[發(fā)明專利]一種金屬化膜電容器層間壓強測量方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310399244.7
• 申請日: 2013-09-05
• 公開（公告）號: CN103487177A
• 公開（公告）日: 2014-01-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李化;林福昌;李智威;劉德;王博聞;李浩原
• 申請（專利權(quán)）人: 華中科技大學(xué)
• 主分類號: G01L1/22
• 分類號: G01L1/22
• 代理公司: 華中科技大學(xué)專利中心 42201
• 代理人: 朱仁玲

1.一種金屬化膜電容器層間測量裝置，包括金屬化膜電容器、對比芯軸、四個應(yīng)變片和靜態(tài)程控應(yīng)變儀，其特征在于，

金屬化膜電容器是由兩張金屬化膜圍繞芯軸卷繞而成，且卷繞層數(shù)為500至2000層；

其中一個應(yīng)變片作為測試應(yīng)變片粘貼在金屬化膜電容器的芯軸上，另一個應(yīng)變片作為補償應(yīng)變片貼在另一個芯軸上，其余的兩個應(yīng)變片設(shè)置在靜態(tài)程控應(yīng)變儀中；

四個應(yīng)變片構(gòu)成一個1/4電橋，該電橋的輸出端與靜態(tài)程控應(yīng)變儀電氣連接。

2.一種金屬化膜電容器層間測量方法，是應(yīng)用在根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量裝置中，且包括以下步驟：

（1）將一個測試應(yīng)變片粘貼在電容器的芯軸上，將兩張金屬化膜圍繞芯軸卷繞形成電容器，將補償應(yīng)變片粘貼貼在另外一個芯軸表面上，用于測試應(yīng)變片的溫度補償和形變補償補償，并將另外兩個應(yīng)變片設(shè)置在靜態(tài)程控應(yīng)變儀中；

（2）將粘貼在電容器芯軸上的測試應(yīng)變片與貼在另一個芯軸的補償應(yīng)變片連接至靜態(tài)程控應(yīng)變儀上，從而與另外兩個應(yīng)變片一起構(gòu)成1/4電橋；

（3）將靜態(tài)程控應(yīng)變儀的輸出調(diào)零，并將其作為微應(yīng)變的初始值；

（4）將一定層數(shù)的薄膜層從金屬化膜電容器剝離，并記錄靜態(tài)程控應(yīng)變儀5的輸出值作為當(dāng)前的微應(yīng)變ε₁；

（5）重復(fù)以上步驟（4），直到所有薄膜層均從金屬化膜電容器剝離完畢為止，并記錄下每一次剝離過程中靜態(tài)程控應(yīng)變儀5的輸出值ε₂，ε₃，…，ε_i，其中i為剝離的總次數(shù)；

（6）根據(jù)獲得的不同微應(yīng)變ε₁，ε₂，…ε_i計算金屬化膜層對芯軸的壓強P_i=E·ε_i，其中E為芯軸的彈性模量。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測量方法，其特征在于，卷繞的層數(shù)由金屬化膜電容器的電容量決定，且為500至2000層。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測量方法，其特征在于，剝離的層數(shù)是根據(jù)測量的需求來確定，且為10至100層。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測量方法，其特征在于，每次剝離過程中剝離的層數(shù)可以相同，或每次均不同。