[發明專利]基于System Verilog對TTCN-3進行編譯的方法及系統

有效

• 申請號: 201310390222.4
• 申請日: 2013-08-30
• 公開（公告）號: CN103473109A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 徐慧;李春林
• 申請（專利權）人: 北京中創信測科技股份有限公司
• 主分類號: G06F9/45
• 分類號: G06F9/45
• 代理公司: 北京鴻元知識產權代理有限公司 11327
• 代理人: 陳英俊

技術領域

本發明涉及計算機程序編譯技術領域，更為具體地，涉及一種基于System?Verilog對TTCN-3進行編譯的方法及系統。?

背景技術

TTCN（Testing?and?Test?Control?Notation，測試和測試控制表示法）是一個由ETSI（European?Telecommunications?Standards?Institute，歐洲電信標準化協會）維護的全球適用的標準測試語言。TTCN-3是被批準的第三代標準且靈活的語言，用于通過廣泛的接口描述許多類型的系統測試。?

TTCN-3給出了一種靈活和強有力的測試方法，它用于描述在多種通信端口上的各種響應系統測試。如果要在被測系統上運行TTCN-3測試例，需要使用專用編譯器對TTCN-3代碼編譯生成可執行碼，隨后在對應的運行環境下運行。當與不同的系統交互時，TTCN-3會使用一個特殊的實體建立起它和不同系統進行對話的橋梁，這個實體為CD模塊。TTCN-3測試系統需要CD模塊將TTCN-3類型值轉化為位串發送給被測系統，將從被測系統收到的數據轉化成合適的TTCN-3值。?

現有的使用VC等第三方工具對TTCN-3進行編譯的方法，可以歸類為通過構建TTCN-3的數據類型語法分析樹來提取信息。其構建過程依賴TTCN-3語法分析器，構建中需要對TTCN-3語法分析器做較大修改。語法分析器在大多數情況下并不顯示構建地語法分析樹，而編碼需要的是TTCN-3元以內代碼中特定數據定義語句的語法分析樹，因此這種方法在提取TTCN-3數據類型定義信息時，需要以整個TTCN-3語法樹作為查找基數來多次查找并匹配出有效的TTCN-3數據類型定義信息，整個過程是比較復雜的，需要大量的程序員手動操作，耗時長，出錯率也隨之增高。?

對一個TTCN-3上行端口數據結構的定義，端口名為G_L2_DATAMESSAGE_IND。?

在22#定義中，G_L2_DATAMESSAGE_IND聯合體中包含7個元素，每個元素分別在Layer3層中定義，若想解碼G_L2_DATAMESSAGE_IND數據，必須先行對Layer3層進行解碼。?

如第一個元素G_L2_UNITDATA_IND定義為record（記錄）類型，其中又包含7個子元素，在使用C語言進行解碼時，由于C語言中不存在record類型，需要將TTCN-3中的record數據類型轉化成C語言中的struct類型。TTCN-3的record數據中可以將元素標記為optional，表示在測試過程中該元素有可能出現也有可能不出現，此類元素在C語言解碼時需要為其設置相應的mask（標志），以此指示其出現與否，如31#定義中的subChannel元素。?

G_L2_UNITDATA_IND中的celld子元素為integer類型，等同于C語言中的int類型，在解碼過程中此元素可以直接寫入G_L2_UNITDATA_IND結構體中。而像MEASUREMENTREPORT類型的元素，由于其還包含下層子元素，所以需要先于G_L2_UNITDATA_IND對MEASUREMENTREPORT類型數據進行解碼，MEASUREMENTREPORT的定義如47#所示，可見其中仍包含C語言未知的數據類型，需要進一步解碼。?

以此類推，G_L2_DATAMESSAGE_IND需要至少8層的解碼才能將上行的位串轉化成TTCN-3的結構數據。G_L2_DATAMESSAGE_IND數據的定義為龐大的樹狀結構，每一層較上一層都增加大量的分支，全部解碼G_L2_DATAMESSAGE_IND數據需要近萬行的代碼量，是一個十分耗時耗力的工作。?

目前，用以克服TTCN-3上述缺點的一種方法是設計一種能夠將TTCN-3測試套編譯成C/C++等語言的測試系統，使用例如VC一類的編譯器，獲得可執行的測試套（ETS）、動態配置系統適配器、編解碼器和平臺適配器。然而，盡管將TTCN-3轉化成C/C++語言，該系統依然無法完全消除上述瓶頸問題。?

發明內容

鑒于上述問題，本發明的目的是提供一種基于System?Verilog對TTCN-3進行編譯的方法及系統，以解決目前利用C/C++或者java等語言對TTCN-3進行編譯時無法克服TTCN-3面對復雜SUT（System?Under?Test，被測系統）時所暴露的性能、容量和可靠性等問題。?

本發明提供一種基于System?Verilog對TTCN-3進行編譯的方法，包括：?