[發明專利]片材分離運送裝置以及圖像形成裝置有效
| 申請號: | 201310377559.1 | 申請日: | 2013-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN103662885A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發明(設計)人: | 豐岡繼真;野中學;石川喜邦;久野悟志 | 申請(專利權)人: | 株式會社理光 |
| 主分類號: | B65H3/18 | 分類號: | B65H3/18 |
| 代理公司: | 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245 | 代理人: | 趙蓉民 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分離 運送 裝置 以及 圖像 形成 | ||
技術領域
本發明涉及分離載置的原稿或記錄用紙等的片材進行運送的片材分離運送裝置,以及設有該片材分離運送裝置的、打印機、復印機、傳真裝置、或組合上述功能的數字式復合機等的圖像形成裝置。
背景技術
上述那樣的各種圖像形成裝置一般從供紙部輸出供給片材(原稿、記錄用紙、普通紙、轉印紙、印刷用片材等的總稱),沿圖像形成部一邊運送一邊形成圖像后排出。因此,在供紙部設有片材輸出裝置,在圖像形成部設有運送該輸出的片材的片材運送裝置。
作為這種片材運送裝置,靜電吸附方式的裝置為人們所公知,環狀靜電吸附帶將多個片材狀電極(電極圖樣)埋入由橡膠或樹脂等具有可撓性的帶狀的絕緣材料構成的帶基材中,將所述環狀靜電吸附帶架設在多個輥上,通過使其周向回轉(以下,稱為“回轉”),運送片材。
使用該靜電吸附方式的技術例如記載在專利文獻1及專利文獻2中。
在專利文獻1中,公開了從載置的片材的最上面片材順序拾取供紙的供紙裝置。該供紙裝置對于卷繞在多個輥的電介質環形帶賦予交變電荷,通過擺動等使得該環形帶相對載置片材接近或接觸,將最上面片材吸附保持在環形帶后,通過使得該環形帶從載置片材離開的方向移動,分離該片材。
在專利文獻2中,記載了以下結構:在靜電吸附方式的供給裝置中,設有檢測供給的片材的物性值的物性值檢測手段,在吸附面形成電荷的電荷形成手段,以及控制手段,所述控制手段控制由電荷形成手段形成的電荷量,以及使得片材與吸附面接觸的時間,即,吸附時間,為此,設有能檢測帶上的電荷量的表面電位計。
但是,在上述專利文獻2記載那樣的以往使用靜電吸附的片材供給裝置中,為了檢測帶上的電荷量等的帶電狀態,在帶上使用電位計等檢測器。因此,存在在帶周圍需要空間且成本提高的課題。
【專利文獻1】日本特開平5-139548號公報
【專利文獻2】日本特開2003-237960號公報
發明內容
本發明是為了解決上述課題而提出來的,其目的在于,使得在靜電吸附供紙方式中必要的帶的帶電手段具有帶電狀態的檢測功能,實現帶周圍的省空間化,同時,不需要檢測器,降低成本。
為了實現上述目的,本發明提出一種片材分離運送裝置,其包括:
吸附分離單元,設有通過靜電吸附保持疊層的多張片材(片材束)的最上位的片材的帶;
充電機構,使得上述帶的表面帶電;以及
片材運送機構,運送通過上述靜電吸附保持的片材;
上述帶是環形帶,在片材運送方向包含吸附區域以及分割該吸附區域的非吸附區域;
上述充電機構具有接受電壓供給、與上述帶表面接觸的電極,以及檢測基于該電極接觸的上述帶表面的帶電狀態的帶電狀態檢測部。
下面說明本發明的效果:
按照本發明,在靜電吸附供紙方式必要的帶的充電機構,設有檢測基于電極與帶接觸的帶表面的帶電狀態的帶電狀態檢測部,因此,沒有必要在帶周圍安裝在以往技術中見到那樣的表面電位計等的檢測器。因此,能實現帶周圍的省空間化,不需要檢測器,能降低成本。
附圖說明
圖1是用局部側面圖形態表示本發明一實施形態涉及的片材分離運送裝置的整體構成的概略圖。
圖2A至圖2B表示圖1所示片材分離運送裝置的靜電吸附帶的局部,其中,圖2A是表示埋入在帶表面側(外周面側)的電極圖形的平面圖,圖2B是表示埋入在帶背面側(內周面側)的電極圖形的平面圖。
圖3A至圖3C表示圖2所示帶的截面結構,其中,圖3A是沿圖2A的I-I線看時的截面圖,圖3B是沿圖2A的II-II線看時的截面圖,圖3C是沿圖2A的III-III線看時的截面圖,用于說明靜電吸附片材的原理。
圖4是用于說明圖1的片材分離運送裝置的帶電用電極的形狀以及配置形態的立體圖。
圖5表示用于實現利用充電用的電極檢測帶的帶電狀態的方法的電路連接構成一例。
圖6A至圖6B表示圖5所示電路連接構成的等價電路,其中,圖6A表示接觸部分為吸附區域場合的等價電路,圖6B表示接觸部分為非吸附區域場合的等價電路。
圖7用于補充說明圖5及圖6所示檢測方法。
圖8表示用于實現利用充電用的電極檢測帶的帶電狀態的方法的電路連接構成另一例。
圖9A至圖9B表示圖8所示電路連接構成的等價電路,其中,圖9A表示接觸部分為吸附區域場合的等價電路,圖9B表示接觸部分為非吸附區域場合的等價電路。
圖10用于補充說明圖8及圖9所示檢測方法。
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