[發(fā)明專利]貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310392957.0 | 申請日: | 2013-09-02 |
| 公開(公告)號: | CN103439339A | 公開(公告)日: | 2013-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊順 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 深圳市銘粵知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44304 | 代理人: | 楊林;李友佳 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 附有 偏振 液晶面板 缺陷 檢測 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及液晶顯示領(lǐng)域,更具體地講,涉及一種貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法。
背景技術(shù)
液晶顯示裝置(LiquidCrystalDisplay,LCD)具有機身薄、省電、無輻射等眾多優(yōu)點而被廣泛地應(yīng)用。液晶顯示裝置的具體構(gòu)造請參照圖1,其主要包括液晶面板10以及與該液晶面板10相對設(shè)置的背光模組20;其中,液晶面板10包括第一基板11以及與第一基板11面對設(shè)置的第二基板12,并且在第一基板11與第二基板12之間夾設(shè)液晶層13。靠近背光模組20設(shè)置的第一基板11通常為薄膜晶體管陣列基板,而遠(yuǎn)離背光模組20設(shè)置的第二基板12通常為濾色片基板。液晶層13包括若干液晶分子,但其本身并不發(fā)光,而是通過施加電壓來控制液晶分子的偏轉(zhuǎn)方向,并將背光模組20提供的光折射出來而產(chǎn)生畫面。
液晶分子是細(xì)長的棒狀分子,具有僅使沿某一方向偏動的光(偏振光)透過的性質(zhì)。背光模組20提供的光并不是僅沿特定方向振動的光,而是沿所有方向振動的自然光。因此,為了將這些沿所有方向振動的自然光變?yōu)檠靥囟ǚ较蛘駝拥墓猓枰诘谝换?1的與背光模組20面對的表面上貼附偏振片14,且亦需要在第二基板12的與第一基板11背對的表面上貼附偏振片15。
然而,在利用光學(xué)膜貼附設(shè)備貼附偏振片時,容易在偏振片與各個基板表面之間產(chǎn)生糊狀物、膜的切屑等異物以及空氣卷入形成的氣泡等缺陷,這就需要將這些存在的缺陷檢測出來。目前,所采用的檢測方法通常是在液晶面板貼附偏振片后利用點燈檢測,這種方法可以將貼附有偏振片的液晶面板中存在的缺陷作為亮點而檢測出來。但是在目前的點燈檢測方法中,由于點燈檢測設(shè)備和人力方面的成本限制,貼附有偏振片的液晶面板的抽檢無法全部進行檢查,而是按照一定的比例來進行抽檢,這樣就會造成具有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的漏檢,存在很大的風(fēng)險。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,本發(fā)明的目的在于提供一種貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測裝置,其中,所述缺陷檢測裝置包括:紅外圖像輸入裝置,獲取并輸出貼附有偏振片的液晶面板的圖像;信號處理裝置,根據(jù)貼附有偏振片的液晶面板的圖像與存儲在信號處理裝置中未有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的圖像的比較結(jié)果來獲得貼附有偏振片的液晶面板的預(yù)缺陷圖像,并且基于所述預(yù)缺陷圖像的尺寸和外形與存儲在所述信號處理裝置的對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸和外形的比較結(jié)果來判斷所述預(yù)缺陷圖像是否為偏振片與液晶面板之間的缺陷;報警裝置,基于所述信號處理裝置的判斷結(jié)果來判斷是否發(fā)出報警信號。
本發(fā)明的另一目的還在于提供一種貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測方法,所述缺陷檢測方法包括步驟:a)獲取貼附有偏振片的液晶面板的圖像;b)根據(jù)獲取的貼附有偏振片的液晶面板的圖像與未有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的圖像的比較結(jié)果來獲得貼附有偏振片的液晶面板的預(yù)缺陷圖像;c)基于所述預(yù)缺陷圖像的尺寸和外形與對比數(shù)據(jù)庫中的缺陷圖像的尺寸和外形的比較結(jié)果來判斷所述預(yù)缺陷圖像是否為偏振片與液晶面板之間的缺陷;d)基于步驟c)的判斷結(jié)果,判斷是否發(fā)出報警信號。
進一步地,當(dāng)所述預(yù)缺陷圖像的尺寸大于所述缺陷圖像的尺寸時,所述信號處理裝置判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷。
進一步地,當(dāng)所述預(yù)缺陷圖像的尺寸不大于所述缺陷圖像的尺寸時,所述信號處理裝置對所述預(yù)缺陷圖像的外形與所述缺陷圖像的外形進行比較,其中,當(dāng)所述預(yù)缺陷圖像的外形符合所述缺陷圖像的外形時,所述信號處理裝置判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷。
進一步地,當(dāng)所述信號處理裝置判斷所述預(yù)缺陷為所述缺陷時,所述報警裝置發(fā)出報警信號。
本發(fā)明通過在光學(xué)膜貼附設(shè)備內(nèi)增加缺陷檢測裝置,可對貼附有偏振片的液晶面板上存在的異物和/或氣泡進行實時檢測,極大地降低了具有缺陷的貼附有偏振片的液晶面板的漏檢的風(fēng)險,并且改善了偏振片貼附品質(zhì)的同時無需對貼附有偏振片的液晶面板進行點燈檢測,很大程度的減少人力、物力的投入,降低了生產(chǎn)成本,并提高了生產(chǎn)效率。
附圖說明
圖1是現(xiàn)有技術(shù)的一種液晶顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是根據(jù)本發(fā)明的實施例的貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測裝置。
圖3是根據(jù)本發(fā)明的實施例的貼附有偏振片的液晶面板的缺陷檢測方法流程圖。
具體實施方式
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





