[發(fā)明專利]一種消光比的測量方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310380335.6 | 申請日: | 2013-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN103414512A | 公開(公告)日: | 2013-11-27 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陳文芬;魏正軍;王金東;張智明;郭健平;劉頌豪 | 申請(專利權)人: | 華南師范大學 |
| 主分類號: | H04B10/07 | 分類號: | H04B10/07 |
| 代理公司: | 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102 | 代理人: | 禹小明 |
| 地址: | 510631 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測量方法 系統(tǒng) | ||
1.一種消光比的測量方法,其特征在于,
產(chǎn)生兩個同步信號:調(diào)制信號和觸發(fā)電信號;
調(diào)制信號用于調(diào)制待測光模塊使其產(chǎn)生光脈沖,測量待測光模塊發(fā)出的光脈沖的光功率,計算出光脈沖衰減成為準單光子脈沖的衰減值,根據(jù)衰減值將光脈沖衰減成為準單光子脈沖,并輸入單光子探測器;
觸發(fā)電信號經(jīng)過時間的延遲后,用于觸發(fā)單光子探測器;
調(diào)節(jié)延遲時間,使得單光子探測器開門時對應準單光子脈沖的頂部,進行光子計數(shù),記錄單光子探測器讀數(shù)p;調(diào)節(jié)延遲時間,使得單光子探測器開門時對應準單光子脈沖的底部,進行光子計數(shù),記錄單光子探測器讀數(shù)q;
保持其他條件不變,在無光輸入的情況下測量單光子探測器的暗計數(shù)Cdark;
根據(jù)上述測得的光子計數(shù)和暗計數(shù),計算得到消光比EXT:
2.根據(jù)權利要求1所述的消光比的測量方法,其特點在于,調(diào)制信號的頻率為觸發(fā)信號頻率的正整數(shù)倍。
3.根據(jù)權利要求1所述的消光比的測量方法,其特征在于,使用脈沖信號源產(chǎn)生兩個同步信號:調(diào)制信號和觸發(fā)信號,采用光功率計測量待測光模塊發(fā)出的光脈沖的光功率,計算出光脈沖衰減成為準單光子脈沖的衰減值,根據(jù)衰減值,使用光衰減器將光脈沖衰減成為準單光子脈沖,并輸入單光子探測器;脈沖信號源產(chǎn)生的觸發(fā)電信號經(jīng)過信號延遲器進行時間的延遲后,用于觸發(fā)單光子探測器。
4.一種消光比的測量系統(tǒng),其特征在于,包括待測光模塊、光衰減器,單光子探測器,脈沖信號源,信號延遲器及光功率計;所述脈沖信號源產(chǎn)生兩個同步信號:調(diào)制信號和觸發(fā)電信號,其中調(diào)制信號用于調(diào)制待測光模塊使其產(chǎn)生光脈沖,采用光功率計測量待測光模塊發(fā)出的光脈沖的功率,計算出光脈沖衰減成為準單光子脈沖的衰減值,根據(jù)衰減值,由光衰減器將光脈沖衰減成為準單光子脈沖,并輸入單光子探測器;脈沖信號源產(chǎn)生的觸發(fā)電信號經(jīng)過信號延遲器進行時間的延遲后,用于觸發(fā)單光子探測器。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華南師范大學,未經(jīng)華南師范大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310380335.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種四維超混沌電路
- 下一篇:一種具有模式切換的LTE家庭基站用戶配對方法
專利文獻下載
說明:
1、專利原文基于中國國家知識產(chǎn)權局專利說明書;
2、支持發(fā)明專利 、實用新型專利、外觀設計專利(升級中);
3、專利數(shù)據(jù)每周兩次同步更新,支持Adobe PDF格式;
4、內(nèi)容包括專利技術的結構示意圖、流程工藝圖或技術構造圖;
5、已全新升級為極速版,下載速度顯著提升!歡迎使用!





