[發明專利]基于EML的光模塊下行信道的調試方法和系統

有效

• 申請號: 201310382731.2
• 申請日: 2013-08-27
• 公開（公告）號: CN103475407A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 王斌;張華;吳錫貴;趙平
• 申請（專利權）人: 青島海信寬帶多媒體技術有限公司
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07
• 代理公司: 北京市京大律師事務所 11321
• 代理人: 張璐;方曉明

技術領域

本發明涉及光纖通信領域，尤其涉及一種基于EML的光模塊下行信道的調試方法和系統。

背景技術

近年來，隨著光纖通信技術的快速發展，光纖通信網絡越來越普及，市場對光纖通信網絡中光模塊的需求也越來越大，為了滿足市場需求，需要生產出大量的光模塊。

由于光模塊的性能直接影響光纖通信網絡的通信性能，因此在每個光模塊出廠之前，廠家需要對其性能進行調試，以使其滿足各種性能規格。

對于采用EML（Electro-Absorption?Modulators?Laser，電吸收調制激光器）作為發射光源的光模塊，由于EML發射的光信號往往用于進行長距離（例如，40千米、80千米等）的光通信，而光纖的色散等作用，會使得光信號通過光纖經過長距離的傳輸后會產生光通道代價的問題，因此，對基于EML的光模塊下行信道進行調試時，有必要對該光模塊的光通道代價進行調試。

目前，對基于EML的光模塊下行信道進行調試的硬件系統架構的示意圖，如圖1所示，可以包括：DCA（Digital?Communication?Analyzer，數字通信分析儀）101、BERT（Bit?Error?Ratio?Tester，誤碼率測試儀）102、標準光模塊103、光分路器104、固定光衰105、光開關106、短光纖107、長光纖108、可調光衰109、調試主機110、待調試的光模塊111、第一總線信號轉換電路112、第二總線信號轉換電路113。

其中，待調試的光模塊111中包括EML及其驅動電路，和MCU（Micro?Control?Unit，微控制單元）；MCU用于監控、獲取或發送待調試的光模塊111的狀態數據，或者接收指令并根據接收的指令控制待調試的光模塊111，或者通過總線通訊等。

調試主機110通過USB（Universal?Serial?Bus，通用串行總線）與第一總線信號轉換電路112相連接，第一總線信號轉換電路112通過IIC（Inter-Integrated?Circuit，交互集成電路）總線與待調試的光模塊111中的MCU相連；第一總線信號轉換電路112用于對USB信號與IIC總線信號進行互相轉換。調試主機110用于通過信號轉換電路112與待調試的光模塊111中的MCU通信，該通信過程可以包括：調試主機110向MCU發送指令或數據，或者從MCU讀取數據；從而實現調試主機110對待調試的光模塊111的控制。調試主機110可以是PC機。

BERT102與待調試的光模塊111中的EML的驅動電路相連，BERT102用于向待調試的光模塊111中的EML的驅動電路發送下行電信號。

待調試的光模塊111中的EML的驅動電路與EML相連接，用于為EML提供偏置電流，并將接收的下行電信號輸出給EML；

待調試的光模塊111中的EML用于將接收的下行電信號轉換成下行光信號后輸出；下行光信號的波長可以是1550nm，比特率可以為10Gbps（Gigabits?per?sencond，千兆位每秒）。

待調試的光模塊111中的EML與光分路器104的上行端光路相通，光分路器104，用于接收下行光信號，并將其分為第一下行光信號和第二下行光信號后輸出。

光分路器104的一個下行端與光開關106的輸入端光路相通，光開關106至少包含兩條光通路，該兩條光通路中分別連接有短光纖107和長光纖108，光開關106的輸出端可以通過可調光衰109與標準光模塊103中的ROSA（Receiver?Optical?Subassembly，光接收組件）光路相通；

第一下行光信號依次通過光開關106和可調光衰109被標準光模塊106中的ROSA接收，標準光模塊103中的ROSA用于將接收的第一下行光信號轉化成第一下行電信號輸出給與該ROSA相連接的限幅放大器。

標準光模塊103中的限幅放大器與BERT102相連接；該限幅放大器用于將接收的第一下行電信號放大后輸出給BERT102，BERT102還用于根據接收的放大后的第一下行電信號，測得待調試的光模塊111的光通道代價。

光分路器104的另一個下行端通過固定光衰105與DCA101光路相通；第二下行光信號通過固定光衰105被DCA101接收；DCA101用于根據接收的第二下行光信號，測得待調試的光模塊111的光眼圖模板裕量、光功率、消光比和交叉點。