[發(fā)明專利]一種大功率LED封裝用膜層及其制備和封裝方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310394539.5 | 申請日: | 2013-09-03 |
| 公開(公告)號: | CN103474553A | 公開(公告)日: | 2013-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 易江龍;張宇鵬;王昕昕;陳和興 | 申請(專利權(quán))人: | 廣州有色金屬研究院 |
| 主分類號: | H01L33/48 | 分類號: | H01L33/48;H01L33/64;H01L33/00 |
| 代理公司: | 廣東世紀(jì)專利事務(wù)所 44216 | 代理人: | 千知化 |
| 地址: | 510651 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 大功率 led 封裝 用膜層 及其 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及LED封裝中熱沉與芯片互連使用的膜層及其制備和封裝方法,尤其涉及需要高導(dǎo)熱率的大功率LED封裝用膜層及其制備和封裝方法。
背景技術(shù)
大功率LED是邁向下一代照明光源的主力軍,但目前大功率LED還存在一些技術(shù)問題亟待解決。在電光轉(zhuǎn)換時,大約有80~90%的電能變成熱量,隨著LED產(chǎn)品功率密度和封裝密度的提高,這將會引起芯片內(nèi)部熱量聚集,導(dǎo)致發(fā)光波長漂移、出光效率下降、熒光粉加速老化以及使用壽命縮短等一系列問題,嚴(yán)重影響了LED的可靠性。因此,在推廣照明用大功率密度高亮度LED產(chǎn)品時必需選擇有效的散熱解決方案。
目前,國內(nèi)外LED企業(yè)在大功率LED的散熱方面主要采用兩類散熱基板:金屬基板和陶瓷基板。其中1~5W白光LED多使用鋁合金等金屬基板,而5~10W白光LED主要使用Al2O3(氧化鋁)、LTCC(低溫共燒陶瓷)或AlN(氮化鋁)的陶瓷基板。雖然陶瓷基板比金屬基板有更好的散熱性能,但對于大電流工作的大功率白光LED而言,這樣的散熱效果并不能令人滿意,仍需要使用更高導(dǎo)熱率的散熱基板,大功率LED的發(fā)展才有更高的光電轉(zhuǎn)換效率。高效的散熱基板與LED芯片如果采用導(dǎo)熱率很低的膠粘接,將會嚴(yán)重降低實際的散熱效果,因此需要采用高導(dǎo)熱的連接材料將LED芯片和散熱基板連接在一起。
LED產(chǎn)生的熱量需要通過熱沉或者基體的熱傳導(dǎo)才能散發(fā)至環(huán)境中,為了降低傳熱路徑上的熱阻,大功率LED芯片與基板的互連材料需要有非常好的導(dǎo)熱性能。如果互連材料連接區(qū)存在空洞,熱傳導(dǎo)的路徑受到影響,芯片局部溫度過高也可能導(dǎo)致發(fā)光二極管失效。空洞可能由不良的工藝過程或金屬原子在界面上的擴(kuò)散引起。電遷移同樣會引起空洞產(chǎn)生,如果金屬中產(chǎn)生足夠的電流密度,空洞和金屬原子會朝著相反的方向遷移,引起空洞形成。材料在溫度升高的情況也會產(chǎn)生線收縮現(xiàn)象,不同的材料在溫度變化時會有不同的線伸縮率。在LED器件的長期使用過程中,如果兩種材料之間的熱膨脹系數(shù)相差非常大,就會在材料之間產(chǎn)生非常高的內(nèi)應(yīng)力,互連界面間空洞的形成會引起應(yīng)力在某些區(qū)域的集中,導(dǎo)致連接層與基板界面處的結(jié)合強(qiáng)度降低,甚至在連接層上會有裂紋和脆斷情況發(fā)生,從而影響LED器件的導(dǎo)電、導(dǎo)熱性能,以及出現(xiàn)死燈現(xiàn)象。
要廣泛地將LED應(yīng)用到通用照明,必須解決其封裝問題,即封裝材料、封裝工藝、以及封裝結(jié)構(gòu)的高溫可靠性等技術(shù)問題。近年來,盡管在LED芯片的材料、設(shè)計和制造等領(lǐng)域都取得很大的進(jìn)展,但是芯片與基板、基板與熱沉以及熱沉與散熱器之間的封裝連接技術(shù)以及整個系統(tǒng)的熱設(shè)計和熱管理等方面的技術(shù)并沒有跟上器件本身發(fā)展的步伐。特別是大功率的LED燈具都是在數(shù)安培甚至幾十安培的大電流條件下運(yùn)行的,這對整個發(fā)光系統(tǒng)的高溫可靠性提出了苛刻的要求。換言之,封裝技術(shù)(包括材料、工藝和高溫可靠性)已經(jīng)成為制約大功率LED照明技術(shù)大規(guī)模產(chǎn)業(yè)化推廣應(yīng)用的關(guān)鍵瓶頸問題。LED封裝中一個重要環(huán)節(jié)是LED芯片與熱沉的微連接。LED芯片與熱沉之間的互連焊層由于直接與芯片連接,受到LED器件(特別是功率型LED)在工作過程中的熱傳導(dǎo),容易產(chǎn)生老化和受溫度循環(huán)沖擊的作用,導(dǎo)致互連焊層的提前失效,進(jìn)而影響整個器件的壽命,因此對LED芯片與熱沉互連焊層的可靠性提出了更高的要求。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的目的是提供一種具有可靠性高、散熱性能好的專門針對大功率LED封裝使用的膜層。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種上述膜層的制備方法。
本發(fā)明的再一個目的是不使用任何助焊劑,保證封裝連接層的致密度,實現(xiàn)大功率LED的高導(dǎo)熱性的封裝方法。
本發(fā)明所述的大功率LED封裝使用的膜層為金屬/金屬多層膜;所述金屬為Al、Ni、Ti?、Pd和Si;金屬/金屬的原子比為1~3:1;金屬/金屬單層膜厚度50~200nm,金屬/金屬多層膜總厚度10~30μm。
本發(fā)明所述LED封裝使用的膜層制備方法:采用磁控濺射方法制備膜層,金屬靶材的純度均為99.99%,基底為60×30×1mm3黃銅片,濺射前用丙酮清潔基底,再用酒精擦拭,吹干,用Ar離子對基底進(jìn)行濺射清洗5min,本底真空6×10-3Pa,工作氣體為分析純Ar,濺射氣壓0.3Pa,直流濺射功率為1200~1800W,沉積時間為20~120秒,兩種金屬交替沉積成膜;沉積鍍膜完成后,將膜層從基底上剝離,即得到所述膜層。
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