[發(fā)明專(zhuān)利]電子設(shè)備硬件性能的測(cè)試方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310395724.6
• 申請(qǐng)日: 2013-09-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103455396A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-12-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔡旋;徐鳴
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 北京安兔兔科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 北京柏杉松知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11413
• 代理人: 項(xiàng)京;馬敬

1.一種電子設(shè)備硬件性能的測(cè)試方法，其特征在于，包括：

獲得開(kāi)始測(cè)試指令；

響應(yīng)所述開(kāi)始測(cè)試指令，分別對(duì)待測(cè)試的硬件項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，所述待測(cè)試的硬件項(xiàng)目至少包括：虛擬機(jī)性能、RAM性能、CPU整數(shù)運(yùn)算性能；

其中，所述分別對(duì)待測(cè)試的硬件項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試包括：

首先執(zhí)行所述虛擬機(jī)性能的測(cè)試，獲得第一執(zhí)行結(jié)果，并依據(jù)所述第一執(zhí)行結(jié)果，確定所述虛擬機(jī)性能對(duì)應(yīng)的第一測(cè)試結(jié)果；

在獲得所述第一執(zhí)行結(jié)果后，同時(shí)執(zhí)行所述RAM性能的測(cè)試和所述CPU整數(shù)運(yùn)算性能的測(cè)試，獲得第二執(zhí)行結(jié)果和第三執(zhí)行結(jié)果，

或，執(zhí)行所述RAM性能的測(cè)試，獲得第二執(zhí)行結(jié)果之后，執(zhí)行所述CPU整數(shù)運(yùn)算性能的測(cè)試，獲得第三執(zhí)行結(jié)果；

依據(jù)所述第二執(zhí)行結(jié)果，確定所述RAM性能對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試結(jié)果，依據(jù)所述第三執(zhí)行結(jié)果，確定所述CPU整數(shù)運(yùn)算性能對(duì)應(yīng)的第三測(cè)試結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述同時(shí)執(zhí)行所述RAM性能的測(cè)試和所述CPU整數(shù)運(yùn)算性能的測(cè)試，獲得第二執(zhí)行結(jié)果和第三執(zhí)行結(jié)果，包括：

執(zhí)行所述RAM性能和所述CPU整數(shù)運(yùn)算性能的聯(lián)合測(cè)試程序，獲得第二執(zhí)行結(jié)果和第三執(zhí)行結(jié)果。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，同時(shí)執(zhí)行所述RAM性能的測(cè)試和所述CPU整數(shù)運(yùn)算性能的測(cè)試，獲得第二執(zhí)行結(jié)果和第三執(zhí)行結(jié)果之后，再執(zhí)行所述RAM性能的二次測(cè)試，獲得第四執(zhí)行結(jié)果；

相應(yīng)的，依據(jù)所述第二執(zhí)行結(jié)果，確定所述RAM性能對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試結(jié)果，包括：

依據(jù)所述第二執(zhí)行結(jié)果和所述第四執(zhí)行結(jié)果，確定所述RAM性能對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試結(jié)果。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，同時(shí)執(zhí)行RAM性能的測(cè)試和CPU整數(shù)運(yùn)算性能的測(cè)試，獲得第二執(zhí)行結(jié)果和第三執(zhí)行結(jié)果之后，再執(zhí)行所述CPU整數(shù)運(yùn)算性能的二次測(cè)試，獲得第五執(zhí)行結(jié)果；

依據(jù)所述第三執(zhí)行結(jié)果，確定所述CPU整數(shù)運(yùn)算性能對(duì)應(yīng)的第三測(cè)試結(jié)果，包括：

依據(jù)所述第三執(zhí)行結(jié)果和所述第五執(zhí)行結(jié)果，確定所述CPU整數(shù)運(yùn)算性能對(duì)應(yīng)的第三測(cè)試結(jié)果。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，同時(shí)執(zhí)行RAM性能的測(cè)試和CPU整數(shù)運(yùn)算性能的測(cè)試，獲得第二執(zhí)行結(jié)果和第三執(zhí)行結(jié)果之后，再執(zhí)行所述RAM性能的二次測(cè)試，獲得第六執(zhí)行結(jié)果；在獲得所述第六執(zhí)行結(jié)果后，再執(zhí)行所述CPU整數(shù)運(yùn)算性能的二次測(cè)試，獲得第七執(zhí)行結(jié)果；

相應(yīng)的，依據(jù)所述第二執(zhí)行結(jié)果，確定所述RAM性能對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試結(jié)果，包括：

依據(jù)所述第二執(zhí)行結(jié)果和所述第六執(zhí)行結(jié)果，確定所述RAM性能對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試結(jié)果；

依據(jù)所述第三執(zhí)行結(jié)果，確定所述CPU整數(shù)運(yùn)算性能對(duì)應(yīng)的第三測(cè)試結(jié)果，包括：

依據(jù)所述第三執(zhí)行結(jié)果和所述第七執(zhí)行結(jié)果，確定所述CPU整數(shù)運(yùn)算性能對(duì)應(yīng)的第三測(cè)試結(jié)果。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述待測(cè)試的硬件項(xiàng)目還包括：CPU浮點(diǎn)數(shù)運(yùn)算性能；

在獲得所述第六執(zhí)行結(jié)果后，再執(zhí)行CPU浮點(diǎn)數(shù)運(yùn)算性能的測(cè)試，獲得第八執(zhí)行結(jié)果；

并依據(jù)所述第八執(zhí)行結(jié)果，確定所述CPU浮點(diǎn)數(shù)運(yùn)算性能對(duì)應(yīng)的第四測(cè)試結(jié)果。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述待測(cè)試的硬件項(xiàng)目還包括：GPU的2D繪圖性能；

在獲得所述第七執(zhí)行結(jié)果和所述第八執(zhí)行結(jié)果后，再執(zhí)行GPU的2D繪圖性能的測(cè)試，獲得第九執(zhí)行結(jié)果；

并依據(jù)所述第九執(zhí)行結(jié)果，確定所述GPU的2D繪圖性能對(duì)應(yīng)的第五測(cè)試結(jié)果。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述待測(cè)試的硬件項(xiàng)目還包括：GPU的3D繪圖性能；

在獲得所述第七執(zhí)行結(jié)果和所述第八執(zhí)行結(jié)果后，再執(zhí)行GPU的3D繪圖性能的測(cè)試，獲得第十執(zhí)行結(jié)果；

并依據(jù)所述第十執(zhí)行結(jié)果，確定所述GPU的3D繪圖性能對(duì)應(yīng)的第六測(cè)試結(jié)果。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述待測(cè)試的硬件項(xiàng)目還包括：GPU并行加速性能；

在獲得所述第七執(zhí)行結(jié)果和所述第八執(zhí)行結(jié)果后，再執(zhí)行GPU并行加速性能的測(cè)試，獲得第十一執(zhí)行結(jié)果；

并依據(jù)所述第十一執(zhí)行結(jié)果，確定所述GPU并行加速性能對(duì)應(yīng)的第七測(cè)試結(jié)果。