[發明專利]基于特定空間頻率內窺鏡光學傳遞函數測量系統及其校準方法

有效

• 申請號: 201310397554.5
• 申請日: 2013-09-04
• 公開（公告）號: CN103411757A
• 公開（公告）日: 2013-11-27
• 發明（設計）人: 洪寶玉;李飛;胡志雄;劉文麗;高明亮
• 申請（專利權）人: 中國計量科學研究院
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京雙收知識產權代理有限公司 11241
• 代理人: 李云鵬

1.一種基于特定空間頻率內窺鏡光學傳遞函數測量系統的校準方法，其中包括如下步驟：

1）用基于傅里葉分析的精密光學傳遞函數測量裝置對一標準內窺鏡進行光學傳遞函數精密標定；

2）得到0度視場不同空間頻率的連續曲線；

3）取基于內窺鏡檢測系統的光柵特征頻率的光學傳遞函數值MTF(f_x)

4)將標定過的內窺鏡置于一內窺鏡光學傳遞函數測量系統中，對該內窺鏡光學傳遞函數測量系統進行校準；

5）在上述內窺鏡光學傳遞函數測量系統中，實際測量標定過的內窺鏡的最大亮度Imax和最小亮度Imin，根據公式可以計算出特定空間頻率的對比度M₁(f_x)；

6）根據公式其中MTF(f_x)由步驟3）為已知，可得到M₂(f_x)，并被記錄保存；

7）從所述內窺鏡光學傳遞函數測量系統中取出標準內窺鏡，放置需要測量的被測內窺鏡，再次測量，得到被測內窺鏡的特定空間頻率的對比度

8）利用下式計算其中M₂(f_x)由步驟6）獲得，即可得出最后內窺鏡的傳函。

2.一種基于特定空間頻率內窺鏡光學傳遞函數的測量系統，包括光源，分劃板，成像物鏡和CCD，其特征在于還包括標準內窺鏡，其中光源，分劃板，內窺鏡，成像物鏡和CCD依次設置，在分劃板上設有特定空間頻率的光柵。

3.根據權利要求1所述的一種基于特定空間頻率內窺鏡光學傳遞函數的測量系統，其中光源為LED光源。