[發明專利]發電機主軸磁軛面的測量方法

有效

• 申請號: 201310391334.1
• 申請日: 2013-09-02
• 公開（公告）號: CN103438781A
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發明（設計）人: 李勝勇;張烘炳;萬成超
• 申請（專利權）人: 宜賓富源發電設備有限公司
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及電機領域，具體涉及一種磁軛各等邊面到磁軛軸心距離的測量方法及該測量方法中使用的基準測量儀。

背景技術

電機主軸中的磁軛多加工成正多邊形。對于正多邊形磁軛每條邊所對應的外表面(以下簡稱為等邊面)，在加工時，既有尺寸要求，又有平面度、平行度、對稱度的要求。為使各等邊面滿足平行度和對稱度的要求，通常要求各等邊面與軸心線的距離相等。但在實際加工過程中，各等邊面與軸心線的距離并不能通過直接測量得到。

現有測量磁軛各等邊面到磁軛軸心線距離的測量方法為：首先，在磁軛兩端的電機主軸上分別選取一測量基準段，如圖1所示，量取測量基準段的直徑D₁和D₂。然后采用平板貼平等邊面，用內徑千分尺在平板和測量基準段外圓間循序試點、逐步靠近，直到測量得出等邊面兩端分別與兩測量基準段外圓之間的距離最小值，記為H₁和H₂。最后通過L₁＝D₁+H₁和L₂＝D₂+H₂計算得到該面兩端到軸心線的距離。

該方法中，H₁和H₂的獲取對測量人員的技能要求較高，測量過程全憑測量人員的感覺取得測量結果，且需要十次以上不斷調整內徑千分尺測微頭上的“微分筒”，才能找到最小值點。同時在微分筒端與工件或平板接觸，移動另一端向最小值點靠近的過程中，微分筒或尺身的旋轉調整，往往會導致微分筒與工件或基準平板接觸點移位，影響測量結果的準確性。因此，上述測量方法在測量H₁和H₂的過程中沒有直觀性，且費時、費力；同時不同工作人員利用上述測量方法得到的測量結果差別較大，當對測量結果有爭議時，很難得到統一。

由上可知，有必要提供一種提高測量準確性、測量過程直觀、提高測量效率、降低測量人員測量技能要求及在測量結果有爭議時能夠及時重復測量消除爭議的磁軛各等邊面到磁軛軸心距離的測量方法。

發明內容

本發明的目的在于提供了一種磁軛各等邊面到磁軛軸心距離的測量方法，該測量方法具有提高測量準確性、測量過程直觀、提高測量效率、降低測量人員測量技能要求及在測量結果有爭議時能夠及時重復測量消除爭議的優點。

根據本發明的一個方面，提供了磁軛各等邊面到其軸心線距離的測量方法，該方法采用一基準測量儀，所述基準測量儀包括一百分表、一緊固所述百分表的托盤、一基準平板和一固定連接所述托盤和所述基準平板的絲桿，所述百分表、托盤和絲桿的軸心在同一直線上且與所述基準平板的軸心垂直；所述測量方法包括如下步驟：

(一)確定比對基準值：

A、將所述基準測量儀的基準平板緊貼磁軛的第一等邊面，并使所述百分表的測頭與所述磁軛一端電機主軸的外表面接觸；

B、沿所述電機主軸軸心周向輕微轉動所述基準平板，所述百分表測頭隨所述基準平板周向轉動，同時觀測所述百分表的指示值，找出所述百分表的最小指示值并在所述電機主軸外表面上標記所述百分表測頭與其接觸的觸點位置，該觸點即為第一等邊面到所述電機主軸外表面的最小距離點；

C、在所述標記觸點位置，將所述百分表的0.01mm指針調零，并記錄所述百分表整數值指針示數的Z_基；

D、平移所述基準平板，利用內徑千分尺測量所述標記觸點到所述基準平板的最小距離H₁并進行記錄，多次測量所述標記觸點外圍各點與所述基準平板之間的距離，以確認H₁是否為最小值；若H₁為最小值，則Z_基＝H₁；若H₁不是最小值，則重復步驟A、B、C后進行H₁值的確認，直到所述H₁值為最小值；所述H₁值即為比對基準值；

(二)利用比對基準值測量其他等邊面到電機主軸外表面的距離：