[發明專利]一種用于液晶模組檢測的檢測裝置

有效

• 申請號: 201310397880.6
• 申請日: 2013-09-04
• 公開（公告）號: CN103412425A
• 公開（公告）日: 2013-11-27
• 發明（設計）人: 陳文源;曹振軍;應林華;江斌
• 申請（專利權）人: 蘇州華興源創電子科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 王喆

1.一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：所述檢測裝置包括天板和至少一個檢測基板；所述天板包括一用于放置待測模組的第一天板，及一第二天板；

所述檢測基板可翻轉的設置在所述第二天板上，所述檢測基板上設有至少一個用于檢測待測模組連接器的連接器檢測端口。

2.根據權利要求1所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，所述天板上設有用于放置待測模組連接器端口的型槽。

3.根據權利要求1所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，所述第二天板的板面上固設有限位板，該限位板上設有用于放置待測模組連接器端口的型腔。

4.根據權利要求1、2或3所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，所述第一天板的板面上依次設置有與所述第一天板固接的墊板、以及與所述墊板固接的模組托板。

5.根據權利要求3所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，所述型腔內設有用于固定待測模組連接器端口的第一磁石。

6.根據權利要求3所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，檢測基板翻轉后，所述檢測基板與所述限位板通過磁力吸合匹配的壓接在一起。

7.根據權利要求3所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，所述限位板上設有至少一個定位銷桿，所述檢測基板上開設有與所述定位銷桿相匹配對應的定位銷孔。

8.根據權利要求1所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，所述檢測基板上設有用于翻轉檢測基板的把手。

9.根據權利要求3所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，所述檢測裝置包括一個第一檢測基板；所述第一檢測基板上設有一用于檢測待測模組連接器的連接器檢測端口；

所述第一檢測基板翻轉后，第一檢測基板的內側板面與所述限位板的板面通過磁力吸合匹配的壓接在一起，所述連接器檢測端口與所述型腔位置匹配對應。

10.根據權利要求9所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，所述第一檢測基板通過鉸鏈可轉動的連接在所述第二天板上。

11.根據權利要求9所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，所述第一檢測基板的板體兩端分別設有轉軸；所述第二天板上設有與所述轉軸相匹配的轉軸座。

12.根據權利要求10或11所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，所述第一檢測基板上設有至少一個第二磁石，所述限位板的板面上設有與所述第二磁石位置相匹配的金屬連接部；

第一檢測基板翻轉后，通過第二磁石與金屬連接部的配合，第一檢測基板的內側板面匹配的壓接在限位板的板面上。

13.根據權利要求10或11所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，所述第一檢測基板上設有至少一個第二磁石，所述限位板的板面上設有與所述第二磁石位置相匹配的第三磁石，所述第二磁石極性與第三磁石極性相異；

第一檢測基板翻轉后，通過第二磁石與第三磁石的配合，第一檢測基板的內側板面匹配的壓接在所述限位板的板面上。

14.根據權利要求10或11所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于：優選的，所述第一檢測基板上設有至少一個第二磁石，該第二磁石凸設于所述第一檢測基板的內側板面；所述限位板上開設有與所述第二磁石位置相匹配的第一通孔，所述第一通孔內設有與所述第二磁石位置相匹配的第四磁石，所述第二磁石極性與第四磁石極性相異；

第一檢測基板翻轉后，第二磁石插入第一通孔與第四磁石配合，第一檢測基板的內側板面匹配的壓接在所述限位板的板面上。