[發明專利]光源設備、光源設備的控制方法、以及顯示設備

有效

• 申請號: 201310376555.1
• 申請日: 2013-08-26
• 公開（公告）號: CN103632637A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 栗田昌尚
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: G09G3/34
• 分類號: G09G3/34;G09G3/36
• 代理公司: 北京魏啟學律師事務所 11398
• 代理人: 魏啟學

技術領域

本發明涉及一種光源設備、該光源設備的控制方法、以及顯示設備。

背景技術

一些彩色圖像顯示設備包括具有彩色濾波器的彩色液晶面板、以及向該彩色液晶面板的背面照射白色光的光源設備(背光設備)。

傳統上，作為光源設備的光源，主要使用諸如冷陰極熒光燈(CCFL)等的熒光燈。然而，近來，發光二極管(LED)由于在電力消耗、產品壽命、顏色再現性和環境影響方面優良而已開始用于光源設備的光源。

使用LED作為光源的光源設備(LED背光設備)通常具有多個LED。日本特開2001-142409公開了包括各自具有一個或多個LED的多個發光單元的LED背光設備。日本特開2001-142409還公開了針對各發光單元來控制亮度。通過使向彩色圖像顯示設備的畫面中的顯示暗圖像的區域照射光的發光單元的發光亮度下降，電力消耗減少并且圖像的對比度提高。將與圖像的特性相對應的針對各發光單元的這種亮度控制稱為“局部調光控制”。

光源設備的一個問題是從發光單元發出的光的發光亮度的變化。例如，發光亮度因依賴于溫度變化的光源的發光特性的變化、或者因光源的老化而改變。在具有多個發光單元的發光設備的情況下，由于多個發光單元之間的溫度值和老化程度的偏差，因而在這些發光單元中產生發光亮度的偏差(亮度不均勻)。

作為用于減少發光亮度的這些變化和亮度不均勻的技術，已知有使用光學傳感器來調整發光單元的發光亮度的技術。具體地，配置用于檢測從光源設備發出的光中的、被該光源設備的光學片材(光學構件)反射并且返回至發光單元側的反射光的光學傳感器，并且基于該光學傳感器的檢測值來調整發光單元的發光亮度。在具有多個發光單元的發光設備中，使各發光單元順次變為ON(點亮)，針對各發光單元利用光學傳感器來檢測反射光，并且調整發光亮度。日本特開2011-27941公開了該技術。

發明內容

然而，在一個發光單元變為ON時的光學片材的發光側表面上的亮度分布在該光學片材彎曲的情況下發生改變。在現有技術中，沒有考慮到該變化，因而光學傳感器的檢測值由于光學片材的撓曲而大幅波動。結果，在使用現有技術的情況下，無法非常精確地調整發光單元的發光亮度。

本發明提供如下一種光源設備、該光源設備的控制方法、以及顯示設備，其中該光源設備、該光源設備的控制方法、以及顯示設備使得能夠獲取到不會因光學片材的撓曲而大幅波動的檢測值作為來自光學片材的反射光的檢測值，并且能夠非常精確地調整發光單元的發光亮度。

本發明的第一方面提供一種光源設備，包括：

光源基板，其上配置有一個或多個發光單元；

光學片材，用于反射來自所述發光單元的光；以及

檢測單元，用于檢測所述光學片材反射后的反射光，

其中，所述檢測單元配置在一個發光單元點亮時的由于所述光學片材的撓曲所引起的檢測值的變化量的絕對值為預定值以下的位置處。

本發明的第二方面提供一種顯示設備，包括：

所述光源設備；以及

液晶面板，用于從所述液晶面板的背面側接收來自所述光源設備的光。

本發明的第三方面提供一種光源設備，包括：

光源基板，其上配置有一個或多個發光單元；

光學片材，用于反射來自所述發光單元的光；以及

檢測單元，用于檢測所述光學片材反射后的反射光，

其中，所述檢測單元被配置成與所述光學片材的表面上的、一個發光單元點亮時的由于所述光學片材的撓曲所引起的該表面上的亮度的變化量的絕對值為預定值以下的位置相對。

本發明的第四方面提供一種光源設備的控制方法，所述光源設備具有：光源基板，其上配置有多個發光單元；光學片材，用于反射來自所述發光單元的光；以及多個檢測單元，用于檢測所述光學片材反射后的反射光，所述控制方法包括以下步驟：

點亮步驟，用于根據預定順序使多個所述發光單元逐一點亮；以及

檢測步驟，用于通過使用多個所述檢測單元中的配置在所述點亮步驟中一個發光單元點亮時的由于所述光學片材的撓曲所引起的檢測值的變化量的絕對值為預定值以下的位置處的檢測單元，來檢測所述光學片材反射后的反射光。

根據本實施例，可以獲取到不會因光學片材的撓曲而大幅波動的檢測值作為來自光學片材的反射光的檢測值，并且可以非常精確地調整發光單元的發光亮度。

通過以下參考附圖對典型實施例的說明，本發明的其它特征將變得明顯。

附圖說明