[發明專利]試樣缺陷識別系統有效
| 申請號： | 201310380058.9 | 申請日： | 2013-08-27 |
| 公開（公告）號： | CN103438799A | 公開（公告）日： | 2013-12-11 |
| 發明（設計）人： | 陳波 | 申請（專利權）人： | 上海美諾福實驗自動化有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/00 | 分類號： | G01B11/00;G01B11/255;G01B11/26;G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 吳開磊 |
| 地址： | 201999 上海市寶*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 試樣 缺陷 識別 系統 | ||
【權利要求書】：
1.一種試樣缺陷識別系統，其特征在于，包括：
基座，所述基座具有用于放置試樣的定樣部位；
設置于所述基座上的支架，所述支架包括有支架臂，所述支架臂具有端環；
能夠形成穩定光場的光源部件，所述光源部件設置于所述支架臂上，并位于所述定樣部位的上側；
用于采集部件參量信息的圖形采集組件，所述圖形采集組件安裝于所述端環內；
用于接收所述圖形采集組件發出的信號并與圖像分析設備連通的通信組件，所述通信組件設置于所述基座內部。
2.如權利要求1所述的試樣缺陷識別系統，其特征在于，所述光源部件包括LED發光二極管。
3.如權利要求1所述的試樣缺陷識別系統，其特征在于，所述光源部件固定于所述端環的下方。
4.如權利要求1所述的試樣缺陷識別系統，其特征在于，所述圖形采集組件包括：變倍放大鏡頭、工業攝像機和成像芯片，所述變倍放大鏡頭設置于所述工業攝像機上，所述工業攝像機與所述成像芯片信號連接。
5.如權利要求1所述的試樣缺陷識別系統，其特征在于，所述基座的定樣部位包括與試樣形狀相吻合的靠山臺，所述靠山臺設置于所述基座的上側。
6.如權利要求1所述的試樣缺陷識別系統，其特征在于，還包括：
套裝在所述試樣缺陷識別系統外圍的電磁防塵罩。
7.如權利要求1所述的試樣缺陷識別系統，其特征在于，還包括：
設置于所述基座底部的防震橡膠塊。
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