[發(fā)明專利]薄膜缺陷分類方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310387103.3 | 申請(qǐng)日: | 2013-08-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103439338A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐明;胡鑫成;鄒逸 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無(wú)錫金視界科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88 |
| 代理公司: | 江蘇英特東華律師事務(wù)所 32229 | 代理人: | 邵鋆 |
| 地址: | 214191 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜 缺陷 分類 方法 | ||
1.薄膜缺陷分類方法,其特征在于:包括以下步驟:
(1)提取目標(biāo)區(qū)域,利用全局閾值算法提取待檢測(cè)圖像內(nèi)的目標(biāo)區(qū)域;
(2)消除偽邊界,通過(guò)形態(tài)學(xué)腐蝕算法與膨脹算法剔除目標(biāo)區(qū)域的偽邊界;
(3)缺陷分類檢測(cè),根據(jù)缺陷的灰度與形態(tài)特征,利用動(dòng)態(tài)閾值算法結(jié)合形態(tài)學(xué)算法計(jì)算缺陷區(qū)域的特征參數(shù),以此對(duì)缺陷進(jìn)行分類。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜缺陷分類方法,其特征在于:所述(1)提取目標(biāo)區(qū)域包括以下步驟:
(1.1)根據(jù)前景區(qū)域與背景區(qū)域的灰度特征,選擇合適的全局閾值,利用閾值分割得到初始目標(biāo)區(qū)域;
(1.2)利用區(qū)域填充算法對(duì)初始目標(biāo)區(qū)域內(nèi)的空白區(qū)域進(jìn)行填充,得到完整的目標(biāo)區(qū)域。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜缺陷分類方法,其特征在于:所述(2)消除偽邊界包括以下步驟:
(2.1)利用形態(tài)學(xué)腐蝕算法消除目標(biāo)區(qū)域邊緣被光源衍射的邊界區(qū)域;
(2.2)利用形態(tài)學(xué)膨脹算法對(duì)步驟(2.1)誤消除的真實(shí)邊界區(qū)域進(jìn)行補(bǔ)償,得到真實(shí)或者接近真實(shí)的目標(biāo)邊界。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜缺陷分類方法,其特征在于:所述(3)缺陷分類檢測(cè)包括以下步驟:
(3.1)穿孔檢測(cè),將背景灰度值作為全局閾值分割得到穿孔區(qū)域,根據(jù)基于輪廓跟蹤技術(shù)的標(biāo)記算法對(duì)分散的穿孔區(qū)域進(jìn)行標(biāo)記,得到穿孔數(shù)目,分別計(jì)算穿孔區(qū)域的像素和以及中心坐標(biāo),得到穿孔尺寸和坐標(biāo);
(3.2)碳點(diǎn)檢測(cè),以步驟(3.1)穿孔區(qū)域的補(bǔ)集作為碳點(diǎn)檢測(cè)的目標(biāo)圖像,首先根據(jù)碳點(diǎn)與背景的灰度特征設(shè)置閾值偏移量,利用動(dòng)態(tài)閾值算法對(duì)目標(biāo)圖像進(jìn)行分割;然后根據(jù)碳點(diǎn)的圓度特征預(yù)設(shè)圓度閾值,如果檢測(cè)區(qū)域的圓度值大于預(yù)設(shè)的圓度閾值則作為碳點(diǎn)區(qū)域,否則作為非碳點(diǎn)缺陷轉(zhuǎn)至步驟(3.4);最后對(duì)碳點(diǎn)區(qū)域進(jìn)行標(biāo)記,得到碳點(diǎn)數(shù)目,計(jì)算碳點(diǎn)區(qū)域的像素和以及中心坐標(biāo),得到碳點(diǎn)的尺寸和坐標(biāo);
(3.3)色皺檢測(cè),以以步驟(3.1)穿孔檢測(cè)和步驟(3.2)碳點(diǎn)檢測(cè)得到的缺陷區(qū)域的補(bǔ)集作為色皺檢測(cè)的目標(biāo)圖像,根據(jù)色皺與背景的灰度特征設(shè)置閾值偏移量,利用動(dòng)態(tài)閾值算法對(duì)目標(biāo)圖像進(jìn)行分割得到色皺區(qū)域;對(duì)色皺區(qū)域進(jìn)行標(biāo)記,得到色皺數(shù)目;
?(3.4)褶皺檢測(cè),經(jīng)步驟(3.2)檢測(cè)得到的非碳點(diǎn)缺陷作為褶皺的檢測(cè)目標(biāo)區(qū)域,計(jì)算檢測(cè)目標(biāo)區(qū)域的骨架與面積,并計(jì)算兩者差值,設(shè)置該差值的閾值,若大于該閾值的檢測(cè)區(qū)域作為褶皺,否則作為非褶皺區(qū)域轉(zhuǎn)到步驟(3.5);
(3.5)異物檢測(cè),將步驟(3.4)檢測(cè)得到的非褶皺區(qū)域分類為異物。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的薄膜缺陷分類方法,其特征在于:所述的動(dòng)態(tài)閾值分割算法為:
動(dòng)態(tài)閾值算法將目標(biāo)區(qū)域的原始圖像中滿足閾值條件的像素區(qū)域作為分割結(jié)果,分割算法為:
其中,、、分別為原始圖像、閾值圖像和閾值分割結(jié)果,為閾值補(bǔ)償值。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
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G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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