[發明專利]一種基于磁場屏蔽性質的超導相微區檢測方法

在審

• 申請號: 201310403114.6
• 申請日: 2013-09-06
• 公開（公告）號: CN103472417A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 吳曉京;張昕
• 申請（專利權）人: 復旦大學
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12
• 代理公司: 上海正旦專利代理有限公司 31200
• 代理人: 陸飛;盛志范

1.?一種基于磁場屏蔽性質的超導相微區檢測方法，其特征在于具體步驟為：

（1）超導體材料樣品置于樣品臺上保持低溫，調節超導體工作電流和電磁鐵的均勻磁場，使樣品處于超導態；

（2）調節樣品臺或微區磁場強度探測器探頭位置，使二者之間有二維相對移動，在移動過程中，微區磁場強度探測器探頭逐點探測樣品表面的磁場強度；當樣品中分布有正常相和超導相時，探頭檢測到的磁場強度將產生顯著變化：處于超導態的區域將對磁場產生屏蔽，探頭檢測到的磁場強度將產生顯著下降，由此可以判別樣品的局部區域完成了相變，信號經轉換和放大后由計算機系統記錄并處理，最終形成二維顯微圖像，顯示此時正常相與超導相的分布。