[發明專利]一種修復出錯數據的方法和設備有效
| 申請號: | 201310381426.1 | 申請日: | 2013-08-28 |
| 公開(公告)號: | CN103455386B | 公開(公告)日: | 2016-11-23 |
| 發明(設計)人: | 鮑慧強;王大勇;王榮生 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/10 | 分類號: | G06F11/10 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138 | 代理人: | 黃厚剛 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 修復 出錯 數據 方法 設備 | ||
1.一種修復出錯數據的方法,其特征在于,所述方法包括:
當讀取固態硬盤包括的存儲塊中的數據時,對所述存儲塊的某個頁中的數據進行第一次錯誤檢查,獲取所述頁中出錯的數據;
如果所述頁中出錯的數據的第一個數小于或等于預設第一門限,則對所述頁中的數據進行錯誤檢查和糾正ECC修復;
如果所述第一個數大于所述預設第一門限,則根據所述頁中出錯的數據的存儲位置和所述存儲塊對應的固定表項,從備用空間中獲取數據,并將所述頁中出錯的數據替換為獲取的數據,所述固定表項包括所述備用空間中存儲的各數據的存儲位置。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述如果所述第一個數大于所述預設第一門限,則根據所述頁中出錯的數據的存儲位置和已存儲的固定表項,從備用空間中獲取數據,并將所述頁中出錯數據替換為獲取的數據之后,還包括:
對所述頁中的數據進行第二次錯誤檢查,獲取所述頁中出錯的數據;
如果所述頁中出錯的數據的第二個數小于或等于所述預設第一門限,則對所述頁中的數據進行ECC修復;
如果所述第二個數大于所述預設第一門限,則將所述存儲塊標記為壞塊,并根據所述頁的頁標識,從預設個數個存儲塊中獲取數據;
根據獲取的數據,判斷是否對所述頁中的數據進行獨立冗余磁盤陣列RAID修復,如果是,則對所述頁中的數據進行RAID修復。
3.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述存儲塊的某個頁中的數據進行第一次錯誤檢查,獲取所述頁中出錯的數據之后,還包括:
獲取所述存儲塊中的每個頁中出錯的數據的存儲位置;
獲取存儲位置相同的出錯的數據,并統計存儲位置相同的出錯的數據的出錯個數;
選擇出錯個數最大的第一預設數值個存儲位置,并將選擇的存儲位置存儲在所述存儲塊對應的臨時表項中。
4.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述存儲塊的某個頁中的數據進行第一次錯誤檢查,獲取所述頁中出錯的數據之后,還包括:
獲取所述頁中的每個存儲位置已出錯的數據;
根據所述頁中的每個存儲位置已出錯的數據,統計所述頁中的每個存儲位置已出錯的數據的出錯個數;
選擇出錯個數最大的第一預設數值個存儲位置,并將選擇的存儲位置和所述頁的頁標識存儲在所述存儲塊對應的臨時表項中。
5.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述存儲塊的某個頁中的數據進行第一次錯誤檢查,獲取所述頁中出錯的數據之后,還包括:
獲取所述存儲塊中的每個頁中出錯的數據的存儲位置;
獲取存儲位置相同的出錯的數據,并統計存儲位置相同的出錯的數據的出錯個數;
根據統計的出錯個數,從所述存儲塊中出錯的數據的存儲位置中選擇第二預設數值個存儲位置,并將選擇的存儲位置和其對應的頁標識存儲在所述存儲塊對應的臨時表項中。
6.如權利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述如果所述頁中出錯的數據的第二個數小于或等于所述預設第一門限,則對所述頁中的數據進行ECC修復之后,還包括:
獲取固態硬盤中的空閑存儲塊,根據所述空閑存儲塊對應的固定表項,將所述存儲塊中的數據搬移到所述空閑存儲塊中。
7.如權利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
將所述存儲塊對應的固定表項替換為所述存儲塊對應的臨時表項。
8.一種修復出錯數據的設備,其特征在于,所述設備包括:
第一獲取模塊,用于當讀取固態硬盤包括的存儲塊中的數據時,對所述存儲塊的某個頁中的數據進行第一次錯誤檢查,獲取所述頁中出錯的數據;
第一修復模塊,用于如果所述頁中出錯的數據的第一個數小于或等于預設第一門限,則對所述頁中的數據進行錯誤檢查和糾正ECC修復;
第一替換模塊,用于如果所述第一個數大于所述預設第一門限,則根據所述頁中出錯的數據的存儲位置和所述存儲塊對應的固定表項,從備用空間中獲取數據,并將所述頁中出錯的數據替換為獲取的數據,所述固定表項包括所述備用空間中存儲的各數據的存儲位置。
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