[發(fā)明專利]液晶玻璃基板45°角檢查法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310374536.5
• 申請(qǐng)日: 2013-08-26
• 公開（公告）號(hào): CN103439812A
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 閔蛟;吉田;郭巍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 成都中光電科技有限公司;東旭集團(tuán)有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 成都九鼎天元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51214
• 代理人: 巫敏;錢成岑

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種液晶玻璃基板45°角檢查法，尤其涉及一種通過光線折射來對(duì)玻璃表面進(jìn)行檢測(cè)的方法，屬于玻璃表面缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。

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背景技術(shù)

浮法建筑玻璃一般通過在線檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)，其工作原理為：照相設(shè)備與顯示屏電連接，照射燈箱產(chǎn)生一特定圖案的光源照射在浮法玻璃上，照相設(shè)備的攝像端正對(duì)該光源照射在浮法玻璃上的影像，顯示屏顯示該照相設(shè)備所攝的影像，若浮法玻璃上有缺陷，照射在浮法玻璃上而形成的特定圖案的影像在所述缺陷處就會(huì)發(fā)生變形或模糊不清，照相設(shè)備攝取到的影響皆顯示在顯示屏上，通過顯示屏可清洗的看到所述影像的變形或模糊不清，即可判斷該浮法玻璃存在有內(nèi)部缺陷。該浮法玻璃的檢測(cè)方法，著重于玻璃內(nèi)部缺陷的檢測(cè)。除此之外，浮法玻璃還可以通過使用透射光來進(jìn)行離線檢測(cè)，其檢測(cè)原理為：在光源透過玻璃時(shí)，質(zhì)檢員近距離觀察玻璃，用肉眼來直接觀察玻璃內(nèi)部是否有缺陷。

TFT（薄膜場(chǎng)效應(yīng)晶體管Thin?Film?Transistor的英文縮寫）是指液晶顯示器上的每一液晶象素點(diǎn)都是由集成在其后的薄膜晶體管來驅(qū)動(dòng)，對(duì)于TFT玻璃基板來說，TFT玻璃基板除了要檢測(cè)玻璃內(nèi)部缺陷外，用戶更加關(guān)注玻璃基板的表面質(zhì)量，因而對(duì)玻璃基板表面檢測(cè)提出更高要求，現(xiàn)有的浮法玻璃檢測(cè)方法并不能夠?qū)Ω》úＡП砻孢M(jìn)行有效的檢測(cè)。

對(duì)現(xiàn)有浮法玻璃的檢測(cè)來說，浮法玻璃直接用鹵素?zé)敉干浜笥萌庋蹤z測(cè)，憑借觀察者自身經(jīng)驗(yàn)來進(jìn)行檢測(cè)，因?yàn)辂u素?zé)艄饩€發(fā)出的強(qiáng)光如果通過光線直接觀察的話，眼睛的視野內(nèi)全是鹵素?zé)纛^發(fā)出的強(qiáng)光源；人在反射光正面觀察，其效果和原理類似于：用強(qiáng)光手電筒直射眼睛，不僅不能觀察到表面缺陷，還會(huì)對(duì)眼睛產(chǎn)生損害。

因此，這種憑經(jīng)驗(yàn)檢測(cè)的方式根據(jù)每個(gè)人檢查方式以及個(gè)人判斷能力不同，往往不能準(zhǔn)確、迅速的找出缺陷所在位置，并不能準(zhǔn)確、高效的對(duì)玻璃基板表面進(jìn)行直接觀察和檢測(cè)，在很大程度上影響玻璃基板的表面質(zhì)量，從而影響到整個(gè)玻璃產(chǎn)線的質(zhì)量。

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發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于：提供一種液晶玻璃基板45°角檢查法，能快速找到玻璃基板表面缺陷所在位置并作出判斷，避免現(xiàn)有浮法玻璃通過采用直接透射后用肉眼檢測(cè)內(nèi)部缺陷而存在的不足，保證了玻璃基板的內(nèi)部以及表面質(zhì)量，從而能有效的解決上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題。

本發(fā)明目的通過下述技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)：一種液晶玻璃基板45°角檢查法，包括以下檢測(cè)步驟：

第一步，將待檢查的玻璃基板放置于暗室檢查空間內(nèi)的可調(diào)節(jié)檢查裝置上；

第二步，打開鹵素?zé)?，調(diào)節(jié)鹵素?zé)粝涞目潭鹊組AX照度值，對(duì)玻璃基板進(jìn)行檢測(cè)；

第三步，調(diào)節(jié)鹵素?zé)羰沟名u素?zé)艄馀c玻璃基板呈夾角45°傾斜照射，在玻璃基板上方100-200mm處，質(zhì)檢員的人眼垂直于玻璃基板往下觀察；

第四步，移動(dòng)鹵素?zé)艄庠?，逐行掃描玻璃基板，找出缺陷位置?/p>

作為一種優(yōu)選方式，在第一步中，可調(diào)節(jié)檢查裝置是指能夠旋轉(zhuǎn)、左右擺動(dòng)的旋轉(zhuǎn)抽檢裝置。

作為一種優(yōu)選方式，在第二步中，用20000-30000LUX的光強(qiáng)對(duì)玻璃基板進(jìn)行檢測(cè)。

作為一種優(yōu)選方式，在第三步中，質(zhì)檢員通過滑軌鹵素?zé)粲^察裝置來保證人眼垂直于玻璃基板。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果：通過本發(fā)明45°角檢查法，能很快找到玻璃基板表面缺陷所在位置并作出判斷，避免現(xiàn)有的浮法玻璃直接透射后用肉眼檢測(cè)內(nèi)部缺陷的不足，提高了檢驗(yàn)員對(duì)玻璃基板表面缺陷檢測(cè)、判斷的準(zhǔn)確性，保證了玻璃基板的內(nèi)部以及表面質(zhì)量，大大提高檢驗(yàn)員的工作效率，提升產(chǎn)線節(jié)拍。

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附圖說明

圖1是本發(fā)明觀察時(shí)的原理示意圖。

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具體實(shí)施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

本說明書中公開的所有特征，或公開的所有方法或過程中的步驟，除了相互排斥的特質(zhì)和/或步驟以外，均可以以任何方式組合，除非特別敘述，均可被其他等效或具有類似目的的替代特征加以替換，即，除非特別敘述，每個(gè)特征之一系列等效或類似特征中的一個(gè)實(shí)施例而已。

實(shí)施例1?

如圖1所示，一種液晶玻璃基板45°角傾斜檢查法，包括以下檢測(cè)步驟：