[發明專利]鎖相環環路帶寬測試算法模塊

無效

• 申請號: 201310401525.1
• 申請日: 2013-09-05
• 公開（公告）號: CN103441758A
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發明（設計）人: 曾富華
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十研究所
• 主分類號: H03L7/08
• 分類號: H03L7/08;H03L7/24
• 代理公司: 成飛(集團)公司專利中心 51121
• 代理人: 郭純武

技術領域

本發明涉及基于數字電路的鎖相環環路帶寬測試的算法模塊。

背景技術

目前，基于數字電路的鎖相環設計的環路帶寬測試主要采用頻域測量的方法，通過對鎖相環輸入輸出的頻譜進行分析比較來達到環路帶寬測量的目的。

在工程應用中，通過調相和調頻的測試方法，都是從頻域對鎖相環帶寬進行測試，基本原理都是通過調頻或調相生成調制諧波，將調制后的信號輸入鎖相環濾波，對濾波后殘留的諧波進行幅度測量來測試環路帶寬。這種基于頻域的測試方式的不足之處在于：測試過程復雜，需要重復進行頻譜分析；測試時間長；測試精度低，對于窄帶鎖相環難以適用。

發明內容

為了克服頻域測量法測試鎖相環環路帶寬過程中所出現的上述問題，本發明提供一種電路簡單，能夠提高測量精度和縮短測量時間的鎖相環環路帶寬測試算法模塊。

本發明所采用的具體技術方案是：一種鎖相環環路帶寬測試算法模塊，包括控制模塊，其特征在于，控制模塊輸出端分別相連數字直接信號合成器和相位監視及帶寬計算模塊，組成鎖相環環路帶寬測試算法電路，測試時，被測試鎖相環串聯在所述數字直接信號合成器和相位監視及帶寬計算模塊之間，被測試鎖相環的誤差相位輸出由相位檢測和帶寬計算模塊進行監視，數字直接信號合成器產生帶有相位階躍的單頻正弦信號，輸入到被測試鎖相環，測量相位階躍開始到第二個過零點時刻之間的時間差，并依據該時間差計算測量環路帶寬。

本發明的有益效果是：測試流程簡單測量精度高

本發明一改傳統鎖相環環路帶寬測量方法，采用頻域測量的方式，利用數字直接信號合成器產生帶有相位階躍的單頻正弦信號作為離散數字信號輸入到被測試鎖相環，被測試鎖相環的誤差相位輸出由相位檢測和計算模塊進行監視，測量相位階躍開始到第二個過零點的時刻之間的時間差，并依據該時間差計算測量環路帶寬，通過在輸入加相位階躍，對誤差相位輸出測量過零時刻的方法來計算環路帶寬，大大簡化了測試流程，節省了采用現有技術所需要的硬件資源，提高了測量精度，縮短了測量所需要的時間。

本發明通過數字直接信號合成器模塊生成被測試鎖相環模塊激勵信號，并通過相位監視及環路帶寬計算模塊對誤差相位的監視，測試鎖相環環路帶寬，解決了窄帶環路帶寬的測試問題，并適用于寬帶鎖相環的測試。

附圖說明

圖1是本發明基于數字電路的鎖相環路環路帶寬測試模塊示意圖。

圖2是是本發明的測試流程圖。

具體實施方式

在圖1中，鎖相環環路帶寬測試算法模塊包括控制模塊。控制模塊輸出分別相連數字直接信號合成器和相位監視及帶寬計算模塊組成鎖相環環路帶寬測試算法電路。測試時，被測試鎖相環串聯在所述數字直接信號合成器和相位監視及帶寬計算模塊之間，被測試鎖相環的誤差相位輸出由相位檢測和計算模塊進行監視。控制模塊輸出控制信號到數字直接信號合成器和相位監視和帶寬計算模塊上，數字直接信號合成器的輸出輸入到被測試鎖相環路的輸入端，被測試鎖相環路的誤差相位輸出ph信號連接到相位監視和帶寬計算模塊上。利用數字直接信號合成器產生帶有相位階躍的單頻正弦信號作為離散數字信號輸入到被測試鎖相環，被測試鎖相環的誤差相位輸出由相位檢測和計算模塊進行監視。數字直接信號合成器產生帶有相位階躍的單頻正弦信號，輸入到被測試鎖相環，測量相位階躍開始到第二個過零點的時刻之間的時間差，并依據該時間差計算測量環路帶寬。

在如圖2所示測試流程中，控制模塊控制數字直接信號合成器產生的信號的相位開始階躍，控制相位監視及帶寬計算模塊的計時器開始計時，監視被測試鎖相環輸出誤差相位。當相位監視及帶寬計算模塊檢測到如圖2所示第二個過零點第二個過零點誤差相位，停止計時，并記錄過零點時間t0。相位監視和帶寬計算模塊計算環路帶寬B_L，按計算公式B_L=3.541689/t0，計算得到環路帶寬B_L輸出測試結果B_L。