于：所述的試件的V型邊切槽的深度小于試件厚度的1/4。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種Ⅲ型裂紋斷裂韌性的測試試件，其特征在于，所述的試件的初始裂紋的長度小于試件厚度的1/4。
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于南京理工大學(xué)，未經(jīng)南京理工大學(xué)許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310405471.6/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 機(jī)械視覺疲勞裂紋擴(kuò)展試驗裂紋長度動態(tài)測量方法
- 超聲波檢測在役風(fēng)機(jī)主軸裂紋的試塊
- 裂紋解析裝置、裂紋解析方法以及記錄介質(zhì)
- 基于指數(shù)增量裂紋擴(kuò)展系數(shù)的多裂紋擴(kuò)展預(yù)測方法
- 基于圖像處理的梁底裂紋檢測方法、系統(tǒng)、裝置及介質(zhì)
- 一種顯示面板的裂紋檢測方法
- 金屬裂紋檢測系統(tǒng)及裂紋檢測傳感器
- 一種脆性大理石三維裂紋擴(kuò)展路徑預(yù)測方法及系統(tǒng)
- 一種表面裂紋的識別系統(tǒng)、方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)
- 針對小裂紋的裂紋擴(kuò)展速率模型以及對鈦合金材料進(jìn)行裂紋擴(kuò)展速率建模的方法
