[發明專利]一種靜校正基準面確定方法

有效

• 申請號: 201310376586.7
• 申請日: 2013-08-26
• 公開（公告）號: CN103412333A
• 公開（公告）日: 2013-11-27
• 發明（設計）人: 鄭鴻明
• 申請（專利權）人: 鄭鴻明
• 主分類號: G01V1/36
• 分類號: G01V1/36
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 吳開磊

技術領域

本發明涉及石油地震勘探和煤礦地質勘探的技術領域，具體而言，涉及一種靜校正基準面確定方法。

背景技術

相關技術中，靜校正基準面有兩種，一種是水平基準面，即在近地表附近根據地表高程的變化給定一個明確的海拔高程面，然后將所有炮檢點一次性校正到這個基準面上；另一種是浮動基準面，通常是在地表高程變化比較大的情況下（如山前、山地及沙漠等地）為了減少靜校正量過大引起的波場畸變而定義的隨地表高程變化的基準面。水平基準面對于任何道集所有的炮檢點均在同一個平面上，滿足地震處理觀測面處在同一平面的基本理論，但難以滿足靜校正量最小原則；浮動基準面中不同的炮檢點高程不同，雖然減小了靜校正量的絕對值，但由于各炮檢點不在同一個水平面上，基于水平基準面推導各類波場的時距關系均不成立。

無論是水平基準面還是浮動基準面均難以做到靜校正量的絕對值達到最小，因此為了減小靜校正對波場時距關系的影響，往往還會借助CMP參考面，疊加或疊前偏移之前只進行與CMP參考面差的靜校正高頻部分，疊后再將剩余的靜校正中低頻部分（相對CMP參考面）校正，如此能夠滿足了靜校正量最小原則，但CMP參考面是一個時間域基準面，該時間域基準面轉換到空間域時，由于CMP參考面是通過平滑這種非線性算法所得到，因而是不可逆的,容易產生轉換誤差。

發明內容

本發明的目的在于提供一種靜校正基準面確定方法，以解決上述的問題。

在本發明的實施例中提供了一種靜校正基準面確定方法，包括：

獲取近地表的表層結構數據；

設定剝離量與填充量相等，根據獲取的所述表層結構數據利用靜校正量計算公式反算得到各炮檢點所對應的基準面高程；

將與各炮檢點所對應的基準面高程進行平滑得到空間域的靜校正浮動基準面；

按預設規則計算CMP道集內的各炮檢點所對應的基準面高程的均值，將計算得到的高程均值作為CMP道集的參考面。

本發明上述實施例的靜校正基準面確定方法，設定剝離量與填充量相等，使得各炮檢點的靜校正量為零，由此保證靜校正基準面滿足靜校正量最小原則，由此能夠將波場時距關系的畸變降到最低；進一步將與各炮檢點所對應的基準面高程進行平滑得到空間域的靜校正浮動基準面，該靜校正浮動基準面擁有精確的高程含義，在構造成圖時不需要對基準面時深轉換，直接在該靜校正基準面上進行疊前偏移，不需要用地表高程的平滑面替代。

在疊加之前的處理中，可以將相關的CMP道集對應的炮檢點高程均值作為CMP道集的參考平面，使得每個CMP道集均擁有各自的水平基準面，且這個基準面具有確切的高程含義，同樣也不需要進行基準面時間域到空間域的轉換，避免轉換帶來的誤差。

因此通過本發明實施例的靜校正基準面確定方法確定出的靜校正基準面為滿足靜校正量最小且為空間域的基準面，克服了相關技術中將時間域基準面轉換到空間域時容易產生轉換誤差的技術問題。

附圖說明

圖1示出了本發明實施例靜校正基準面確定方法的流程圖；

圖2示出了本發明實施例靜校正基準面確定方法的原理示意圖；

圖3示出了驗證本發明實施靜校正基準面確定方法效果的理論地質模型；

圖4示出了采用相關技術中的靜校正基準面確定方法確定出的靜校正基準面轉深后的剖面效果圖；

圖5示出了采用本發明實施例中的靜校正基準面確定方法確定出的靜校正基準面轉深后的剖面效果圖。

具體實施方式

下面通過具體的實施例子并結合附圖對本發明做進一步的詳細描述。

本發明實施例提供一種靜校正基準面確定方法，如圖1所示，主要處理步驟包括：

步驟S11：獲取近地表的表層結構數據；

步驟S12：設定剝離量與填充量相等，根據獲取的所述表層結構數據利用靜校正量計算公式反算得到各炮檢點所對應的基準面高程；

步驟S13：將與各炮檢點所對應的基準面高程進行平滑得到空間域的靜校正浮動基準面；

步驟S14：按預設規則計算CMP道集內的各炮檢點所對應的基準面高程的均值，將計算得到的高程均值作為CMP道集的參考面。

將與各炮檢點所對應的基準面高程進行平滑得到空間域的靜校正浮動基準面，包括：

所述表層結構數據包括：地形高差和近地表低降速層結構數據；

根據所述地形高差和所述近地表低降速層結構數據確定出平滑高程點數；

將確定出的所述平滑高程點數對反算得到的基準面高程進行平滑，得到一次靜校正的靜校正基準面。