[發(fā)明專利]一種弱X光3D成像方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310379111.3 | 申請(qǐng)日: | 2013-08-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103411985A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-11-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 焦志偉;劉迎林;張有忱;丁玉梅;楊衛(wèi)民 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京化工大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N23/04 | 分類(lèi)號(hào): | G01N23/04 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 100029 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 成像 方法 | ||
1.一種弱X光3D成像方法,所用的裝置主要由弱X光射線源、透鏡模塊、被測(cè)物體模塊、探測(cè)陣列模塊、信號(hào)調(diào)理模塊、主計(jì)算機(jī)和反饋調(diào)節(jié)模塊組成,其特征在于,成像步驟如下:
步驟一:首先弱X光射線源發(fā)射一光束;
步驟二:使步驟一發(fā)射的X光束穿過(guò)透鏡模塊,轉(zhuǎn)化為平行光束;
步驟三:平行光束穿過(guò)被測(cè)物體模塊,轉(zhuǎn)化為線光源X光;
步驟四:線光源X光穿過(guò)探測(cè)陣列模塊,轉(zhuǎn)化為電流信號(hào);
步驟五:電流信號(hào)經(jīng)過(guò)信號(hào)調(diào)理模塊,轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào);
步驟六:主計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)字信號(hào)的采集;
步驟七:主計(jì)算機(jī)對(duì)被測(cè)物體模塊進(jìn)行反饋調(diào)節(jié);
步驟八:主計(jì)算機(jī)輸出3D圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種弱X光3D成像方法,其特征在于:探測(cè)陣列模塊中探測(cè)器系統(tǒng)采用的是光電二極管閃爍體探測(cè)器。
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G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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